隨著SystemVerilog成為IEEE的P1800規(guī)范，越來(lái)越多的項(xiàng)目開(kāi)始采用基于SystemVerilog的驗(yàn)證方法學(xué)來(lái)獲得更多的重用擴(kuò)展性、更全面的功能覆蓋率，以及更合理的層次化驗(yàn)證結(jié)構(gòu)
2014-03-24 14:07:47
3820 定理證明是形式驗(yàn)證技術(shù)中最高大上的，它需要設(shè)計(jì)行為的形式化描述，通過(guò)嚴(yán)格的數(shù)學(xué)證明，比較HDL描述的設(shè)計(jì)和系統(tǒng)的形式化描述在所有可能輸入下是否一致。
2022-07-11 16:34:157855 
形式化工程方法，是以軟件形式化方法理論為基礎(chǔ)，以系統(tǒng)化的工程方法引導(dǎo)工業(yè)界工程人員構(gòu)建高質(zhì)量的軟件模型，用以引導(dǎo)后續(xù)的代碼編寫(xiě)和相關(guān)測(cè)試分析。并選取了工業(yè)實(shí)際場(chǎng)景中的某操作系統(tǒng)的調(diào)度系統(tǒng)的形式化驗(yàn)證
2023-03-24 11:01:262508 
1 簡(jiǎn)介
隨著設(shè)計(jì)的復(fù)雜程度不斷增加，要求把更多的資源放到驗(yàn)證上，不但要求驗(yàn)證能夠覆蓋所有的功能，還希望能夠給出大量的異常情況來(lái)檢查DUT對(duì)應(yīng)異常的處理狀態(tài)，這在傳統(tǒng)測(cè)試方法下往往是難以實(shí)現(xiàn)
2023-08-25 16:45:551548 鑒于MEMS工藝源自光刻微電子工藝，所以人們很自然會(huì)考慮用IC設(shè)計(jì)工具來(lái)創(chuàng)建MEMS器件的掩膜。
2011-12-09 11:44:161078 慣性MEMS三維集成TSV互連技術(shù)通過(guò)提供垂直貫穿慣性MEMS芯片或MEMS專(zhuān)用集成電路IC芯片的TSV互連為兩者層疊式立體化集成提供了便利。
2018-04-02 08:41:1614518 IC認(rèn)證發(fā)證機(jī)構(gòu)(一) IC：由獲得IC場(chǎng)地注冊(cè)代碼的實(shí)驗(yàn)室發(fā)證(二) IC ID： 由FCB / TCB機(jī)構(gòu)審核發(fā)證
2016-12-23 10:35:41
關(guān)于IC設(shè)計(jì)的流程是怎樣的？有關(guān)IC設(shè)計(jì)的方法有哪些？
2021-06-21 07:51:54
。加工工藝：MEMS技術(shù)基于已經(jīng)相當(dāng)成熟的微電子技術(shù)、集成電路技術(shù)及其加工工藝。它與傳統(tǒng)的IC工藝有許多相似之處，如光刻、薄膜沉積、摻雜、刻蝕、化學(xué)機(jī)械拋光工藝等，但是有些復(fù)雜的微結(jié)構(gòu)難以用IC工藝
2016-12-09 17:46:21
重要器件。傳感器發(fā)展到今天，小型化、智能化、集成化，已經(jīng)是升級(jí)換代的必由之路。今天，我們來(lái)為大家介紹一下傳感器家族的mini型產(chǎn)品——--MEMS傳感器。什么是MEMS傳感器？MEMS的全稱(chēng)是微型電子機(jī)械
2018-11-12 10:51:35
所示。在電荷恒定的情況下，此電容變化轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。圖1. MEMS麥克風(fēng)的電容隨聲波的幅度而變化在硅晶圓上制造麥克風(fēng)傳感器元件的工藝與其他集成電路(IC)的制造工藝相似。與ECM制造技術(shù)不同，硅制造工藝
2019-11-05 08:00:00
本文介紹一種應(yīng)用MSP430單片機(jī)測(cè)量溫度的方法，來(lái)代替傳統(tǒng)教學(xué)中相對(duì)落后的熱敏電阻結(jié)合電流表的實(shí)驗(yàn)方法。
2021-05-06 08:41:37
