今天為大家介紹一項國家發(fā)明授權專利——一種用于坐標測量機的盤類工件檢測工位調整工裝。該專利由中國科學院長春光學精密機械與物理研究所申請，并于2017年9月19日獲得授權公告。

內容說明

本發(fā)明涉及檢測工裝的技術領域，特別提供了一種用于坐標測量機的盤類工件檢測工位調整工裝。

發(fā)明背景

在使用坐標測量機對盤類工件（如光機系統(tǒng)中的鏡框組件）的尺寸及形位誤差檢測過程中，因待檢元素常沿工件周向分布于不同位置，且在工件頂面及底面常同時存在待檢元素，受坐標測量機探頭空間布置限制，僅單一檢測工位通常無法完成全部待檢元素的檢測，即在檢測過程中需多次改變檢測工位以完成全部待檢元素的檢測。

常用檢測工位轉換的方式為手動調整待檢盤類工件的空間位置，采用手動調整即無法保證待檢盤類工件水平旋轉或空間翻轉后的重復定心，定心不準確將影響檢測結果的可靠性，且對于尺寸與質量較大的盤類工件，采用手動的方式難以進行空間翻轉。

因此，研發(fā)一種可以解決上述問題的調整工裝，成為人們亟待解決的問題。

發(fā)明內容

鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種用于坐標測量機的盤類工件檢測工位調整工裝，以至少解決對于尺寸與質量較大的盤類工件，手動進行空間翻轉困難等問題。

本發(fā)明提供的技術方案具體為：一種用于坐標測量機的盤類工件檢測工位調整工裝，包括：基座1；升降裝置21，其固定設置于所述基座1上；翻轉裝置22，其位于所述基座1的上方，與所述升降裝置21連接；其特征在于，所述翻轉裝置22包括，第一導向軸223，其下端與所述基座1固定連接，其外部滑動套裝有第一襯套224；第二導向軸229，其下端與所述基座1固定連接，且所述第二導向軸229的高度小于所述第一導向軸223的高度；翻轉支架222，其外周間隔加工有光孔和導向柱，其中，所述光孔和導向柱的個數均為兩個，兩個導向柱呈180°布置，兩個光孔以所述兩個導向柱的連線為軸呈鏡面對稱布置，所述兩個光孔中的一個光孔滑動套裝于所述第二導向軸229上，所述兩個導向柱分別與所述升降裝置21和所述第一襯套224轉動連接。

優(yōu)選，所述基座1包括：底板13，其上加工有中心孔，所述中心孔的周向間隔均布有固定銷孔；旋轉板14，位于所述底板13的上方，其上設置有與所述固定銷孔匹配的固定銷釘15；帶法蘭軸承16，設置于所述底板13和所述旋轉板14之間，其一端外套與所述底板13的中心孔外沿固定連接，另一端內套與所述旋轉板14固定連接。

進一步優(yōu)選，所述基座1還包括：兩條平行設置的直線導軌11；導軌滑塊12，其固定設置于所述底板13的下方兩側，且與所述直線導軌11滑動連接。所述升降裝置21包括：滾珠絲杠，其包括絲桿216和螺紋套裝于所述絲桿216外部的絲杠支座214，所述絲桿216下端通過第一軸承217與所述基座1轉動連接；升降支架213，其套裝于所述滾珠絲杠的外部，且所述升降支架213的下端與所述基座1固定連接，上部通過第二軸承215與所述絲桿216轉動連接。

進一步優(yōu)選，所述升降裝置21還包括：手輪211，其固定連接于所述絲桿216的上端。所述兩個導向柱分別通過翻轉裝置與所述升降裝置21和所述第一襯套224轉動連接，其中，所述翻轉裝置包括：翻轉座，其內部設置有腔體；第三軸承，其設置于所述翻轉座的腔體內，且所述第三軸承的外套與所述腔體的內側壁固定連接，所述第三軸承的內套固定套裝于所述導向柱外部；軸承頂板，其設置于所述翻轉座腔體的端口處，套裝于導向柱的外部且與所述第三軸承相抵。所述兩個光孔均位于所述兩個導向柱連線的中點垂線上。

本發(fā)明提供的用于坐標測量機的盤類工件檢測工位調整工裝，其可以適用于尺寸與質量較大的盤類工件在空間的自動翻轉，將盤類工件裝載于翻轉裝置中的翻轉支架上，通過升降裝置驅動翻轉支架沿著第一導向軸和第二導向軸進行上、下升降運動，當需要進行盤形工件的翻轉操作時，由升降裝置驅動翻轉支架向上運動，使翻轉支架中的光孔脫離第二導向軸，然后繼續(xù)由升降裝置沿第一導向軸向上提升翻轉支架，當翻轉支架具有翻轉空間時，轉動翻轉支架180°，使翻轉支架中的另一光孔位于第二導向軸的上方，然后升降裝置下放翻轉支架，使翻轉支架中另一光孔套裝于第二導向軸上，完成翻轉工作，同時該空間翻轉的操作是在翻轉支架兩端導向柱位置不變的情況下進行的，因此還可以確保翻轉前后盤類工件的同心性，可實現重復定心。

本發(fā)明提供的用于坐標測量機的盤類工件檢測工位調整工裝，具有結構簡單，設計合理，空間利用率低，安裝便捷，效率高，裝配周期短，成本低等優(yōu)點。