摘??要：本文從工藝設(shè)計、電氣設(shè)計和免清洗焊接工藝等方面探討了SMB的可測性設(shè)計。
關(guān)鍵詞：表面貼裝電路板；可測性設(shè)計；表面貼裝技術(shù)
?????????????? Design for Testability of Surface Mount Board
??????????????????????XIAN Fei
?????????? (Fiberhome Telecommunication Co.,Ltd, Wuhan 430074,China)
Abstract: Design for testability of SMB are discussed from Processes Design、Electric Design and No-clean Soldering Process.
Keywords: SMB; DFT; SMT????????????????????????????
????SMT的高組裝密度使得傳統(tǒng)的測試方法陷入困境，在電路和SMB設(shè)計階段就進行可測性設(shè)計是當今業(yè)界所普遍采用的方法，其目的是提高產(chǎn)品質(zhì)量，降低測試成本和縮短產(chǎn)品的制造周期。就可測性設(shè)計DFT（Design For Testability）的概念而言，是一個包括集成電路的可測性設(shè)計（芯片設(shè)計）、系統(tǒng)級可測試性設(shè)計、板級可測試性設(shè)計以及電路結(jié)構(gòu)的可測試性設(shè)計等方面的新興的系統(tǒng)工程。它與現(xiàn)代的CAD/CAM技術(shù)緊密地聯(lián)系在一起，對電子產(chǎn)品的質(zhì)量控制，提高產(chǎn)品的可制造性，降低產(chǎn)品的測試成本，縮短產(chǎn)品的制造周期起著至關(guān)重要的作用。SMT的可測性設(shè)計主要是針對目前ICT裝備情況。將后期產(chǎn)品制造的測試問題在電路和表面安裝印制板SMB設(shè)計時就考慮進去。
可測性設(shè)計的考慮
提高可測性設(shè)計要考慮工藝設(shè)計和電氣設(shè)計兩個方面的要求。
一、工藝設(shè)計的要求
定位的精度、基板制造程序、基板的大小、探針的類型都是影響探測可靠性的因素。
1．精確的定位孔。在基板上設(shè)定精確的定位孔，定位孔誤差應(yīng)在±0.05mm以內(nèi)，至少設(shè)置兩個定位孔，且距離愈遠愈好。采用非金屬化的定位孔，以減少焊錫鍍層的增厚而不能達到公差要求。如基板是整片制造后再分開測試，則定位孔就必須設(shè)在主板及各單獨的基板上。
2．測試點的直徑不小于0.4mm，相鄰測試點的間距最好在2.54mm以上，不要小于1.27mm。
3．在測試面不能放置高度超過6.4mm的元器件，過高的元器件將引起在線測試夾具探針對測試點的接觸不良。
4．最好將測試點放置在元器件周圍1.0mm以外，避免探針和元器件撞擊損傷。定位孔環(huán)狀周圍3.2mm以內(nèi)，不可有元器件或測試點。
5．測試點不可設(shè)置在PCB邊緣4mm的范圍內(nèi)，這4mm的空間用以保證夾具夾持。通常在輸送帶式的生產(chǎn)設(shè)備與SMT設(shè)備中也要求有同樣的工藝邊。
6．所有探測點最好鍍錫或選用質(zhì)地較軟、易貫穿、不易氧化的金屬傳導物，以保證可靠接觸，延長探針的使用壽命。
7．測試點不可被阻焊劑或文字油墨覆蓋，否則將會縮小測試點的接觸面積，降低測試的可靠性。
二、電氣設(shè)計的要求
1．要求盡量將元件面的SMC/SMD的測試點通過過孔引到焊接面，過孔直徑應(yīng)大于1mm。這樣可使在線測試采用單面針床來進行測試，從而降低了在線測試成本。
2． 每個電氣節(jié)點都必須有一個測試點，每個IC必須有POWER及GROUND的測試點，且盡可能接近此元器件，最好在距離IC 2.54mm范圍內(nèi)。
3．在電路的走線上設(shè)置測試點時，可將其寬度放大到40mil 寬。
4．將測試點均衡地分布在印制板上。如果探針集中在某一區(qū)域時，較高的壓力會使待測板或針床變形，進一步造成部分探針不能接觸到測試點。
5．電路板上的供電線路應(yīng)分區(qū)域設(shè)置測試斷點，以便于電源去耦電容或電路板上的其它元器件出現(xiàn)對電源短路時，查找故障點更為快捷準確。設(shè)計斷點時，應(yīng)考慮恢復(fù)測試斷點后的功率承載能力。
????下圖所示為測試點設(shè)計的一個示例。通過延伸線在元器件引線附近設(shè)置測試焊盤或利用過孔焊盤測試節(jié)點，測試節(jié)點嚴禁選在元器件的焊點上，這種測試可能使虛焊節(jié)點在探針壓力作用下擠壓到理想位置，從而使虛焊故障被掩蓋，發(fā)生所謂的“故障遮蔽效應(yīng)”。由于探針因定位誤差引起的偏晃，可能使探針直接作用于元器件的端點或引腳上而造成元器件損壞。

圖1??測試點設(shè)計示例
免清洗焊接工藝的考慮
????目前電子組裝業(yè)大部分都采用免清洗焊接工藝。實行免清洗工藝，必須保證其與在線測試尤其是針床測試的兼容性，使探針能扎透助焊劑殘留物。由于目前的免清洗焊膏絕大部分并不是針對雙回流焊探針測試技術(shù)而開發(fā)，通常殘留物在回流焊后會馬上變硬/不粘手，在隨后的在線測試中被探針扎透而變成碎屑，粘附在測試夾具及探針頭上，使探針測試越來越困難，最終導致電氣接觸失效。因此，為與在線測試良好兼容，應(yīng)選擇面向雙面回流焊技術(shù)的低殘留焊膏，具體要求為：固態(tài)物質(zhì)質(zhì)量分數(shù)在3%以下；殘留物應(yīng)擴散一致，一般應(yīng)無色透明；殘留物經(jīng)回流焊后應(yīng)軟而不粘，即使在某些焊點上有輕微殘留物堆積，也不會影響探針測試；同時在選擇探針上也要有所考慮，如對焊縫下凹的的互連通孔（VIA），因其易積聚殘留物，所以應(yīng)選擇特殊的探針，一般應(yīng)選擇三點鑿子型探針，以便探針能扎在鍍通孔的外緣而不必去扎下凹焊縫內(nèi)堆積的殘留物。目前，已有與探針測試良好兼容的面向雙回流焊技術(shù)的免清洗焊膏問世：在不清洗的前提下，一次接觸完好率可達99%。
????在考慮到其它因素后，剩下的就是對探針進行定期清洗，一般3~4周，也可根據(jù)實際情況調(diào)整，以保證測試的良好接觸。
結(jié)束語
????在具體的產(chǎn)品設(shè)計中會遇到許多不同情況，可依據(jù)前面所規(guī)定的設(shè)計原則去靈活運用。SMT的可測性設(shè)計工作還處探索之中，尚需廣大科技人員和工藝技術(shù)人員努力去研究這一新課題。