今天更新一篇數(shù)字IC低功耗設(shè)計(jì)方法總結(jié)，內(nèi)容參考的是郭煒老師的書(shū)：《SoC設(shè)計(jì)方法與實(shí)現(xiàn)（第3版）》，希望能給大家?guī)?lái)幫助~
2021-07-29 06:38:58
本文介紹了示波器的特殊使用方法。
2021-05-06 10:36:05
傳統(tǒng)的PCB設(shè)計(jì)依次經(jīng)過(guò)原理圖設(shè)計(jì)、版圖設(shè)計(jì)、PCB制作、測(cè)量調(diào)試等流程，如圖所示。 在原理圖設(shè)計(jì)階段，由于缺乏有效的分析方法和仿真工具，要求對(duì)信號(hào)在實(shí)際PCB上的傳輸特性做出預(yù)分析，原理圖
2018-11-27 15:23:52
傳統(tǒng)靜態(tài)配置方法有什么缺點(diǎn)？MAC地址和IP地址的動(dòng)態(tài)配置方法是什么？傳統(tǒng)靜態(tài)配置方法與動(dòng)態(tài)配置方法的區(qū)別在哪？
2021-05-27 06:51:39
驗(yàn)證方法簡(jiǎn)介 設(shè)計(jì)驗(yàn)證是用于證明設(shè)計(jì)正確性的過(guò)程，要求和規(guī)格。 在數(shù)字設(shè)計(jì)流程中，驗(yàn)證可確保芯片按照設(shè)計(jì)意圖正確運(yùn)行，然后再將設(shè)計(jì)送去制造。 具體來(lái)說(shuō)，驗(yàn)證方法是驗(yàn)證集成電路設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)化方法。 驗(yàn)證
2022-02-13 17:03:49
到MEMS.這個(gè)施加的電壓將產(chǎn)生一個(gè)靜電力并作用到MEMS質(zhì)量塊上。因此最終形成的系統(tǒng)被稱(chēng)為力反饋系統(tǒng)。然而，電容有一個(gè)二次的電壓比力關(guān)系，它會(huì)限制系統(tǒng)的線性度。 克服電壓比力（V/F）二次關(guān)系負(fù)擔(dān)的一種方法
2018-12-05 15:12:05
我們都知道，在調(diào)試FPGA代碼時(shí)，大多會(huì)使用Signaltap 或者 modelsim作為調(diào)試工具，（或者XILINX用chipScope）但是這些調(diào)試要不是只能滿(mǎn)足單純的邏輯驗(yàn)證，要不只能抓取很短的一段時(shí)間，都無(wú)法滿(mǎn)足，在大數(shù)據(jù)量的情況下，怎么查看是否出現(xiàn)錯(cuò)誤不知道大家有什么好的解決方法沒(méi)
2018-01-04 17:17:57
FPGA基本原理及設(shè)計(jì)思想和驗(yàn)證方法看完你就懂了
2021-09-18 07:08:52
時(shí)序仿真的重要性是什么傳統(tǒng)的FPGA驗(yàn)證方法是什么FPGA設(shè)計(jì)的驗(yàn)證技術(shù)及應(yīng)用原則是什么
2021-05-08 09:05:32
本文介紹了HSDPA與傳統(tǒng)WCDMA的區(qū)別，并介紹了HSDPA對(duì)測(cè)試設(shè)備及方法提出的新要求。
2021-05-27 06:16:09
設(shè)計(jì)并調(diào)試鎖相環(huán)(PLL)電路可能會(huì)很復(fù)雜，除非工程師深入了解PLL理論以及邏輯開(kāi)發(fā)過(guò)程。本文介紹PLL設(shè)計(jì)的簡(jiǎn)易方法，并提供有效、符合邏輯的方法調(diào)試PLL問(wèn)題。
2019-07-08 08:02:17
SystemVerilog 的VMM 驗(yàn)證方法學(xué)教程教材包含大量經(jīng)典的VMM源代碼，可以實(shí)際操作練習(xí)的例子，更是ic從業(yè)人員的絕佳學(xué)習(xí)資料。SystemVerilog 的VMM 驗(yàn)證方法學(xué)教程教材[hide][/hide]
2012-01-11 11:21:38
