領(lǐng)先的半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)智庫(kù),芯謀研究從市場(chǎng)化和產(chǎn)業(yè)化的角度拋磚引玉,淺析新形勢(shì)下中國(guó)集成電路產(chǎn)業(yè)的機(jī)遇與挑戰(zhàn)。 機(jī)遇 這是最好的時(shí)代。新的時(shí)代,電子產(chǎn)業(yè)由單一產(chǎn)品驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)向更適合中國(guó)產(chǎn)業(yè)的多元化應(yīng)用驅(qū)動(dòng),此謂大勢(shì);
2019-11-29 17:21:29
6929 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)ATS(Automatic Test System)集成測(cè)試所需的全部激勵(lì)與測(cè)量設(shè)備,計(jì)算機(jī)高效完成各種模式的激勵(lì)及響應(yīng)信號(hào)的采集、存儲(chǔ)與分析,對(duì)被測(cè)單元進(jìn)行自動(dòng)狀態(tài)監(jiān)測(cè)、性能測(cè)試和故障
2011-10-25 15:30:18
1824 
從集成電路的歷史、產(chǎn)業(yè)分工、分類、設(shè)計(jì)、制造、封裝、測(cè)試等方面,多維度全面解讀集成電路產(chǎn)業(yè)鏈和相關(guān)技術(shù)。
2019-02-25 08:43:36
10122 
多維度入手打造穩(wěn)定高效的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,迎接集成電路融合時(shí)代的機(jī)遇與挑戰(zhàn) 5G、人工智能、新能源等新技術(shù)的成熟驅(qū)動(dòng)各行業(yè)加速數(shù)字化轉(zhuǎn)型落地,從而持續(xù)推動(dòng)全球半導(dǎo)體行業(yè)穩(wěn)步增長(zhǎng)。根據(jù)IC
2022-07-04 19:06:35
2792 
在自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)與精密儀器測(cè)試里,“高密度、低漏流”和“高耐壓、小尺寸”往往是相互矛盾的兩個(gè)維度。一些測(cè)試測(cè)量應(yīng)用需要在極小封裝內(nèi)集成可承受5kV交流/7kV峰值電壓的緊湊型高壓繼電器,以
2025-07-31 15:42:22
4871 
介紹了一種通用的電路板自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)。系統(tǒng)從針床到測(cè)試軟件的各個(gè)環(huán)節(jié)都采用了開(kāi)放型的設(shè)計(jì),通用性很強(qiáng),可以用于多種電路板的自動(dòng)測(cè)試;具有高達(dá)2 Gs/s 的信號(hào)
2011-10-25 17:21:58
11128 `書(shū)號(hào):978-7-111-34114-7作者:路輝 編著出版時(shí)間:201107自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)作為設(shè)備可靠運(yùn)行的必要保證,在航空、航天、汽車、船舶等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。測(cè)試描述語(yǔ)言作為自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
2011-08-12 10:13:17
隨著集成電路的逐漸開(kāi)發(fā),集成電路測(cè)試儀從最開(kāi)始的小規(guī)模集成電路逐漸發(fā)展到中規(guī)模、大規(guī)模甚至超大規(guī)模集成電路。集成電路測(cè)試儀分為三大類別:模擬與混合信號(hào)電路測(cè)試儀、數(shù)字集成電路測(cè)試儀、驗(yàn)證系統(tǒng)、在線測(cè)試系統(tǒng)、存儲(chǔ)器測(cè)試儀等。目前,智能、簡(jiǎn)單快捷、低成本的集成電路測(cè)試儀是市場(chǎng)上的熱門。
2019-08-21 07:25:36
集成電路測(cè)試和驗(yàn)證的區(qū)別是什么?
2021-09-27 06:19:12
面臨未來(lái)最大的挑戰(zhàn)和機(jī)遇。集成電臺(tái)頻率、光傳感和信號(hào)處理器的智能微系統(tǒng)能夠以接近 實(shí)時(shí)的方式將搜集來(lái)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為行動(dòng)的信息。融合、集成數(shù)模電路、光電器件、射頻和功 率器件以及傳感和微機(jī)械為一體的“納
2018-05-11 10:20:05
隨著集成電路制造技術(shù)的進(jìn)步,人們已經(jīng)能制造出電路結(jié)構(gòu)相當(dāng)復(fù)雜、集成度很高、功能各異的集成電路。但是這些高集成度,多功能的集成塊僅是通過(guò)數(shù)目有限的引腳完成和外部電路的連接,這就給判定集成電路的好壞帶來(lái)不少困難。
2019-08-21 08:19:10
ATML,Automatic Test Markup Language,自動(dòng)測(cè)試標(biāo)記語(yǔ)言,用于自動(dòng)測(cè)試設(shè)備和測(cè)試信息交換的IEEE標(biāo)準(zhǔn)。制定這個(gè)語(yǔ)言的目的是在一個(gè)自動(dòng)測(cè)試的環(huán)境中,測(cè)試程序、測(cè)試設(shè)備
2016-04-16 10:25:03
CMOS數(shù)字集成電路是什么?CMOS數(shù)字集成電路有什么特點(diǎn)?CMOS數(shù)字集成電路的使用注意事項(xiàng)是什么?
