如何構(gòu)建通用電子產(chǎn)品功能測(cè)試平臺(tái)

本文分析當(dāng)前電子產(chǎn)品測(cè)試中普遍存在的問題，提出一套通用電子產(chǎn)品功能測(cè)試平臺(tái)，利用COM技術(shù)實(shí)現(xiàn)基于TestStand引擎開發(fā)測(cè)試系統(tǒng)的流程編輯和執(zhí)行功能，并結(jié)合國(guó)際上通用的ATLAS測(cè)試語(yǔ)言和IVI規(guī)范分別進(jìn)行測(cè)試流程和儀器驅(qū)動(dòng)的管理。近年來(lái)，測(cè)試平臺(tái)在多個(gè)項(xiàng)目中得到了實(shí)際應(yīng)用，其中資源共享優(yōu)勢(shì)已經(jīng)得到了客戶們的充分認(rèn)可。

　　1．概述

　　1.1背景

　　1.1.1目前現(xiàn)狀

　　縱觀國(guó)內(nèi)外的電子產(chǎn)品測(cè)試系統(tǒng)，普遍存在以下幾點(diǎn)問題：

　　1)整個(gè)大系統(tǒng)的測(cè)試任務(wù)中，其統(tǒng)一性與整體性缺乏體系支持；

　　2)測(cè)試工藝、流程、標(biāo)準(zhǔn)不統(tǒng)一；

　　3)測(cè)試模塊的通用性、可移植性、可擴(kuò)展性、可維護(hù)性較差；

　　4)測(cè)試人員問的素質(zhì)不一；

　　5)不同人員測(cè)試不同階段，信息交流的程度不同；

　　6)測(cè)試數(shù)據(jù)的組織、存儲(chǔ)、管理和使用較為混亂，數(shù)字化程度較低；

　　7)數(shù)據(jù)的有效性、可靠性、可追溯性、共享度以及對(duì)數(shù)據(jù)的分析能力較差；

　　8)數(shù)據(jù)對(duì)于產(chǎn)生、審批、發(fā)布、變更、流通的支持度不夠；

　　9)生產(chǎn)效率偏低，導(dǎo)致單位生產(chǎn)成本較高。

　　以上問題的出現(xiàn)，會(huì)降低電子產(chǎn)品的研制效率，導(dǎo)致項(xiàng)目進(jìn)度不可控，產(chǎn)品質(zhì)量保證難度加大。

　　1.1.2未來(lái)發(fā)展

　　新一代電子產(chǎn)品測(cè)試系統(tǒng)會(huì)朝著通用化、標(biāo)準(zhǔn)化、組合化、網(wǎng)絡(luò)化的方向進(jìn)行發(fā)展。

　　結(jié)合現(xiàn)代自動(dòng)測(cè)試技術(shù)的發(fā)展，現(xiàn)代電子產(chǎn)品測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試技術(shù)必將產(chǎn)生深刻的變革，這主要表現(xiàn)在四個(gè)方面：

　　1)測(cè)試整體上，要求C3M一體化。C3M指的是控制(Control)、通信(Communication)、計(jì)算機(jī)(Computer)和測(cè)量(Measurement)；

