LCR測試儀，L：電感（為了紀(jì)念物理學(xué)家Heinrich Lenz），C：電容（Capacitor），R：電阻（Resistance），LCR數(shù)字電橋就是能夠測量電感，電容，電阻，阻抗的儀器。

　　隨著現(xiàn)代模擬和數(shù)字技術(shù)的發(fā)展，早已經(jīng)淘汰了LRC電橋這種測量方法，但LCR電橋的叫法一直沿用至今。如果是使用了微處理器的LCR電橋則叫LCR數(shù)字電橋。一般用戶又稱這些為：LCR測試儀、LCR電橋、LCR表、數(shù)字電橋、LCR Meter等等。

　　電橋測試儀測量原理

　　Vx與Vr均是矢量電壓表，Rr是理想電阻。自平衡電橋的意思是：當(dāng)DUT（Device Under Test）接入電路時，放大器的負(fù)反饋配置自動使得OP輸入端虛地。Vx準(zhǔn)確測定DUT兩端電壓（DUT的Low電位是0），Vr與Rr測得DUT電流Ix，由此可計(jì)算Zx。

　　HP4275的測試端Hp，Hc，Lp，Lc（下標(biāo)c代表current， 下標(biāo)p代表Potentail），Guard（接地）的配置可導(dǎo)致測試的誤差的差異。

　　提高精度的方法是：

　　1、Hp，Lp，Hc，Lc盡量接近DUT;

　　2、減小測試電流Ix的回路面積&磁通量（關(guān)鍵是分析Ix，要配合使用Guard與Cable最小化回路面積）;

　　3、使用Gurard與Cable構(gòu)建地平面中斷信號線間的電場連接，雖然會增加信號線的對地電容（對地電容不影響測試結(jié)果），但是會減少信號線的互容。

　　Guard與Cable的對地寄生阻抗（Zhg，Zlg） 不影響測試結(jié)果，電橋平衡時Zlg的兩端電壓是0，流向Rr的電流不會被Zlg分流，Zhg的分流作用不影響Hp的電壓測量。

　電橋測試儀使用方法

　　LCR測試儀一般用于測試電感和電容。測量步驟如下：

　　設(shè)置測試頻率

　　測試電壓或者電流水平

　　選擇測試參數(shù)，比如Z、Q、LS（串聯(lián)電感）、LP（并聯(lián)電感）、CS（串聯(lián)電容）、CP（并聯(lián)電容）、D等

　　儀器校準(zhǔn)，校準(zhǔn)主要進(jìn)行開路、短路校準(zhǔn)，高檔的儀器要進(jìn)行負(fù)載校準(zhǔn)

　　選擇測試夾具

　　夾具補(bǔ)償

　　將DUT放在夾具上開始測試。