2021-06-22 07:46:35
同一平臺(tái),支持多品牌儀表兼容互換。
◆ 安全性:按用戶進(jìn)行權(quán)限管理,權(quán)限細(xì)化到每個(gè)功能點(diǎn)及產(chǎn)品。
◆ 高效性:產(chǎn)品自動(dòng)測(cè)試用例的快速搭建,通過(guò)引入自動(dòng)化工裝、開(kāi)關(guān)矩陣實(shí)現(xiàn)一鍵測(cè)試,提升測(cè)試效率
2023-09-26 10:09:47
總線的多總線融合的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)成為軍用測(cè)試領(lǐng)域的發(fā)展趨勢(shì)之一。1 定義 多總線融合的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng):測(cè)試系統(tǒng)包含兩種或兩種以上的數(shù)字接口總線,不同總線間可實(shí)現(xiàn)機(jī)械相容、電氣相容、功能相容和運(yùn)行
2021-10-08 14:44:15
關(guān)鍵裝備的國(guó)產(chǎn)化進(jìn)程加快??梢灶A(yù)?,我們必將迎接更??平、更?層次的發(fā)展機(jī)遇。但報(bào)告也指出,我國(guó)集成電路崗位需求增速遠(yuǎn)?于?才供應(yīng)增速,?業(yè)?才缺?接近30W,機(jī)遇與挑戰(zhàn)并?。如何解決?才問(wèn)題?既然
2023-04-21 10:53:50
為什么要設(shè)計(jì)壽命更長(zhǎng)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)?
2021-05-11 06:49:35
自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是計(jì)算機(jī)技術(shù)與儀器儀表技術(shù)深層次結(jié)合的結(jié)果,人們可以借助計(jì)算機(jī)以及大規(guī)模集成電路技術(shù)來(lái)滿足測(cè)試對(duì)象以及測(cè)試范圍越來(lái)越復(fù)雜、測(cè)量參數(shù)繁多、測(cè)量精度不斷提高的要求。最初通用儀器與微處理器
2017-12-05 11:02:13
集成電路(IC)的靜電放電(ESD)強(qiáng)固性可藉多種測(cè)試來(lái)區(qū)分。最普遍的測(cè)試類型是人體模型(HBM)和充電器件模型(CDM)。什么是小尺寸集成電路CDM測(cè)試??jī)烧咧g有什么區(qū)別?
2019-08-07 08:17:22
、穩(wěn)定的運(yùn)行。
綜上所述,儲(chǔ)能逆變器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一種基于電力電子技術(shù)、自動(dòng)化控制技術(shù)以及數(shù)據(jù)采集與分析技術(shù)的先進(jìn)測(cè)試設(shè)備。它在新能源電站、電動(dòng)汽車充電樁、可再生能源并網(wǎng)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景和重要的價(jià)值。
2024-12-16 15:07:48
充電樁自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一種用于全面評(píng)估充電樁性能的設(shè)備,其原理和應(yīng)用可以詳細(xì)闡述如下:一、充電樁自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原理充電樁自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的工作原理主要基于計(jì)算機(jī)編程和測(cè)試儀器控制。它利用先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)
2024-12-17 14:39:13
,才能更好的迎接更高水平、更高層次的發(fā)展機(jī)遇,而這也是集成電路行業(yè)發(fā)展的基礎(chǔ)和保障。
△上海張江高科技園區(qū)開(kāi)發(fā)股份有限公司副總經(jīng)理·趙海生
上海張江高科技園區(qū)開(kāi)發(fā)股份有限公司副總經(jīng)理趙海生在致辭中表
2023-04-28 17:48:10
關(guān)于TTL集成電路與CMOS集成電路看完你就懂了
2021-09-28 09:06:34
“功能集成+智能升級(jí)+產(chǎn)線適配”的核心邏輯,將多維度測(cè)量需求整合到一臺(tái)設(shè)備中,同時(shí)融入數(shù)據(jù)處理、聯(lián)網(wǎng)交互、自動(dòng)化適配能力,從根本上解決產(chǎn)線測(cè)量的“碎片化”問(wèn)題。
定制化集成儀器的核心優(yōu)勢(shì)
產(chǎn)線傳統(tǒng)痛點(diǎn)
2025-10-09 13:50:59
實(shí)驗(yàn)的方法檢定和檢驗(yàn)天線的這些參數(shù)特性。NSAT-5000微波天線自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)由工業(yè)電腦、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)通信裝置、合成信號(hào)源等設(shè)備搭配專業(yè)的天線測(cè)試系統(tǒng)軟件所組成。系統(tǒng)突破單一測(cè)試
2018-06-21 10:22:41
相比早期手動(dòng)連接的臺(tái)式設(shè)備,二次監(jiān)視雷達(dá)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)有哪些優(yōu)勢(shì)?怎樣去設(shè)計(jì)二次監(jiān)視雷達(dá)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)?