　　2)測(cè)試平臺(tái)上，采用虛擬儀器技術(shù)；

　　3)測(cè)試管理上，運(yùn)用網(wǎng)絡(luò)化技術(shù)；

　　4)測(cè)試信息處理上，采用智能傳感器信息處理和多傳感器信息融合技術(shù)。

　　1.2意義

　　自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)(ATS，Automatic Test System)確保電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)合理，節(jié)約生產(chǎn)調(diào)試成本．提高產(chǎn)品的自我保障能力，使整個(gè)產(chǎn)品處于最佳工作狀態(tài)，這極為重要。測(cè)試儀器的可互換性 (IVI，Interchangeable Virtual Instru-ment)和測(cè)試程序集(TPS，Test Program Set)的重用性、可移植性是通用ATS的重要指標(biāo)。當(dāng)前ATS的開發(fā)方式有面向儀器和面向信號(hào)兩種。面向儀器的TPS開發(fā)基于測(cè)試儀器，很難從本質(zhì)上反映被測(cè)設(shè)備的測(cè)試需求，加上測(cè)試儀器種類繁多且功能各異，因此，很難實(shí)現(xiàn)儀器的互換。軟件平臺(tái)的通用性較差。面向信號(hào)的開發(fā)方式基于被測(cè)對(duì)象 (UUT，Unit Under Test)的測(cè)試需求和測(cè)試資源的測(cè)試／激勵(lì)能力，解決了需求與供應(yīng)之間的矛盾，通用性較強(qiáng)。應(yīng)用在ATS中的軟件技術(shù)經(jīng)歷了過程編程語(yǔ)言(如C)、 Windows DLL、面向?qū)ο缶幊?、組件對(duì)象模型(COM)的漫長(zhǎng)發(fā)展過程。COM采用面向?qū)ο蟮能浖O(shè)計(jì)思想。以標(biāo)準(zhǔn)接口提供功能調(diào)用，實(shí)現(xiàn)了程序的模塊化、通用性設(shè)計(jì)。TestStand是測(cè)試領(lǐng)域廣泛使用的流程測(cè)試項(xiàng)目管理平臺(tái)，利用COM技術(shù)實(shí)現(xiàn)基于TestStand引擎開發(fā)ATS中的測(cè)試流程編輯和執(zhí)行功能，結(jié)合國(guó)際上通用的ATLAS測(cè)試語(yǔ)言和IVI規(guī)范分別進(jìn)行測(cè)試流程和儀器驅(qū)動(dòng)的管理。另外，在充分考慮當(dāng)前電子產(chǎn)品測(cè)試存在問題的基礎(chǔ)上，結(jié)合新一代電子產(chǎn)品測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展特點(diǎn)，我們開發(fā)了電子產(chǎn)品功能測(cè)試軟件平臺(tái)(Electronic Test Platform，以下簡(jiǎn)稱ETP)，從而為構(gòu)建通用電子產(chǎn)品功能測(cè)試平臺(tái)提供了很好的解決方案。圖1為通用電子產(chǎn)品功能測(cè)試系統(tǒng)原理圖。

　　2．ATLAS介紹

　　2.1 ATLAS特性

　　ATLAS(Abbreviated Test Language for All Systems)是一個(gè)被廣泛應(yīng)用于軍事和電子測(cè)試領(lǐng)域的通用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試語(yǔ)言。用這個(gè)語(yǔ)言編寫的測(cè)試程序不依賴于任何特殊的被測(cè)系統(tǒng)，并且它能在ATS上執(zhí)行。該語(yǔ)言與一般的程序設(shè)計(jì)語(yǔ)言相比具有如下一些特點(diǎn)：

　　1)設(shè)備無(wú)關(guān)性，即在用戶寫的ATLAS程序中不出現(xiàn)任何具體設(shè)備，只有測(cè)試需求；

　　2)信號(hào)相關(guān)性，ATLAS程序員書寫的測(cè)試程序都是面向信號(hào)的；

　　3)可擴(kuò)展性，允許用戶擴(kuò)展ATLAS標(biāo)準(zhǔn)中沒有的名詞、名詞修飾詞以及量綱等成份；

　　4)并行性和定時(shí)功能，ATLAS中的某些測(cè)試語(yǔ)句需要并行執(zhí)行，還有一些語(yǔ)句需要在特定的時(shí)刻才能被啟動(dòng)；

　　5)語(yǔ)法接近于自然語(yǔ)言。文法限制不嚴(yán)格。

　　ATLAS語(yǔ)言從語(yǔ)義上可以分為常規(guī)語(yǔ)言部分、信號(hào)和總線部分。常規(guī)語(yǔ)言部分類似于一個(gè)完整的過程式語(yǔ)言，它能夠?qū)崿F(xiàn)一般語(yǔ)言的功能，體現(xiàn)了ATLAS語(yǔ)言與其他語(yǔ)言的共性；信號(hào)部分和總線部分描述具體的測(cè)試過程，展現(xiàn)了ATLAS語(yǔ)言作為測(cè)試語(yǔ)言的特性。