我有4個(gè)方法可以解決IC傳統(tǒng)采購(gòu)的困惑。 1、 盡可能尋找固定的合作伙伴。選擇供貨商時(shí)應(yīng)盡量挑選那些規(guī)模及經(jīng)營(yíng)方式與本企業(yè)要求相匹配的廠家
2010-10-26 15:03:52
有關(guān)CDC驗(yàn)證的一些技術(shù)與方法
2021-03-30 14:37:50
的多路頻率不同的時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)同一個(gè)LED閃爍模塊，通過(guò)比較LED閃爍的頻率來(lái)驗(yàn)證PLL對(duì)時(shí)鐘信號(hào)的正確管理。另外，視頻還介紹了Verilog語(yǔ)法中非常有用的一種技巧——參數(shù)化設(shè)計(jì)。參數(shù)化設(shè)計(jì)能給
2015-11-11 09:15:48
溫度變化而引起的誤差，即必須對(duì)傳感器進(jìn)行溫度補(bǔ)償。 隨著微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）技術(shù)在微型化技術(shù)基礎(chǔ)上，結(jié)合了電子、機(jī)械、材料等多種學(xué)科交叉融合的前沿科研領(lǐng)域的不斷發(fā)展與成熟，從而出現(xiàn)了很多
2018-11-06 15:51:47
本文介紹了基于SAR ADC的系統(tǒng)和基于sigma-delta (∑-Δ) ADC的分布式數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)同步的傳統(tǒng)方法，且探討了這兩種架構(gòu)之間的區(qū)別。我們還將討論同步多個(gè)Σ-Δ ADC時(shí)遇到的典型不便
2021-01-11 06:44:47
1 簡(jiǎn)介隨著設(shè)計(jì)的復(fù)雜程度不斷增加，要求把更多的資源放到驗(yàn)證上，不但要求驗(yàn)證能夠覆蓋所有的功能，還希望能夠給出大量的異常情況來(lái)檢查DUT對(duì)應(yīng)異常的處理狀態(tài)，這在傳統(tǒng)測(cè)試方法下往往是難以實(shí)現(xiàn)的。此外
2019-07-03 07:40:26
1 簡(jiǎn)介 隨著設(shè)計(jì)的復(fù)雜程度不斷增加，要求把更多的資源放到驗(yàn)證上，不但要求驗(yàn)證能夠覆蓋所有的功能，還希望能夠給出大量的異常情況來(lái)檢查DUT對(duì)應(yīng)異常的處理狀態(tài)，這在傳統(tǒng)測(cè)試方法下往往是難以實(shí)現(xiàn)的。此外
2019-07-01 08:15:47
請(qǐng)教各位大佬，UVM是基于sv的驗(yàn)證方法學(xué)，如果采用systemc語(yǔ)言編程，如何實(shí)現(xiàn)？
2019-11-07 15:30:16
數(shù)字設(shè)計(jì)及驗(yàn)證技術(shù)演進(jìn)的概觀現(xiàn)代化IC設(shè)計(jì)環(huán)境必須強(qiáng)化的方法
2021-04-09 06:17:44
介紹一個(gè)簡(jiǎn)單方法應(yīng)用于測(cè)量和優(yōu)化一個(gè)開(kāi)關(guān)系統(tǒng)的控制回路，一個(gè)在真實(shí)環(huán)境中實(shí)施控制回路測(cè)量的直截了當(dāng)方法，還會(huì)介紹一個(gè)使用標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算工具的優(yōu)化方法。
2018-08-27 14:02:17
一個(gè)支持HART的模擬輸入的傳統(tǒng)部署方法
2021-03-01 08:33:03
機(jī)床數(shù)控化改造的必要性及其改造方法 ： 本文首先介紹了機(jī)床數(shù)控化改造的必要性，然后簡(jiǎn)單介紹了機(jī)床數(shù)控化改造的內(nèi)容及其的優(yōu)缺點(diǎn)，而重點(diǎn)在于介紹如何進(jìn)行機(jī)床數(shù)控化改造，包括數(shù)控系統(tǒng)的選擇、數(shù)控改造中