2021-04-30 06:27:49
11.4無(wú)線設(shè)備自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)無(wú)線通信網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的技術(shù)指標(biāo)都需要用專用的儀表進(jìn)行測(cè)試,如果是多臺(tái)儀表的互動(dòng)測(cè)試,則需要人工隨時(shí)操作,不僅費(fèi)時(shí)費(fèi)力,而且容易出現(xiàn)誤差,這種情況最適合采用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
2019-05-17 09:40:03
隨著集成電路制造技術(shù)的進(jìn)步,人們已經(jīng)能制造出電路結(jié)構(gòu)相當(dāng)復(fù)雜、集成度很高、功能各異的集成電路。但是這些高集成度,多功能的集成塊僅是通過(guò)數(shù)目有限的引腳完成和外部電路的連接,這就給判定集成電路的好壞帶來(lái)不少困難。
2019-08-20 08:14:59
制造業(yè)中,電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)可用于測(cè)試汽車電子設(shè)備的電源穩(wěn)定性和性能,如發(fā)動(dòng)機(jī)控制模塊、車載娛樂(lè)系統(tǒng)等,以確保車輛在各種工況下的正常運(yùn)行。
航空航天領(lǐng)域:在航空航天領(lǐng)域,電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)可用于測(cè)試航空航天電子設(shè)備
2024-09-06 15:36:07
如何判定集成電路的好壞?集成電路的測(cè)試有什么技巧?
2021-04-14 06:51:19
什么樣的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)才是通用測(cè)試系統(tǒng)?通用測(cè)試系統(tǒng)有哪些優(yōu)點(diǎn)?通用測(cè)試系統(tǒng)主要應(yīng)用于哪些領(lǐng)域?怎樣去設(shè)計(jì)通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)?通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的硬件平臺(tái)是怎樣設(shè)計(jì)的?如何去驗(yàn)證通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)軟硬件?
2021-04-15 06:25:02
飛控設(shè)備是重要的機(jī)載設(shè)備之一,保障著飛行安全和飛行質(zhì)量。針對(duì)某型飛控設(shè)備的測(cè)試需求,研制了一套基于PXI總線和GPIB總線的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。按照測(cè)試需求進(jìn)行硬件系統(tǒng)的集成
2009-04-18 10:00:22
33 研究并提出基于ABBET的通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)集成程序的設(shè)計(jì)方案。介紹了ABBET的總體框架結(jié)構(gòu),其中包含了基本框架、擴(kuò)展框架、應(yīng)用程序。給出了系統(tǒng)的軟件設(shè)計(jì)基本思想和實(shí)現(xiàn)。面
2009-07-08 17:28:42
27 介紹了VXI總線組建的頻率捷變末制導(dǎo)雷達(dá)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的設(shè)計(jì)。首先簡(jiǎn)述設(shè)備的主要技術(shù)要求及功能,重點(diǎn)提出解決關(guān)鍵技術(shù)的主要技術(shù)問(wèn)題及設(shè)計(jì)過(guò)程中擬采取的技術(shù)措施。頻
2009-07-15 10:22:21
20 本文介紹了數(shù)字電路板的自動(dòng)測(cè)試與故障診斷需求,故障類型與產(chǎn)生的原因,故障診斷技術(shù)與設(shè)備簡(jiǎn)介,自動(dòng)測(cè)試與故障診斷平臺(tái)的設(shè)計(jì),開(kāi)發(fā)數(shù)字電路板的自動(dòng)測(cè)試與故障診斷
2009-07-15 11:03:16
27 介紹一種印制電路板自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn),給出了該自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的整體結(jié)構(gòu),同時(shí)對(duì)該系統(tǒng)的硬件組成和軟件實(shí)現(xiàn)作了詳細(xì)說(shuō)明,實(shí)際應(yīng)用表明,該系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單可靠,
2009-08-03 11:18:56
12 本文介紹了基于數(shù)據(jù)庫(kù)的通信設(shè)備自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)思路及方法,給出了此類自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的硬件平臺(tái),重點(diǎn)介紹了數(shù)據(jù)庫(kù)設(shè)計(jì)思想在自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用以及通信設(shè)備自動(dòng)測(cè)
2009-08-15 14:07:50
20 依據(jù)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展趨勢(shì),討論了網(wǎng)絡(luò)化的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)模型,論述了以此模型為基礎(chǔ)構(gòu)建的網(wǎng)絡(luò)化電臺(tái)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。系統(tǒng)的硬件以VXI 儀器為主,采用GPIB-VXI 方式構(gòu)建;通過(guò)