　2.2 ATLAS描述

　　ATLAS測(cè)試語(yǔ)句基本格式如下所示：

　　動(dòng)作，(信號(hào)特征)，信號(hào)類型USING’虛擬資源’，信號(hào)修飾參數(shù)，CNX儀器端被測(cè)端$

　　語(yǔ)句：APPLY，AC SIGNAL，VOLTAGE 115V，F(xiàn)REQ400HZ，CURRENT MAX 2A，CNX HI J32-3-A23$

　　意義：在UUT的J32-3-A23$點(diǎn)加載電壓為115V、頻率為400Hz、最大電流為2A的信號(hào)。

　　3．IVI介紹

　　3.1 IVI系統(tǒng)結(jié)構(gòu)

　　為了實(shí)現(xiàn)互換性，IVI基金會(huì)將同類儀器的共性提取出來(lái)，并作了規(guī)范。目前已經(jīng)發(fā)布的八類儀器規(guī)范是：示波器(IviScope)、數(shù)字萬(wàn)用表 (IviDmm)、信號(hào)發(fā)生器(IviF-Gen)、直流電源(IviDCPower)、開關(guān)矩陣／多路復(fù)用器(IviSwitch)、功率表 (IviPwrMeter)、頻譜分析儀(IviS-pecAn)和射頻信號(hào)發(fā)生器(IviRFSigGen)，其他類型儀器的規(guī)范也將被陸續(xù)制定發(fā)布。每一類的儀器都有各自的類驅(qū)動(dòng)程序(IVI Class Driver)。每類驅(qū)動(dòng)程序包含了該類儀器通用的各種屬性和操作函數(shù)。運(yùn)行時(shí)，驅(qū)動(dòng)程序通過調(diào)用每臺(tái)儀器的專用驅(qū)動(dòng)程序(IVI Specific Driver)中相應(yīng)的函數(shù)來(lái)控制儀器。

　　應(yīng)用程序可以直接調(diào)用專用驅(qū)動(dòng)程序來(lái)控制儀器。但是為了實(shí)現(xiàn)儀器互換，應(yīng)用程序應(yīng)該首先調(diào)用類驅(qū)動(dòng)程序，類驅(qū)動(dòng)程序檢查IVI配置文件以確定應(yīng)該使用的專用驅(qū)動(dòng)程序。若系統(tǒng)中的儀器被更換，只需適當(dāng)修改IVI配置文件，而應(yīng)用程序無(wú)須做任何改動(dòng)，因而實(shí)現(xiàn)了測(cè)試系統(tǒng)的通用性。

　　3.2 IVI驅(qū)動(dòng)特性

　　1)互換性。IVI驅(qū)動(dòng)程序的互換性至少為我們帶來(lái)以下幾大好處：a)易于使用。所用的IvI驅(qū)動(dòng)程序都使用通用的接口，易于理解，也就不再要求應(yīng)用程序的開發(fā)人員必須掌握某一特定儀器的編程方法，從而使系統(tǒng)開發(fā)獲得了更大的硬件獨(dú)立性。b)降低了系統(tǒng)的維護(hù)和升級(jí)費(fèi)用。IVI構(gòu)架系統(tǒng)可以適用不同的儀器。當(dāng)儀器陳舊或者有了升級(jí)的、高性能或低造價(jià)的儀器時(shí)，可以任意更換，而不需要改變應(yīng)用程序。c)代碼共享。IVI構(gòu)架允許部門和設(shè)備之間方便地復(fù)用及共享測(cè)試代碼，并且不需使用相同型號(hào)儀器硬件。

　　2)模擬功能。每個(gè)儀器專用驅(qū)動(dòng)程序都具有專門針對(duì)本型號(hào)儀器的模擬功能。這些模擬功能使得工程師在缺少真實(shí)儀器的情況下，可以使用IVI驅(qū)動(dòng)程序的模擬功能來(lái)開發(fā)、調(diào)試應(yīng)用程序，還可以使用美國(guó)國(guó)家儀器公司(Na-tional Instruments，簡(jiǎn)稱NI)提供的類模擬驅(qū)動(dòng)程序以獲得更強(qiáng)大的模擬功能。

　　3)狀態(tài)緩存功能。IVI驅(qū)動(dòng)程序可以保存儀器每一屬性設(shè)置的當(dāng)前狀態(tài)。當(dāng)應(yīng)用程序試圖發(fā)送一些冗余命令到儀器時(shí)(例如，將儀器的某一屬性重新設(shè)置為當(dāng)前值，這些命令顯然不會(huì)讓儀器產(chǎn)生任何變化或動(dòng)作)，IVI驅(qū)動(dòng)程序會(huì)跳過這些命令。在當(dāng)前的測(cè)試系統(tǒng)中，影響軟件執(zhí)行速度的瓶頸通常在于儀器與計(jì)算機(jī)接口總線的傳輸速率。IVI驅(qū)動(dòng)程序的此項(xiàng)功能大大減少了儀器與計(jì)算機(jī)之間的通信，從而提升了系統(tǒng)性能。