2021-09-09 08:27:52
固網(wǎng)短信電話專(zhuān)用SoC芯片介紹一種數(shù)模混合SoC設(shè)計(jì)協(xié)同仿真的驗(yàn)證方法
2021-04-23 06:06:39
電網(wǎng)諧波的傳統(tǒng)檢測(cè)方法有哪幾種？基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的有源電力濾波器應(yīng)用研究
2021-05-13 07:03:58
硬件驗(yàn)證方法簡(jiǎn)明介紹本書(shū)“硬件驗(yàn)證方法簡(jiǎn)明介紹”是“半導(dǎo)體 IP 核——不僅僅是設(shè)計(jì)”系列叢書(shū)中“驗(yàn)證 IP 和 IP 核驗(yàn)證”的一部分。本書(shū)調(diào)查、處理和介紹了 IC 驗(yàn)證中涉及的一些關(guān)鍵方法、工具
2022-11-26 20:43:20
35kv戶(hù)外柱上高壓真空斷路器廠家選型方法陜西平高智能電氣有限公司35kv戶(hù)外高壓真空斷路器選型方法-今天小編帶大家了解一下：35KV高壓真空斷路器具有較長(zhǎng)的電壽命、機(jī)械壽命、開(kāi)斷絕緣能力大、連續(xù)開(kāi)
2022-04-15 15:58:30
在介紹嵌入式 SoC IC 概念的基礎(chǔ)上，介紹基于重用（re-use）的 SoC IC 設(shè)計(jì)方法和流程， 涉及滿(mǎn)足時(shí)序要求、版圖設(shè)計(jì)流程和測(cè)試設(shè)計(jì)的問(wèn)題， 并給出設(shè)計(jì)計(jì)劃考慮項(xiàng)目。
2009-05-13 16:09:42
28 論述了微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)器件縮減模型的建立是進(jìn)行MEMS系統(tǒng)級(jí)模擬的關(guān)鍵。論證了基于線性正交振型建立MEMS器件縮減模型是一種有效的方法，導(dǎo)出了MEMS器件動(dòng)態(tài)縮減模型的微分方
2009-05-28 11:19:0617 本文首先介紹RVM驗(yàn)證方法學(xué)和覆蓋率驅(qū)動(dòng)技術(shù)，然后詳細(xì)分析如何使用結(jié)合覆蓋率驅(qū)動(dòng)技術(shù)的RVM驗(yàn)證方法學(xué)對(duì)SOC(System On Chip)進(jìn)行完備的功能驗(yàn)證, 最
2009-09-05 08:53:0015 ESL 設(shè)計(jì)和驗(yàn)證方法使設(shè)計(jì)工程師能夠?qū)Ｗ⒂谀切┙o產(chǎn)品及IP 帶來(lái)差異化和價(jià)值的系統(tǒng)設(shè)計(jì)屬性，即功能性和性能。本文討論電子系統(tǒng)級(jí)(ESL)設(shè)計(jì)和驗(yàn)證方法學(xué)在系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)設(shè)
2009-11-30 16:15:1533 VMM驗(yàn)證方法在AXI總線系統(tǒng)中的實(shí)現(xiàn):本文基于中科院計(jì)算所某項(xiàng)目實(shí)際工作，介紹如何利用高級(jí)驗(yàn)證語(yǔ)言、驗(yàn)證基本庫(kù)、以及成熟的驗(yàn)證模型，快速建立可隨機(jī)產(chǎn)生測(cè)試向量、向量場(chǎng)
2009-12-14 09:26:5532 本文介紹了基于事務(wù)的SoC驗(yàn)證方法,詳細(xì)說(shuō)明了事務(wù)、事務(wù)處理器的概念和事務(wù)級(jí)驗(yàn)證平臺(tái)的功能結(jié)構(gòu)。Synopsys公司的RVM驗(yàn)證方法學(xué)是當(dāng)前比較流行的基于事務(wù)的SoC驗(yàn)證方法,文中詳細(xì)