2009-08-29 09:04:36
10 面對(duì)現(xiàn)代高技術(shù)武器裝備對(duì)測(cè)試領(lǐng)域提出的嚴(yán)峻考驗(yàn),分析了當(dāng)今主流軍用測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的不足,以LXI 為基礎(chǔ)提出了一種多總線融合的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。重點(diǎn)論述了不同總線儀
2009-09-17 11:03:39
11 面對(duì)現(xiàn)代高技術(shù)武器裝備對(duì)測(cè)試領(lǐng)域提出的嚴(yán)峻考驗(yàn),分析了當(dāng)今主流軍用測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的不足,以LXI 為基礎(chǔ)提出了一種多總線融合的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。重點(diǎn)論述了不同總線儀
2009-12-12 15:37:55
16 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)滿足現(xiàn)代科研生產(chǎn)中對(duì)測(cè)試高速度和高精度的要求,其發(fā)展方向是標(biāo)準(zhǔn)化、模塊化和系列化。介紹了一種針對(duì)集成運(yùn)算放大器的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,系統(tǒng)采用輔助放大器測(cè)試方
2010-07-29 16:01:27
57 通過(guò)使用自動(dòng)測(cè)試設(shè)備來(lái)代替大量專用測(cè)試設(shè)備,不僅可以降低成本,而且可以有效的提高測(cè)試效率。介紹了基于PXI總線和GP IB總線的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì),從硬件和軟件兩個(gè)方面詳細(xì)
2010-08-25 15:25:24
32 主要內(nèi)容一、為什么需要做自動(dòng)測(cè)試?二、EMI自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)三、EMS自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)四、EMC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)集成實(shí)例五、手機(jī)EMI自動(dòng)測(cè)試實(shí)現(xiàn)
2010-09-21 11:29:23
62 電纜損耗對(duì)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的影響
2010-12-24 17:57:17
0 中圖儀器WD4000晶圓多維度表面形貌特征檢測(cè)設(shè)備通過(guò)非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷
2024-08-08 15:50:04
摘要:目前有許多測(cè)試公司設(shè)計(jì)、制造并銷售引腳數(shù)眾多的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)。這些測(cè)試設(shè)備具有非常復(fù)雜的集成電路,用于驅(qū)動(dòng)設(shè)備的每個(gè)引腳。一臺(tái)測(cè)試設(shè)備的引腳數(shù)可能多達(dá)409
2009-05-05 08:29:59
1265 
基于GPIB的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是計(jì)算機(jī)技術(shù)和自動(dòng)測(cè)試技術(shù)相結(jié)合的產(chǎn)物,目前廣泛應(yīng)用于眾多領(lǐng)域。本文在介紹基于GPIB的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)組成和GPIB技術(shù)原理和特點(diǎn)的基礎(chǔ)上,著重介紹
2009-05-16 09:04:26
1840 
基于虛擬儀器技術(shù)的混合集成電路測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
設(shè)計(jì)了一種基于虛擬儀器技術(shù)的混合集成電路的性能參數(shù)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。簡(jiǎn)要介紹了測(cè)控
2009-10-13 18:57:27
1772 
介紹使用Agilent VEE軟件在IEEE4 88總線上對(duì)儀器進(jìn)行控制,進(jìn)而建立的以PC機(jī)為中心的集成電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)?! £P(guān)鍵詞:自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng);GP-IB總線;VEE
Integrated Capacitance Automat
2009-10-15 21:44:14
1715 
1 引言
自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)ATS(AutomaTIc Test System)集成測(cè)試所需的全部激勵(lì)與測(cè)量設(shè)備,計(jì)算機(jī)高效完成各種模式的激勵(lì)及響應(yīng)信號(hào)的采集、存儲(chǔ)與分析,對(duì)被測(cè)單元進(jìn)行自
2010-08-28 16:59:14
4799 
