由于示波器是設計方面(尤其是信號完整性方面)至關重要的工具，設計人員應熟悉示波器的指標及它們影響測量的方式。讓我們觀察一下最重要的三大因素：上升時間、采樣率和帶寬，從而對它們進行更深入的了解。

　　上升時間：示波器的上升時間越快，測量到的上升時間就越準確。但是，當示波器的帶寬或上升時間和信號的上升時間彼此更接近時，會怎樣呢?有人曾用經(jīng)驗法則(如：0.35/上升時間)來計算所需的示波器帶寬，但這種經(jīng)驗法則只適用于某些示波器的前端設計，并且通常不適用于當今為高速串行數(shù)據(jù)速率和伴隨的快速上升時間而優(yōu)化的前端設計。

　　應當注意的是，具有相同帶寬性能的兩臺示波器可以具有完全不同的上升時間、幅度和相位響應。所以，僅了解示波器的帶寬無法可靠地揭示出其測量性能。此外，通過計算確定的上升時間可能也不準確。了解示波器上升和下降時間響應的最可靠方法是，使用一個比被測示波器信號快得多的理想的階躍信號對其進行測量。

　　在使用DPO/DSA73304D的情況下，使用這種方法確定出9ps的上升時間。但是，信號速度可以被測量的意思是什么呢?根據(jù)正確的經(jīng)驗法則，信號上升時間與示波器上升時間的比值為2x或>18ps。事實證明，對于當今最快的FPGA設計中使用的28Gb/s的串行解串器(SerDes)而言，這是指定的上升時間。

　　采樣率：因為更快的采樣率將帶來更多的波形細節(jié)，所以這一因素非常重要。另一方面，對最快的信號而言，采樣率不足可能導致欠采樣。DPO/DSA73304D提供了一流的采樣率性能。利用交錯技術提供的采樣率性能可將雜散高頻的影響降至最低，該技術采用的是8路采樣/保持方法。參見圖4中的數(shù)據(jù)，可得出成功和失敗執(zhí)行的交錯技術的差異。

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　　奈奎斯特定理(Nyquist theorem)指出，采樣系統(tǒng)應以輸入信號最高頻率的2倍以上進行采樣。雖然這是最低的起點，但是在任何情況下，采樣率越高，結果越準確。通過使用2.5倍于輸入頻率的較高采樣率或更高的采樣率，可以提供更多的感興趣信號上的采樣點，且能避免混疊。對于極高速信號的表征而言，這將特別重要。

　　圖5顯示了較高的采樣率值。黃 色跟蹤線(C1)在50GS/s上，而白色跟蹤線(R1)在100GS/s上。過采樣的原因包括：為確保信號中已知和未知的高頻部分被捕獲，且沒有混疊;為實現(xiàn)卓越的定時分辨率(特別是快速瞬態(tài)信號或邊緣上的定時分辨率);作為一種減少測量中噪聲的手段，采樣過密會減少示波器模數(shù)轉(zhuǎn)換時附帶產(chǎn)生的量化噪聲。

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　　帶寬：示波器必須有足夠的帶寬來捕捉高頻部分，以便準確地顯示信號的轉(zhuǎn)換。但是，當銷售商為帶寬需求進行善意提示，推薦5次諧波時，事情在不斷發(fā)生變化。邊沿速率(上升/下降時間)的變化并沒有與數(shù)據(jù)速率的變化同步。這意味著，所需的最大帶寬受上升時間的影響更大。例如，目前第三代規(guī)格的上升時間在30ps的范圍內(nèi)。隨著速率的不斷提高，這似乎并沒有很大變化，這表明，相對于數(shù)據(jù)速率的信號諧波含量正在下降。

　　設定垂直量程：除帶寬、采樣率和上升時間外，對高性能示波器來說，觀察當前高頻信令中常見的低壓信令非常重要。在這一領域中，DPO/DSA70000D系列提供了無可比擬的靈活設定垂直量程的能力，是唯一提供可變端接電壓(Vterm)的高性能示波器。在傳統(tǒng)上，示波器輸入一直是接地的，而被測信號通常沒有參考地電平。多種現(xiàn)代應用(包括DC耦合信號應用)現(xiàn)在要求具有正或負的端接電壓才能運行和檢測。把這些高速信號引到大地至少會損害測量結果，要求專用夾具電平移位和/或衰減信號，則可能會損壞被測器件(DUT)。

　　過去，調(diào)節(jié)測量系統(tǒng)的端接電壓需要采用專用探頭或定制衰減器網(wǎng)絡，這引入了額外的測量噪聲，需要額外的成本。DPO/DSA70000D系列為DUT提供了高達±3.4V的可變Vterm，并在前端MCM采用了分路電路設計，支持較大的偏置范圍。

　　用戶可以調(diào)節(jié)示波器、鏡像DUT的條件和特點，在其最終運行的類似環(huán)境中測量高速信號，而沒有引入衰減或可能使信號失真的定制電路。

　　隨著現(xiàn)代高速信號的電壓范圍下降，工程師還需要具有廣闊靈活的測量視角。DPO/DSA70000D系列與Vterm功能相結合，提供了±3.4V的擴展偏置范圍。這不僅是一種放大功能，還可以在全部動態(tài)范圍查看和測量可變電壓。通過結合使用Vterm和偏置，把示波器的參考點中心放在DUT工作范圍的參考點上，可以使可用的動態(tài)范圍達到最大，并使測量系統(tǒng)的噪聲達到最小。

　　精確性和強大的捕獲能力

　　高性能技術應用正在推動現(xiàn)代測試設備的發(fā)展。硅檢定、串行數(shù)據(jù)一致性測試、光學調(diào)制分析、雙倍數(shù)據(jù)速率(DDR)存儲器和寬帶RF檢驗等任務，不僅要求具有杰出的帶寬、采樣率和信號保真度，還要求具有巨大的靈活性，來調(diào)節(jié)示波器的測量條件和視角。

　　泰克DPO/DSA70000D系列示波器在實時示波器中同時實現(xiàn)了行業(yè)領先的信號完整性和定時精度，使用戶能夠更準確的、以更高的信心來完成設計，設計人員能夠：利用業(yè)界最精準的采集系統(tǒng)，發(fā)現(xiàn)感興趣的重要信號。此類采集系統(tǒng)的特征是采用了在示波器和探頭中使用的可靠鍺化硅技術;使用市場上最廣泛的觸發(fā)系統(tǒng)，捕獲高速信號評估所需的精確的信號事件;利用高采樣率搜尋記錄，以確定關鍵事件/誤差，用于系統(tǒng)驗證;評估要求正或負端接電壓的DC耦合信號，而不會把信號牽引到地或損壞被測器件;利用30GHz以上的示波器中最高的信噪比，快速分析關鍵測量結果。它能夠提供高靈敏度、低噪聲的測量結果，從而為進行精確的高速光學、能量和串行數(shù)據(jù)測量定性分析提供依據(jù)。

　　尖端軟件與DPO/DSA70000系列平臺上的用戶界面工具相結合，為復雜測量方案(包括調(diào)試/分析)提供了最短的快速響應時間。DPO/DSA73304D通過與高帶寬、高采樣率和快速上升時間相結合，可以為現(xiàn)今最高的信號完整性測量需求而進行特別的量身定做。