2010-02-24 11:44:048 DDR驗(yàn)證和調(diào)試的高級(jí)方法:Memory Design and ValidationChip/Component DesignPrecise understanding of circuit
2010-06-29 17:16:1321 的區(qū)域內(nèi)無(wú)法使用有線的溫度驗(yàn)證儀對(duì)設(shè)備進(jìn)行驗(yàn)證，這個(gè)時(shí)候就需要選擇無(wú)線的來(lái)代替有線。傳統(tǒng)的溫度測(cè)試方法需要人工手持溫度計(jì)進(jìn)行測(cè)試，不僅費(fèi)時(shí)費(fèi)力，還容易受到環(huán)境因素的干
2023-12-20 10:10:23
本文介紹了一種MEMS 器件設(shè)計(jì)，及在Cadence Virtuoso 設(shè)計(jì)環(huán)境與集成電子產(chǎn)品一起仿真的新方法。采用德州儀器的數(shù)字微反射鏡器件（DMD）的例子，我們展示新的MEMS - IC 設(shè)計(jì)方法如何可
2010-09-23 11:42:150 YY/T 1898—2024親水性涂層牢固度試驗(yàn)方法YY/T 1898—2024親水性涂層牢固度試驗(yàn)方法是為了評(píng)估血管內(nèi)使用的帶親水潤(rùn)滑涂層醫(yī)用導(dǎo)管導(dǎo)絲的涂層牢固度而設(shè)計(jì)的。外觀檢查法：這種方法主要
2024-06-27 14:37:12
面向未來(lái)的IC設(shè)計(jì)方法
2009-03-28 15:09:59737 一種全新的深亞微米IC設(shè)計(jì)方法
本文分析了傳統(tǒng)IC設(shè)計(jì)流程存在的一些缺陷，并且提出了一種基于Logical Effort理論的全新IC設(shè)計(jì)方法。
眾所周知，傳統(tǒng)的IC設(shè)計(jì)流
2009-12-27 13:28:50896 
采用PC的IC工具降低MEMS設(shè)計(jì)方法
鑒于MEMS工藝源自光刻微電子工藝，所以人們很自然會(huì)考慮用IC設(shè)計(jì)工具來(lái)創(chuàng)建MEMS器件的
2010-03-11 14:23:33607 本文分析現(xiàn)有的測(cè)試性驗(yàn)證評(píng)估方法，使用更加合理的超幾何分布法。該方法不僅需要的樣本量較少，而且準(zhǔn)確率更高，縮短了時(shí)間，是一種更為有效的方法。根據(jù)這一理論方法指導(dǎo)，使用更人性化的LabWindows/CVI編程語(yǔ)言，進(jìn)行界面設(shè)計(jì)和編程實(shí)現(xiàn)，將其應(yīng)用到工程實(shí)
2011-01-18 08:47:142314 
功能驗(yàn)證已經(jīng)成為集成電路設(shè)計(jì)和開(kāi)發(fā)的瓶頸，這就使得驗(yàn)證的方法逐漸受到業(yè)界人士的高度重視。工程師們?cè)谠O(shè)計(jì)時(shí)不可能考慮到萬(wàn)無(wú)一失，所以很多系統(tǒng)行為是不能緊緊通過(guò)測(cè)試文
2011-04-19 11:48:271104 文章主要介紹《VMM for SystemVerilog》一書(shū)描述的如何利用SystemVerilog語(yǔ)言，采用驗(yàn)證方法學(xué)以及驗(yàn)證庫(kù)開(kāi)發(fā)出先進(jìn)驗(yàn)證環(huán)境。文章分為四部分，第一部分概述了用SystemVerilog語(yǔ)言驗(yàn)證復(fù)雜S
2011-05-09 15:22:0253 介紹了基于深亞微米 CMOS 工藝A S IC 電路設(shè)計(jì)流程中的靜態(tài)驗(yàn)證方法。將這種驗(yàn)證方法與以往的動(dòng)態(tài)驗(yàn)證方法進(jìn)行了比較, 結(jié)果表明, 前者比后者更加高效和準(zhǔn)確。由此可以說(shuō)明, 靜態(tài)驗(yàn)證