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備是用于測(cè)試分立器件、集成電路、混合信號(hào)電路直流參數(shù)、交流參數(shù)和功能的測(cè)試設(shè)備。主要通過(guò)測(cè)試系統(tǒng)軟件控制測(cè)試設(shè)備各單元對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行測(cè)試,以判定被測(cè)器件
2011-04-23 11:08:02
8773 
集成電路測(cè)試是保證集成電路質(zhì)量、發(fā)展的關(guān)鍵手段。CMOS 器件進(jìn)入超深亞微米階段, 集成電路繼續(xù)向高集成度、高速度、低功耗發(fā)展, 使得IC 在測(cè)試和可測(cè)試性設(shè)計(jì)上都面臨新的挑戰(zhàn)。
2011-05-20 16:48:20
83 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)ATS(Automatic Test System)集成測(cè)試所需的全部激勵(lì)與測(cè)量設(shè)備,計(jì)算機(jī)高效完成各種模式的激勵(lì)及響應(yīng)信號(hào)的采集、存儲(chǔ)與分析,對(duì)被測(cè)單元進(jìn)行自動(dòng)狀態(tài)監(jiān)測(cè)、性能測(cè)試和故障
2011-09-26 13:45:04
1888 
電子封裝是一個(gè)富于挑戰(zhàn)、引人入勝的領(lǐng)域。它是集成電路芯片生產(chǎn)完成后不可缺少的一道工序,是器件到系統(tǒng)的橋梁
2011-10-26 15:56:28
3486 針對(duì)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的配電網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì) ,這上領(lǐng)域很有用的PDF資料。
2016-01-07 10:30:25
0 針對(duì)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的配電網(wǎng)絡(luò)設(shè) ,從集中式電源到ATE分布式電源
2016-06-02 15:41:09
12 通過(guò)對(duì)IMS 公司生產(chǎn)的集成電路測(cè)試系統(tǒng)ATS 的描述,討論了集成電路(IC)的測(cè)試技術(shù)及其在ATS 上的應(yīng)用方法,并以大規(guī)模集成電路芯片8255 為例,給出一種芯片在該集成電路測(cè)試系統(tǒng)上從功能分析到具體測(cè)試的使用過(guò)程。
2016-09-01 17:24:53
0 在測(cè)試電子器件時(shí),很難不提到示波器所具有的通用性。為了對(duì)電子電路進(jìn)行驗(yàn)證,工程師需要能夠查看和測(cè)量其設(shè)計(jì)中的信號(hào)。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)通常不提供大量可視化故障診斷,這對(duì)于必須安裝、校準(zhǔn)并對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行故障診斷的用戶來(lái)說(shuō)是一大挑戰(zhàn)。這些操作需要可視化工具,示波器便能提供這種工具。
2017-03-27 18:52:21
3384 集成電路(Integrated Circuit,IC)測(cè)試技術(shù)是集成電路產(chǎn)業(yè)中不可或缺的重要組成部分,而測(cè)試設(shè)備是IC測(cè)試技術(shù)的一種重要工具。模擬IC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一款針對(duì)模擬IC直流參數(shù)和交流參數(shù)
2017-11-15 16:27:52
15 針對(duì)當(dāng)前輸電線路故障診斷的需求,結(jié)合智能電網(wǎng)運(yùn)行中產(chǎn)生的大量結(jié)構(gòu)多樣、來(lái)源復(fù)雜的數(shù)據(jù),將這些大數(shù)據(jù)歸類于不同的維度,設(shè)計(jì)了基于多維度數(shù)據(jù)融合的輸電線路故障智能診斷系統(tǒng)。對(duì)多維度的診斷結(jié)果融合架構(gòu)
2017-11-23 14:54:34
0 本文以集成電路測(cè)試儀為中心、主要介紹了什么是集成電路測(cè)試儀、集成電路測(cè)試儀有哪些種類、電路測(cè)試儀的組成以及集成電路測(cè)試儀的選購(gòu)技巧。
2017-12-20 11:33:51
15203 統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù),在120家新三板半導(dǎo)體企業(yè)中,集成電路企業(yè)約占一半,主要以設(shè)計(jì)和封裝測(cè)試為主。新三板集成電路企業(yè)整體規(guī)模不大,但一些企業(yè)在細(xì)分領(lǐng)域表現(xiàn)突出。在國(guó)產(chǎn)替代的發(fā)展邏輯下,這些“小而美”企業(yè)迎來(lái)發(fā)展機(jī)遇。
2018-07-11 17:56:00
3190 峰會(huì)以“‘芯’夢(mèng)想、新動(dòng)能”為主題,邀請(qǐng)國(guó)內(nèi)外集成電路產(chǎn)業(yè)政、產(chǎn)、學(xué)、研、用各路精英約400人齊聚青島,研討國(guó)內(nèi)外集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展的新生態(tài)、新熱點(diǎn),挖掘青島市在集成電路產(chǎn)業(yè)的優(yōu)勢(shì)與機(jī)遇, 打造青島集成電路創(chuàng)新綠色發(fā)展先進(jìn)產(chǎn)業(yè)集群,助力青島加快推進(jìn)新舊動(dòng)能轉(zhuǎn)換重大工程。
2018-07-13 14:28:00
5388 中國(guó)半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會(huì)集成電路設(shè)計(jì)分會(huì)理事長(zhǎng)魏少軍教授題為《迎接設(shè)計(jì)業(yè)的難得發(fā)展機(jī)遇》的主題演講。