　　4)源碼開放。高級(jí)用戶可以直接修改IVI驅(qū)動(dòng)程序的源代碼，以對(duì)其進(jìn)行優(yōu)化或添加功能。

　　免費(fèi)得到大量的驅(qū)動(dòng)程序。除了生產(chǎn)廠商自行開發(fā)的IVI驅(qū)動(dòng)程序，NI公司也為各類常用儀器開發(fā)了大量IVI驅(qū)動(dòng)程序，這些程序都可以從NI的網(wǎng)站上免費(fèi)下載。此外，NI還提供了用于開發(fā)驅(qū)動(dòng)程序的工具包，以簡(jiǎn)化用戶的IVI驅(qū)動(dòng)程序的開發(fā)過程。

　　4．測(cè)試平臺(tái)介紹

　　電子產(chǎn)品功能測(cè)試平臺(tái)所利用的軟件開發(fā)平臺(tái)為ETP，其開發(fā)與設(shè)計(jì)均在泛華測(cè)控“柔性測(cè)試”技術(shù)的核心理念指導(dǎo)下進(jìn)行的。平臺(tái)分為上層管理執(zhí)行和下層的驅(qū)動(dòng)管理兩大部分：上層管理模塊可根據(jù)不同行業(yè)的不同需求特點(diǎn)進(jìn)行模塊化定制、擴(kuò)展；下層驅(qū)動(dòng)管理可使相關(guān)驅(qū)動(dòng)資源得到最大化的共享。針對(duì)ETP平臺(tái)實(shí)際應(yīng)用領(lǐng)域，我們?cè)O(shè)計(jì)了一些通用硬件調(diào)理模塊，大大縮短ETP實(shí)際工程項(xiàng)目應(yīng)用的開發(fā)周期和開發(fā)成本。目前各種調(diào)理模塊僅供開發(fā)人員使用，相信不久就會(huì)以產(chǎn)品的形式為廣大用戶所共享。

　　1)ETP軟件平臺(tái)介紹

　　圖2是ETP軟件架構(gòu)示意圖。上層管理軟件ETP采用C++編程。底層驅(qū)動(dòng)管理模塊SEE(SignaI ExecuteEngine)采用LabVIEW編程。上層管理軟件通過調(diào)用SEE實(shí)現(xiàn)測(cè)試測(cè)量的功能。采用C++開發(fā)，使ETP更具平臺(tái)性和拓展性，最直接的優(yōu)勢(shì)是運(yùn)行效率高。軟件總體框架是：

　　配置文件(資源信息)->ETP引擎->報(bào)表文件(測(cè)試結(jié)果)。在底層驅(qū)動(dòng)中，我們支持NI系列的數(shù)據(jù)采集卡、數(shù)字萬(wàn)用表、波形發(fā)生器、數(shù)字示波器等各種儀器。

　　2)ETP調(diào)理模塊介紹

　　ETP調(diào)理模塊的各調(diào)理單元的主要功能如下：

　　·開關(guān)卡目前設(shè)計(jì)的是2×8的矩陣開關(guān)，輸入接口是USB接口，輸出接口是SMA接口。另外，可以根據(jù)實(shí)際需要，組合不同的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，比如使用兩塊開關(guān)卡，可以組成2×16或4×8的矩陣開關(guān)。

　　·DI調(diào)理卡是數(shù)字信號(hào)輸入調(diào)理板，具備支持多種遠(yuǎn)程輸出類型、光耦隔離、施密特觸發(fā)的功能。

　　·DO調(diào)理卡是數(shù)字信號(hào)輸出調(diào)理板，它是把NI卡的數(shù)字J／O口的數(shù)據(jù)隔離后輸出到被測(cè)板，或控制繼電器輸出；同時(shí)可實(shí)現(xiàn)多種輸出類型，測(cè)試和控制多種被測(cè)對(duì)象。

　　·CTV調(diào)理卡是電流電壓檢測(cè)調(diào)理板，它被設(shè)計(jì)為電源電壓、電流的檢測(cè)電路，能測(cè)量工業(yè)用的電源電壓、電流和功耗。對(duì)電壓的測(cè)量需要外面的降壓設(shè)備把電源電壓降到100V以內(nèi)才能進(jìn)入CTV板。