2011-06-21 15:05:000 隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展，驗(yàn)證已經(jīng)逐漸成為大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)的主要瓶頸。首先介紹傳統(tǒng)的功能驗(yàn)證方法并剖析其優(yōu)缺點(diǎn)，然后引入傳統(tǒng)方法的一種改進(jìn)基于覆蓋率的驗(yàn)證方法，最后
2011-06-29 10:46:0622 提出了一種基于結(jié)構(gòu)組件庫(kù)的 MEMS 概念設(shè)計(jì)方法。給出了結(jié)構(gòu)組件的表征形式,探討了基于功能分解的結(jié)構(gòu)組件模型獲取方法,借以形成支持概念設(shè)計(jì)的結(jié)構(gòu)組件模型庫(kù)。闡明了MEMS概念設(shè)
2011-07-27 16:49:0735 本文分析了傳統(tǒng)IC設(shè)計(jì)流程存在的一些缺陷，并且提出了一種基于Logical Effort理論的全新IC設(shè)計(jì)方法。
2012-03-12 11:55:441976 
基于UVM的CAN模塊自驗(yàn)證方法_熊濤
2017-01-08 14:47:533 詳細(xì)介紹了陀螺零漂的方法
2017-10-14 09:27:3210 IC設(shè)計(jì)流程和方法復(fù)旦講義
2017-10-18 10:13:5523 應(yīng)用于宇航領(lǐng)域的新型元器件必須經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的性能功能的驗(yàn)證，傳統(tǒng)的驗(yàn)證平臺(tái)是針對(duì)特定的待驗(yàn)證器件設(shè)計(jì)的，不同的器件需要設(shè)計(jì)不同的驗(yàn)證平臺(tái)，使得驗(yàn)證工作周期長(zhǎng)、成本高、可移植性差。本文介紹基于FPGA
2017-11-17 03:00:451621 
設(shè)計(jì)了一種基于FPGA的驗(yàn)證平臺(tái)及有效的SoC驗(yàn)證方法，介紹了此FPGA驗(yàn)證軟硬件平臺(tái)及軟硬件協(xié)同驗(yàn)證架構(gòu)，討論和分析了利用FPGA軟硬件協(xié)同系統(tǒng)驗(yàn)證SoC系統(tǒng)的過(guò)程和方法。利用此軟硬件協(xié)同驗(yàn)證
2017-11-17 03:06:0121471 
設(shè)計(jì)了一種基于FPGA的驗(yàn)證平臺(tái)及有效的SoC驗(yàn)證方法，介紹了此FPGA驗(yàn)證軟硬件平臺(tái)及軟硬件協(xié)同驗(yàn)證架構(gòu)，討論和分析了利用FPGA軟硬件協(xié)同系統(tǒng)驗(yàn)證SoC系統(tǒng)的過(guò)程和方法。利用此軟硬件協(xié)同驗(yàn)證
2017-11-17 03:06:015211 
由于系統(tǒng)的巨大規(guī)模，操作系統(tǒng)設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)的正確性很難用傳統(tǒng)的方法進(jìn)行描述和驗(yàn)證．在匯編層形式化地對(duì)系統(tǒng)模塊的功能語(yǔ)義進(jìn)行建模，提出一種匯編級(jí)的系統(tǒng)狀態(tài)模型，作為匯編語(yǔ)言層設(shè)計(jì)和驗(yàn)證的紐帶．通過(guò)定義系統(tǒng)
2018-01-05 14:45:571 針對(duì)某型火箭第三級(jí)發(fā)動(dòng)機(jī)尾噴管姿態(tài)控制的電動(dòng)伺服機(jī)構(gòu)可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)方法開(kāi)展研究，采用Weibull分布模型確定了電動(dòng)伺服系統(tǒng)的可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)的試驗(yàn)時(shí)間，同時(shí)在對(duì)電動(dòng)伺服系統(tǒng)任務(wù)階段的環(huán)境應(yīng)力和工作