2018-12-01 10:33:21
4256 集成電路機(jī)遇與挑戰(zhàn)并存 我國(guó)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)如何實(shí)現(xiàn)突圍 隨著數(shù)字新基建的大力推進(jìn),集成電路產(chǎn)業(yè)正迎來(lái)新一輪發(fā)展契機(jī),以5G、人工智能、云計(jì)算、大數(shù)據(jù)、物聯(lián)網(wǎng)、工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)為代表的新技術(shù)、新業(yè)態(tài)正在催生
2020-09-27 18:14:17
4095 上海兩大重點(diǎn)發(fā)展產(chǎn)業(yè)集成電路與人工智能在上海浦東呈現(xiàn)出多維度的鏈接。 截至今年5月,上海集成電路產(chǎn)業(yè)規(guī)模已占全國(guó)22.5%。尤其在集成電路的設(shè)計(jì)領(lǐng)域,浦東張江已成為國(guó)內(nèi)集成電路設(shè)計(jì)企業(yè)最集聚的區(qū)域
2020-11-18 15:24:48
2943 越來(lái)越多的人認(rèn)識(shí)到了集成電路IC對(duì)電子工業(yè)的重要性,對(duì)集成電路的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的投入也越來(lái)越大。集成電路的電磁兼容也同樣重要,電磁兼容EMC的測(cè)試,可以分成組部件級(jí),設(shè)備級(jí)和系統(tǒng)級(jí),每個(gè)級(jí)別都有相應(yīng)的EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
2021-01-04 16:53:30
7522 
葉甜春表示,在新形勢(shì)、新格局下,集成電路產(chǎn)業(yè)不僅面臨著新的挑戰(zhàn),還有新的機(jī)遇,總體來(lái)說(shuō)眼下是新的時(shí)代。他提到,美國(guó)政府試圖通過(guò)限制與中國(guó)的技術(shù)合作和產(chǎn)業(yè)投資,遏制中國(guó)的集成電路發(fā)展。不過(guò)科技業(yè)無(wú)法真正脫鉤。
2021-03-28 09:15:56
3869 2022 5月5日,中國(guó)北京訊?-- 全球先進(jìn)的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(dá)?(NASDAQ:TER)宣布,分別與合肥工業(yè)大學(xué)和福州大學(xué)建立了集成電路自動(dòng)測(cè)試大學(xué)項(xiàng)目,基于Magnum V和測(cè)試
2022-05-05 15:35:58
1907 
6806億美元的新紀(jì)錄。半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的持續(xù)繁榮也讓半導(dǎo)體自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)的市場(chǎng)規(guī)模隨之水漲船高,預(yù)計(jì)2028年將達(dá)到72億美元。
2022-05-17 15:06:42
2669 
集成電路測(cè)試是集成電路產(chǎn)業(yè)鏈的重要組成部分。在對(duì)集成電路進(jìn)行在片測(cè)試時(shí),需要對(duì)整個(gè)晶圓進(jìn) 行測(cè)試。文中以 Cascade Summit 12000 半自動(dòng)探針臺(tái)為例,設(shè)計(jì)一個(gè)由計(jì)算機(jī)、探針臺(tái)、單片機(jī)
2022-06-02 10:04:41
5408 測(cè)試效率是探針臺(tái)除定位精度外的一個(gè)重要 指標(biāo)。探針臺(tái)用戶希望在保證精度、穩(wěn)定性的前提 下,最大限度地提高探針臺(tái)的測(cè)試效率,來(lái)縮短生 產(chǎn)周期,降低成本。本文將從分析探針臺(tái)自動(dòng)測(cè)試 的流程入手,提出幾種
2022-06-06 10:50:07
2011 源儀電子ATE電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)適用范圍: ATE電源自動(dòng)測(cè)試設(shè)備適用于交流- DC/DC交流(DC同步輸出)/DC-DC電源產(chǎn)品的綜合性能測(cè)試,一般市面上常用的電源測(cè)試基本上都使用。但是用戶選擇
2022-06-27 15:55:36
2125 
在20年的發(fā)展中,中國(guó)集成電路已經(jīng)打造了設(shè)計(jì)、制造、封測(cè)、設(shè)備和材料五大完整的半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)板塊,產(chǎn)業(yè)結(jié)構(gòu)越來(lái)越合理。當(dāng)下,中國(guó)集成電路產(chǎn)業(yè)三業(yè)(設(shè)計(jì)業(yè)、制造業(yè)、封測(cè)業(yè))結(jié)構(gòu)占比分別為43,與世界集成電路產(chǎn)業(yè)三業(yè)結(jié)構(gòu)占比有所不同,后者的占比是33。
2022-08-18 15:04:26
6942 集成電路的歷史、產(chǎn)業(yè)分工、分類、設(shè)計(jì)、制造、封裝、測(cè)試等方面,多維度全面解讀集成電路產(chǎn)業(yè)鏈和相關(guān)技術(shù)。
2022-11-21 10:13:03
1031 模擬/混合集成電路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)主要是指針對(duì)以模擬信號(hào)電路、混合信號(hào)電路(以模擬為主,數(shù)字為輔)為主的集成電路測(cè)試而設(shè)計(jì)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),被測(cè)電路主要包括電源管理器件( 如線性穩(wěn)壓器、脈寬調(diào)制控制器
2023-01-13 11:08:24
2635 
