作者：A.Glascott-Jones， M. Wingender， N. Chantier， G. Thepaut， J.P Amblard， E. Marcelot， e2V公司

模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）的使用在雷達(dá)和直接下變頻接收機(jī)等頻域應(yīng)用中正變得越來越普及。對這些高頻應(yīng)用來說，動態(tài)范圍和本底噪聲特別重要，這也為12位ADC的推廣提供了推動力。不需要外部下變頻器就能直接產(chǎn)生傳輸信號和直接轉(zhuǎn)換接收信號的吸引力是很明顯的，因?yàn)檫@種方案具有靈活性和元件數(shù)量減少的優(yōu)勢。對于元件面積和功耗等約束條件非常關(guān)鍵的航空和空間應(yīng)用中這一點(diǎn)尤其重要。

很長時間以來這種沒有混頻器的直接變頻一直是系統(tǒng)架構(gòu)師夢寐以求的產(chǎn)品，如今隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展，我們可以看到有許多商用元件能夠用來在更多的應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)這種系統(tǒng)。本文討論了高頻應(yīng)用要取得最好性能所需的變頻器特性，包括平坦的頻率響應(yīng)、高輸入帶寬、低輸入滿刻度電壓范圍以及針對多陣列系統(tǒng)調(diào)整參數(shù)的能力。文章還討論了與選擇高分辨率高速ADC有關(guān)的系統(tǒng)設(shè)計(jì)考慮因素。

直接下變頻架構(gòu)

直接下變頻接收機(jī)在實(shí)際通信系統(tǒng)和雷達(dá)應(yīng)用中越來越普及。諸如通信衛(wèi)星中繼器和合成孔徑雷達(dá)地球觀測系統(tǒng)等應(yīng)用可以從完整的直接變頻收發(fā)機(jī)的使用中受益匪淺。這種技術(shù)允許對整個脈沖式射頻頻譜進(jìn)行直接數(shù)字化，進(jìn)一步增強(qiáng)在一次快速傅里葉變換（FFT）掃描中可以觀察到的感興趣帶寬，從而給接收機(jī)性能帶來更大的靈活性。在這種情況下，一個單路ADC就可以替換多個通道的傳統(tǒng)中頻（IF）下變頻。

應(yīng)用

L頻段（1GHz到2GHz）有極好的氣象穿透能力，因此它的應(yīng)用非常多，包括通信衛(wèi)星中繼器、合成孔徑雷達(dá)（SAR）地球觀測系統(tǒng)、軍用空間監(jiān)視、導(dǎo)彈檢測和引導(dǎo)以及晴空對流層觀測。

遠(yuǎn)程檢測合成孔徑雷達(dá)是一種非常有趣的應(yīng)用，它使用天線與其目標(biāo)區(qū)域之間的相對運(yùn)動來執(zhí)行地形成像。在這種應(yīng)用中，高分辨率和高線性度以及精確調(diào)整采樣點(diǎn)相位的能力很重要。電子戰(zhàn)爭（EW）系統(tǒng)要求高采樣率、掃描盡可能和帶寬一樣寬的能力和低延時，以便快速捕獲數(shù)據(jù)。

多陣列波束成形應(yīng)用允許通過選擇方向來提高特定信號的增益，或者減少阻塞或干擾信號的影響。在這種情況下，相位控制功能非常重要，如圖1所示。

圖1：天線陣列接收機(jī)系統(tǒng)。

單內(nèi)核ADC

對于在L頻段應(yīng)用中使用的ADC來說，有兩個關(guān)鍵指標(biāo)很重要，即頻譜純度和本底噪聲。

頻譜純度：

真正的單內(nèi)核架構(gòu)具有很大的優(yōu)勢，因?yàn)樗恍枰獌?nèi)部交替就能達(dá)到1.5GS/s的更新速率。因此在擴(kuò)展溫度范圍內(nèi)工作之前或工作期間都無需校準(zhǔn)。（交替型ADC的一個特點(diǎn)是具有顯著的交替脈沖。偏移失配將產(chǎn)生一個固定頻率的脈沖。然而，增益和相位失配將產(chǎn)生取決于輸入信號頻率的雜散頻率。事實(shí)上，使用內(nèi)部交替的ADC經(jīng)常要求校準(zhǔn)來避免由于增益、偏移和采樣孔徑延時的失配而引起的無雜散動態(tài)范圍性能劣化。

從圖2所示的頻譜純度圖可以看到單內(nèi)核的優(yōu)勢。頻率的選擇要使主信號及其諧波在FFT圖中緊靠在一起。這樣可以使頻譜其它部分自由地顯示與任何其它非信號相關(guān)的雜散信號，比如時鐘脈沖。交替式ADC也許能很好地在這個區(qū)域顯示脈沖，但我們可以看到，單內(nèi)核具有無雜散區(qū)和90dBc的頻譜純度。

單內(nèi)核架構(gòu)在延時方面也有優(yōu)勢。例如，EV12AS200的延時可以低至3個時鐘周期，這在電子戰(zhàn)爭和跟蹤系統(tǒng)等應(yīng)用中非常有用。

圖2：EV12AS200的頻譜純度圖。

本底噪聲：

高帶寬ADC的信噪比背后的因子可以由下列公式確定：

其中，nqi是理想量化噪聲q/√12，nqd是與理想（DNL）的偏差。nthermal是熱白噪聲，njitter是總的抖動值，由內(nèi)部ADC抖動和外部時鐘抖動組成。