2018-03-27 10:37:291 有關(guān)FPGA設(shè)計(jì)驗(yàn)證的相關(guān)方法
2018-04-03 15:01:4110 。實(shí)際上，許多IoT邊緣器件會(huì)在單個(gè)封裝中集成多個(gè)芯片，將電子器件與MEMS設(shè)計(jì)分開(kāi)。Tanner AMS IC設(shè)計(jì)流程支持單芯片或多芯片技術(shù)，因而有助于成功實(shí)現(xiàn)IoT邊緣器件的設(shè)計(jì)和驗(yàn)證。不過(guò)，本文將著重介紹在單個(gè)芯片上融合CMOS IC與MEMS設(shè)計(jì)的獨(dú)特挑戰(zhàn)。
2018-08-02 18:55:166016 近日，西門(mén)子旗下業(yè)務(wù)Mentor宣布推出一種創(chuàng)新的可測(cè)試性設(shè)計(jì) (DFT) 自動(dòng)化方法 — Tessent Connect，可提供意圖驅(qū)動(dòng)的分層測(cè)試實(shí)現(xiàn)。與傳統(tǒng)的 DFT 方法相比，該方法可幫助 IC 設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)以更少的資源實(shí)現(xiàn)更快的制造測(cè)試質(zhì)量目標(biāo)。
2019-12-04 15:54:494414 的增大以及設(shè)計(jì)周期的壓縮，傳統(tǒng)驗(yàn)證技術(shù)已經(jīng)不能再滿(mǎn)足日益增長(zhǎng)的驗(yàn)證需求，驗(yàn)證方法學(xué)應(yīng)運(yùn)而生，目前，UVM驗(yàn)證方法學(xué)已經(jīng)成為應(yīng)用最廣泛的方法學(xué)。
2020-01-27 17:21:008023 
介紹了半導(dǎo)體IC制程中存在的各種污染物類(lèi)型及其對(duì)IC制程的影響和各種污染物的去除方法， 并對(duì)濕法和干法清洗的特點(diǎn)及去除效果進(jìn)行了分析比較。
2021-04-09 09:55:2172 一種簡(jiǎn)易的MEMS陀螺儀標(biāo)定方法
2021-06-11 14:31:0016 MEMS陀螺捷聯(lián)慣導(dǎo)系統(tǒng)標(biāo)定方法綜述
2021-08-05 16:54:136 基于 HDL 的軟件仿真很可能仍然是首選的驗(yàn)證引擎，尤其是在驗(yàn)證過(guò)程的早期階段（例如，在 IP 和子系統(tǒng)級(jí)別），因?yàn)樗砹艘环N經(jīng)濟(jì)、易于使用且快速上手的方法- 設(shè)置 EDA 工具。
2022-07-05 09:22:163904 
本文主要講述了Linux的QSPI驅(qū)動(dòng)移植方法及驗(yàn)證方法。
2023-04-14 10:20:415014 
本文主要講述了U-boot的QSPI驅(qū)動(dòng)移植方法及驗(yàn)證方法。在產(chǎn)品調(diào)試階段，U-boot的driver子系統(tǒng)包含了豐富的外設(shè)驅(qū)動(dòng)，方便外設(shè)功能驗(yàn)證與調(diào)試。
2023-04-14 10:21:504671 
隨著RISC-V處理器的快速發(fā)展，如何保證其正確性成為了一個(gè)重要的問(wèn)題。傳統(tǒng)的測(cè)試方法只能覆蓋一部分錯(cuò)誤情況，而且無(wú)法完全保證處理器的正確性。因此，基于形式驗(yàn)證的方法成為了一個(gè)非常有前途的方法，可以更加全面地驗(yàn)證處理器的正確性。本文將介紹一種基于形式驗(yàn)證的高效RISC-V處理器驗(yàn)證方法。