電子設(shè)備測(cè)試的復(fù)雜性差異很大,從最簡(jiǎn)單的類型(手動(dòng)測(cè)試)到最復(fù)雜的大型自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)。在簡(jiǎn)單的手動(dòng)測(cè)試和大規(guī)模ATE之間,是低預(yù)算和中等規(guī)模的測(cè)試,這是本應(yīng)用筆記的重點(diǎn)。這些類型的測(cè)試系統(tǒng)
2023-03-28 11:45:11
2077 
集成電路進(jìn)人后摩爾時(shí)代以來(lái),安全、可靠的軟硬件協(xié)同設(shè)計(jì)、冗余定制、容錯(cuò)體系結(jié)構(gòu)和協(xié)議、光機(jī)電一體化等新的設(shè)計(jì)趨勢(shì)促使片內(nèi)測(cè)試 (On-ChipTest)/片外測(cè)試(OIf-Chip Test) 整體
2023-05-25 09:48:39
3058 
集成電路封裝測(cè)試是指對(duì)集成電路封裝進(jìn)行的各項(xiàng)測(cè)試,以確保封裝的質(zhì)量和性能符合要求。封裝測(cè)試通常包括以下內(nèi)容。
2023-05-25 17:32:52
3654 隨著集成電路技術(shù)的發(fā)展,高速信號(hào)的設(shè)計(jì)技術(shù)指標(biāo)不斷更新,系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)傳輸速率已經(jīng)提高到數(shù)十 Gbit/s 乃至數(shù)百 Gbit/s,這就給測(cè)試系統(tǒng)、測(cè)試硬件設(shè)計(jì)、測(cè)試信號(hào)傳輸質(zhì)量等帶來(lái)了新的挑戰(zhàn)和更高
2023-06-02 13:43:05
3316 
的測(cè)試有助于通過(guò)提高效率和提高質(zhì)量來(lái)提高制造生產(chǎn)力。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)起著至關(guān)重要的作用,因?yàn)樗梢员纫郧笆褂檬謩?dòng)程序以更快的速度和更可控的方式進(jìn)行更嚴(yán)格的測(cè)
2022-01-04 10:03:56
1172 
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)可以是利用少量設(shè)備的簡(jiǎn)單測(cè)試,也可以是大型復(fù)雜測(cè)試,包括探測(cè)站、氣動(dòng)自動(dòng)化、以及機(jī)器人自動(dòng)化等。,而現(xiàn)在,測(cè)試工程師可以體驗(yàn)虹科可連接常用軟件平臺(tái)API的編程組件的靈活性。
2022-05-09 16:46:35
3620 
在改進(jìn)功能的同時(shí)提供高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的需求促使制造商轉(zhuǎn)向可靠且保證可重復(fù)性的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)。ATE可幫助制造商執(zhí)行多項(xiàng)準(zhǔn)確的測(cè)試并減少故障和錯(cuò)誤的發(fā)生率,從而比傳統(tǒng)的手動(dòng)測(cè)試方法更快地提供測(cè)試結(jié)果。
2023-06-29 15:14:25
2297 按鍵荷重測(cè)試儀的多維度分析
2023-10-18 09:16:10
1380 
開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)能測(cè)試的指標(biāo)都有什么? 開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一種用于對(duì)開(kāi)關(guān)電源進(jìn)行全面測(cè)試和評(píng)估的設(shè)備,它可以測(cè)試許多關(guān)鍵性能指標(biāo)以確保開(kāi)關(guān)電源的可靠性和穩(wěn)定性。下面將詳細(xì)介紹開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試
2023-11-09 09:18:32
1495 如何用集成電路芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化? 集成電路芯片老化測(cè)試系統(tǒng)是一種用于評(píng)估芯片長(zhǎng)期使用后性能穩(wěn)定性的測(cè)試設(shè)備。隨著科技的進(jìn)步和電子產(chǎn)品的廣泛應(yīng)用,人們對(duì)芯片的可靠性要求日益增高,因此老化測(cè)試
2023-11-10 15:29:05
2239 納米軟件ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備包含軟件ATE測(cè)試系統(tǒng)以及測(cè)試中需要的硬件設(shè)備,軟硬件會(huì)集成在一個(gè)機(jī)柜中,方便測(cè)試。ATE測(cè)試系統(tǒng)采取B/S架構(gòu),無(wú)代碼開(kāi)發(fā),對(duì)操作人員沒(méi)有高技術(shù)要求,可快速上手測(cè)試。自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)在測(cè)試過(guò)程中實(shí)時(shí)自動(dòng)采集記錄數(shù)據(jù),并對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行多維度分析,快速定位問(wèn)題。
2023-12-28 15:55:30
1934 Purpose Integrated Circuit, GPIC),專用集成電路具有更高的性能、更低的功耗和更好的可靠性。在現(xiàn)代電子技術(shù)領(lǐng)域,專用集成電路應(yīng)用廣泛,包括各種設(shè)備和功能。 設(shè)備和設(shè)備 1.1 通信
2024-05-04 15:43:00