　　·SAS調(diào)理卡是標(biāo)準(zhǔn)模擬傳感器信號(hào)調(diào)理板，它的主要功能是實(shí)現(xiàn)電壓和電流的檢測(cè)功能。其中的電壓檢測(cè)是通過程控實(shí)現(xiàn)放大、縮小轉(zhuǎn)換至標(biāo)準(zhǔn)電壓信號(hào)。電流檢測(cè)設(shè)計(jì)有電流變送電路，它可以測(cè)試溫度和壓力信號(hào)，通過電流變送電流轉(zhuǎn)換至標(biāo)準(zhǔn)電流信號(hào)，再通過電流轉(zhuǎn)電壓電流，輸出標(biāo)準(zhǔn)電壓信號(hào)。

　　·CD調(diào)理卡是編碼器調(diào)理板，它主要是實(shí)現(xiàn)數(shù)字電平轉(zhuǎn)化。比如，常用的有：正弦信號(hào)轉(zhuǎn)方波信號(hào)，再通過施密特觸發(fā)電路，輸出TTL電平。另外，根據(jù)實(shí)際情況，備選差分轉(zhuǎn)單端和濾波等電路。

　　3)測(cè)試平臺(tái)特性

　　a)適應(yīng)性：

　　·支持近40種信號(hào)100余種參數(shù)的生成和測(cè)量；

　　·測(cè)試流程自動(dòng)化。典型單步測(cè)試時(shí)間≤30ms，滿足生產(chǎn)線對(duì)測(cè)試效率的要求；

　　·接口采用模塊化標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)，保證接口可更換，拆卸方便；

　　·適應(yīng)于眾多儀器，比如NI系列的數(shù)據(jù)采集卡、數(shù)字萬(wàn)用表、波形發(fā)生器、數(shù)字示波器等各種儀器；另外，可支持PLC、獨(dú)立儀器等傳統(tǒng)設(shè)備，保證硬件系統(tǒng)具有廣泛的硬件基礎(chǔ)。

　　b)靈活性：根據(jù)客戶需求改變測(cè)試系統(tǒng)的功能及性能，可自行定義測(cè)試步驟、測(cè)試參數(shù)，支持按需設(shè)置外接設(shè)備和測(cè)試點(diǎn)。

　　c)拓展性：測(cè)試流程編寫、硬件設(shè)置只需通過界面操作即可實(shí)現(xiàn)。

　　d)可靠性：軟硬件充分考慮異常處理機(jī)制，可長(zhǎng)時(shí)間、連續(xù)地?zé)o故障運(yùn)行。

　　5．測(cè)試平臺(tái)應(yīng)用

　　運(yùn)用電子產(chǎn)品功能測(cè)試平臺(tái)的項(xiàng)目開發(fā)流程如圖3所示。我們通過客戶提供的測(cè)試需求，即時(shí)地做出軟硬件設(shè)計(jì)，采用ETP軟件對(duì)各種配置文件進(jìn)行修改。同時(shí)。運(yùn)用強(qiáng)大的TestStand引擎功能編輯測(cè)試流程并進(jìn)行測(cè)試，可以高效地完成測(cè)試任務(wù)。

　　平臺(tái)應(yīng)用特點(diǎn)如下：

　　·流程清晰；

　　·測(cè)試方便；

　　·報(bào)表規(guī)范。

　　平臺(tái)應(yīng)用案例

　　案例名稱：某廠氣象雷達(dá)電路板測(cè)試項(xiàng)目

　　1)某廠氣象雷達(dá)電路板測(cè)試系統(tǒng)被測(cè)對(duì)象是13塊電路板。

　　a)硬件配置

　　·PXI-8106、DMM-4070、FGEN-5421、DSO-5112、PXI-6509、PXI-6713、PXI-8421；

　　·自制信號(hào)調(diào)理機(jī)箱；

　　·自制信號(hào)接口機(jī)箱。

　　b)系統(tǒng)組成

　　本系統(tǒng)硬件由工作臺(tái)、PXI分系統(tǒng)、電源(交直流電源、同步機(jī)等)機(jī)柜、測(cè)試接口機(jī)箱、測(cè)試夾具等構(gòu)成，加上測(cè)試軟件，組成完整的測(cè)試系統(tǒng)。

　　c)系統(tǒng)特性

　　·測(cè)試信號(hào)類型多

　　主要涉及AC SIGNAL、DC SIGNAL、AM SIGNAL、PULSED DC、PULSED DC TRAIN、SQUARE WAVE、WAVEFORM、IMPEDANCE、LOGIC DATA、RS SERIALS COMMUNICATION、SERIALS COMM ADAPTAR等。