如果內(nèi)部時鐘抖動大約為100fs rms，這意味著外部時鐘的選擇應(yīng)實(shí)現(xiàn)至少具有這個抖動值的系統(tǒng)，理想情況下更小的抖動可以實(shí)現(xiàn)最佳的性能。下表給出了根據(jù)EV12AS200 ADC指標(biāo)計(jì)算噪聲性能的例子。

表1：典型的本底噪聲計(jì)算。

L頻段應(yīng)用中另外一個重要的考慮因素是，一直到第二奈奎斯特區(qū)的末端性能都應(yīng)保持穩(wěn)定。這也暗示帶寬應(yīng)覆蓋這個區(qū)域，而且諸如SFDR、三階互調(diào)指數(shù)和有效位數(shù)（ENOB）等性能參數(shù)應(yīng)保持平坦（見圖3）。

圖3：EV12AS200的有效位數(shù)值。

ADC功能

鑒于多陣列設(shè)計(jì)是這種類型ADC的一種重要應(yīng)用，ADC應(yīng)該能夠與陣列中的其它ADC匹配。因此增益、偏移和相位應(yīng)具有調(diào)整功能。例如，下面描述的功能是非常理想的：

ADC增益控制：精調(diào)（±5%），使用10位DAC（±0.5 LSB）

ADC偏移控制：精調(diào)（±5%），使用10位DAC（±0.5 LSB）

ADC采樣延時調(diào)整：30ps精調(diào)范圍，10位DAC：30fs步距

這些功能還能用來交替多個12位ADC（用于增加實(shí)際采樣率）。另外，在初始化過程中對齊多個通道的同步功能也很重要。這個功能還可以與觸發(fā)功能共享，允許外部數(shù)字輸入與模擬數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)時間上的同步。

由于輸出數(shù)據(jù)速率將接近內(nèi)部FPGA的極限，一個重要功能是要能解復(fù)用（DMUX）這個數(shù)據(jù)，以引入更多輸出端口的代價來降低數(shù)據(jù)速度。（EV12AS200提供1:2 DMUX解決方案）

另外一個重要功能是輸入電壓滿刻度范圍。ADC的諧波性能非常低，以致于輸入驅(qū)動器上不良的雜散電平會嚴(yán)重影響系統(tǒng)性能。如果ADC能夠接受低的輸入電壓，那么這個問題就能得以減輕。EV12AS200的輸入電壓范圍是500mVpp。

設(shè)計(jì)考慮

時鐘源和驅(qū)動系統(tǒng)的選擇很重要，因?yàn)槎秳邮怯?jì)算總噪聲的一個主要因素。要想取得最優(yōu)性能，100fs左右的抖動是比較理想的。這意味著源相位噪聲為150dBc/Hz或以下，任何時鐘緩沖器的附加抖動要遠(yuǎn)小于100fs。

PCB跟蹤也是關(guān)鍵點(diǎn)，模擬跟蹤應(yīng)與源（或負(fù)載）匹配，才能取得接近1的VSWR。數(shù)字跟蹤應(yīng)匹配到100Ω阻抗，長度也要匹配到好于±2.5mm，以確保接口FPGA的擺率偏差不會太大。FPGA接口也是系統(tǒng)的一個復(fù)雜部分。為了實(shí)現(xiàn)高數(shù)據(jù)速率，可能需要擴(kuò)展應(yīng)用內(nèi)部的串行/解串（SERDES）單元。

系統(tǒng)性能

系統(tǒng)性能可以通過后處理和實(shí)時技術(shù)進(jìn)一步增強(qiáng)，比如積分非線性（INL）校正和使用高頻振動（Dither）改善SFDR。

INL曲線形狀對ADC的諧波性能有很大的影響。通過表征這個INL并使用接口FPGA中的查找表（LUT）可以最大限度地減小INL，從而提升SFDR性能。查找表校正是一種簡單的減去或增加測量編碼得到的INL值。使用這種技術(shù)對FPGA的規(guī)模影響很小，對吞吐量沒有影響。在許多情況下，增加用于INL校正的查找表可以提高SFDR性能10dB。

向輸入數(shù)據(jù)中增加帶外噪聲源也能改善SFDR性能。這可以是簡單的一個經(jīng)過低通濾波后的噪聲發(fā)生器，通過使用多端口變壓器將它增加到輸入信號中。效果是在ADC輸入范圍內(nèi)移動輸入信號，有利于減少INL效應(yīng)，并提高SFDR（見圖4）。

圖4：使用高頻振動改善SFDR。

圖4上半部分的頻譜顯示了沒有附加抖動的諧波，下半部分圖顯示了帶高頻振動的諧波，可以看出雜散諧波有明顯減小。

關(guān)于作者

Andrew Glascott-Jones是位于法國格勒諾布爾的e2v公司混合信號ASIC業(yè)務(wù)部應(yīng)用工程師。Andrew在電子測量系統(tǒng)設(shè)計(jì)領(lǐng)域有近25年的豐富經(jīng)驗(yàn)，包括：精密測量，粒子尺寸調(diào)整，X射線成像和激光光譜學(xué)。e2v公司的混合信號ASIC業(yè)務(wù)部門主要為汽車、工業(yè)和醫(yī)療市場中的傳感器接口應(yīng)用設(shè)計(jì)和提供定制IC。Andrew負(fù)責(zé)e2v公司提供的開發(fā)套件，并在ASIC開發(fā)階段向客戶提供幫助。這些套件提供了I.P.模塊例子，有助于客戶在設(shè)計(jì)周期早期展示概念驗(yàn)證，并高效的預(yù)先開發(fā)完整的ASIC。

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