2829 ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備是電子產(chǎn)品和電氣設(shè)備測(cè)試的關(guān)鍵系統(tǒng),其自動(dòng)化能力使其成為電子測(cè)試行業(yè)的首選。ATE廣泛應(yīng)用于通信、消費(fèi)電子、汽車電子、智能家居、半導(dǎo)體、電源模塊、醫(yī)療電子和航空航天等領(lǐng)域。在
2024-07-09 16:47:39
3674 
隨著半導(dǎo)體技術(shù)的快速發(fā)展,集成電路(IC)的復(fù)雜性和集成度不斷提高,對(duì)測(cè)試技術(shù)的要求也日益增加。深度學(xué)習(xí)算法作為一種強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理和模式識(shí)別工具,在集成電路測(cè)試領(lǐng)域展現(xiàn)出了巨大的應(yīng)用潛力。本文將從深度學(xué)習(xí)算法的基本原理、在集成電路測(cè)試中的具體應(yīng)用、優(yōu)勢(shì)與挑戰(zhàn)以及未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)等方面進(jìn)行詳細(xì)探討。
2024-07-15 09:48:20
2339 電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《提高自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的信號(hào)測(cè)量精度.pdf》資料免費(fèi)下載
2024-09-18 11:41:16
0 繼電器作為現(xiàn)代電子設(shè)備中不可或缺的元件,其性能的穩(wěn)定性和可靠性對(duì)整個(gè)系統(tǒng)的運(yùn)行至關(guān)重要。因此,對(duì)繼電器進(jìn)行高效、精準(zhǔn)的自動(dòng)測(cè)試顯得尤為重要。本文將探討繼電器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的基本原理、關(guān)鍵技術(shù)及其
2024-12-09 16:06:44
827 
在電源制造和研發(fā)領(lǐng)域,測(cè)試環(huán)節(jié)是確保產(chǎn)品質(zhì)量和性能的關(guān)鍵步驟。傳統(tǒng)的手動(dòng)測(cè)試方式不僅效率低下,還容易因人為因素導(dǎo)致誤差。隨著電源產(chǎn)品的復(fù)雜度不斷提升,電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(ate測(cè)試設(shè)備)成為行業(yè)的必備
2025-02-26 16:03:22
854 
硅作為半導(dǎo)體材料在集成電路應(yīng)用中的核心地位無(wú)可爭(zhēng)議,然而,隨著科技的進(jìn)步和器件特征尺寸的不斷縮小,硅集成電路技術(shù)正面臨著一系列挑戰(zhàn),本文分述如下:1.硅集成電路的優(yōu)勢(shì)與地位;2.硅材料對(duì)CPU性能的影響;3.硅材料的技術(shù)革新。
2025-03-03 09:21:49
1385 
在集成電路制造領(lǐng)域,設(shè)備的精密性與穩(wěn)定性至關(guān)重要,而定制化防震基座作為保障設(shè)備精準(zhǔn)運(yùn)行的關(guān)鍵一環(huán),其重要性不言而喻。展望未來(lái)五年,隨著集成電路產(chǎn)業(yè)的迅猛發(fā)展,定制化防震基座制造廠商將踏上一條充滿機(jī)遇
2025-03-24 09:48:45
983 
在集成電路制造這一精密復(fù)雜的領(lǐng)域,每一個(gè)環(huán)節(jié)都如同精密儀器中的微小齒輪,一絲偏差都可能導(dǎo)致嚴(yán)重后果。制造設(shè)備的穩(wěn)定運(yùn)行更是重中之重,而防震基座作為守護(hù)設(shè)備穩(wěn)定的第一道防線,其選型恰當(dāng)與否,直接關(guān)系
2025-04-07 09:36:49
701 
在現(xiàn)代電子制造業(yè),高效的測(cè)試流程對(duì)于確保產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要。電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)作為一種先進(jìn)的電源測(cè)試解決方案,正逐漸成為眾多電子制造企業(yè)的選擇。源儀電子在電源自動(dòng)測(cè)試領(lǐng)域已經(jīng)二十余年,經(jīng)驗(yàn)豐富。源儀電子
2025-06-05 11:30:36
729 
FCT自動(dòng)測(cè)試設(shè)備能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)電路板的功能自動(dòng)化測(cè)試,提高測(cè)試覆蓋率。設(shè)備通過(guò)預(yù)設(shè)的測(cè)試程序和自動(dòng)化操作流程,對(duì)電路板的各項(xiàng)功能和性能指標(biāo)進(jìn)行檢測(cè)和驗(yàn)證。例如,在通信設(shè)備的電路板測(cè)試中,F(xiàn)CT測(cè)試設(shè)備
2025-08-07 16:35:34
1777 
在當(dāng)今電子設(shè)備無(wú)處不在的時(shí)代,電源的質(zhì)量和可靠性直接影響著終端產(chǎn)品的性能與壽命。而確保電源質(zhì)量的關(guān)鍵工具——ATE自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),已成為電源設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中不可或缺的一環(huán)。本文將和大家介紹一下源儀電子的ATE測(cè)試系統(tǒng)能夠兼容的電源測(cè)試類型,幫助您了解這一高效、精確的測(cè)試解決方案。
2025-10-29 14:42:23
548 
半導(dǎo)體集成電路的分類體系基于集成度、功能特性、器件結(jié)構(gòu)及應(yīng)用場(chǎng)景等多維度構(gòu)建,歷經(jīng)數(shù)十年發(fā)展已形成多層次、多維度的分類框架,并隨技術(shù)演進(jìn)持續(xù)擴(kuò)展新的細(xì)分領(lǐng)域。
2025-12-26 15:08:07
210 
評(píng)論