　　·測(cè)試點(diǎn)數(shù)特別多

　　13塊電路板，最少板子的測(cè)試點(diǎn)數(shù)也要將近100個(gè)測(cè)試點(diǎn)，最多的板子將近200個(gè)測(cè)試點(diǎn)。

　　2)下面通過對(duì)比來(lái)說(shuō)明運(yùn)用電子產(chǎn)品功能測(cè)試平臺(tái)搭建測(cè)試系統(tǒng)的優(yōu)越性。

　　·人工測(cè)試方法

　　通過使用便攜式傳統(tǒng)儀器，對(duì)每塊電路板進(jìn)行手動(dòng)測(cè)試，同時(shí)人工記錄每次測(cè)試數(shù)據(jù)。有這么多測(cè)試信號(hào)和測(cè)試點(diǎn)，其工作量之大是可想而知的，另外，人工測(cè)試帶來(lái)非儀器精度造成的誤差和過失也是不可避免的。所以，采用這種方式弊端很多：一方面測(cè)試效率低下，另一方面測(cè)試精度很難保證，最終直接導(dǎo)致開發(fā)周期和進(jìn)度很難把控，整個(gè)系統(tǒng)開發(fā)質(zhì)量體系很難建立。

　　·自動(dòng)化測(cè)試方法

　　常見的是通過VXI總線方式，使用各種便攜式傳統(tǒng)儀器，通過各種儀器總線，如GPIB、CAN和LAN等，再編制各種儀器控制面板軟件并逐一進(jìn)行測(cè)試。這種方式帶來(lái)的問題主要是，購(gòu)買各種便攜式傳統(tǒng)儀器價(jià)格昂貴，直接造成開發(fā)成本增加。另外，由于各個(gè)儀器走的是外部總線，會(huì)降低整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性指標(biāo)。再有就是不使用測(cè)試平臺(tái)，對(duì)各種儀器的控制、繼承性和維護(hù)性很差，也會(huì)造成開發(fā)成本增加，開發(fā)周期延長(zhǎng)。

?　　·自動(dòng)化測(cè)試方法

　　首先由于使用PXI總線，采用虛擬儀器技術(shù)，使得我們的測(cè)試系統(tǒng)具有靈活性、高穩(wěn)定性、強(qiáng)通用性。另外，通過使用我們的電子產(chǎn)品功能測(cè)試平臺(tái)，使得測(cè)試各種信號(hào)變得很方便。就拿這套氣象雷達(dá)電路板測(cè)試系統(tǒng)來(lái)說(shuō)，使用我們的平臺(tái)，整個(gè)開發(fā)周期也就控制在1～2個(gè)月以內(nèi)，所做的工作主要有：根據(jù)針對(duì)13 塊電路板的測(cè)試需求，編寫對(duì)應(yīng)的測(cè)試包，包括測(cè)試步驟和路由信息配置以及測(cè)試數(shù)據(jù)報(bào)表格式等。這部分的工作一般都在5～10個(gè)工作日內(nèi)完成，具體根據(jù)測(cè)試需求的復(fù)雜性而定。另外一個(gè)主要的工作就是去設(shè)計(jì)UUT(被測(cè)板)與ATE(各種儀器)之間的調(diào)理模塊。這部分工作隨著我們平臺(tái)配套的硬件調(diào)理模塊的日趨完善和成熟，會(huì)進(jìn)一步縮短整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)搭建的開發(fā)周期。

　　6．結(jié)束語(yǔ)

　　·面對(duì)電子產(chǎn)品功能測(cè)試的挑戰(zhàn)，需要相適應(yīng)的軟硬件系統(tǒng)；

　　·PXI總線技術(shù)在通用電子產(chǎn)品功能測(cè)試平臺(tái)中扮演著重要的角色；

　　·基于LabVIEW、VC和TestStand軟件開發(fā)環(huán)境，泛華測(cè)控成功開發(fā)出了ETP平臺(tái)；

　　·ETP所支持的硬件和測(cè)試信號(hào)類型可進(jìn)一步擴(kuò)充；

　　·ETP已經(jīng)被成功地應(yīng)用到實(shí)際項(xiàng)目中。