2023-06-02 10:35:172127 IC驗(yàn)證，即集成電路驗(yàn)證（Integrated Circuit Verification），是指針對(duì)硬件設(shè)計(jì)中的集成電路（IC）進(jìn)行的一系列功能驗(yàn)證、性能驗(yàn)證和正確性驗(yàn)證的過(guò)程。它是電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化（EDA）領(lǐng)域中非常重要的環(huán)節(jié)，用于確保設(shè)計(jì)的集成電路在實(shí)際生產(chǎn)中能夠正常運(yùn)行。
2023-07-24 15:45:186210 密封完整性檢查方法驗(yàn)證是為了證明針對(duì)不同包裝形式，選用的試驗(yàn)方法滿(mǎn)足相應(yīng)的檢測(cè)要求，關(guān)注方法靈敏度的考察，明確檢測(cè)方法的檢出能力。在方法驗(yàn)證時(shí)應(yīng)結(jié)合所選擇的方法開(kāi)展方法學(xué)的驗(yàn)證，系統(tǒng)的方法學(xué)研究可
2023-07-27 14:51:451793 
ic驗(yàn)證是封裝與測(cè)試么？? IC驗(yàn)證是現(xiàn)代電子制造過(guò)程中非常重要的環(huán)節(jié)之一，它主要涉及到芯片產(chǎn)品的驗(yàn)證、測(cè)試、批量生產(chǎn)以及質(zhì)量保證等方面。 IC驗(yàn)證包含兩個(gè)重要的環(huán)節(jié)，即芯片設(shè)計(jì)驗(yàn)證和芯片生產(chǎn)驗(yàn)證
2023-08-24 10:42:131683 參數(shù)掃描工具在電路的設(shè)計(jì)和驗(yàn)證階段非常有用，通過(guò)掃描某個(gè)變量的一組值可以輕松找到此參數(shù)的最佳值，減少手動(dòng)優(yōu)化的次數(shù)。以下將介紹在Cadence IC中兩種參數(shù)掃描的方法。
2023-09-11 15:52:4013824 
本文介紹了一種測(cè)量MEMS梳狀驅(qū)動(dòng)器動(dòng)、靜態(tài)電容的方法。采用了的峰值檢測(cè)方法對(duì)調(diào)制信號(hào)進(jìn)行解調(diào)，提高了動(dòng)態(tài)電容的精度。
2023-10-17 15:02:062669 
3D-IC 設(shè)計(jì)之早期三維布圖綜合以及層次化設(shè)計(jì)方法
2023-12-04 16:53:581506 
和封裝成本。本文討論不同的半導(dǎo)體 MEMS 制造方法及其進(jìn)展。 半導(dǎo)體 MEMS 的重要性 MEMS 主要是傳感器系統(tǒng)，可以控制或感測(cè)化學(xué)、光學(xué)或物理量，例如流體、加速度或輻射。MEMS 設(shè)備/傳感器擁有與外界的電氣接口，通常通過(guò) IC 實(shí)現(xiàn)，IC 提供必要的智能，使設(shè)備能
2023-11-24 09:19:311058 電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《開(kāi)源VHDL驗(yàn)證方法 (OSVVM).docx》資料免費(fèi)下載
2023-12-26 09:57:580 清微智能在本周宣布新型專(zhuān)利“一種IC驗(yàn)證中實(shí)現(xiàn)雙DUT驗(yàn)證的方法”已于今年3月獲批。該項(xiàng)專(zhuān)利內(nèi)容由該集團(tuán)獨(dú)立研究，申請(qǐng)日期優(yōu)先于2024年3月26日。
2024-04-08 10:07:381236 
在機(jī)器學(xué)習(xí)中，交叉驗(yàn)證（Cross-Validation）是一種重要的評(píng)估方法，它通過(guò)將數(shù)據(jù)集分割成多個(gè)部分來(lái)評(píng)估模型的性能，從而避免過(guò)擬合或欠擬合問(wèn)題，并幫助選擇最優(yōu)的超參數(shù)。本文將詳細(xì)探討幾種
2024-07-10 16:08:503613 近年來(lái)IC設(shè)計(jì)的規(guī)模和復(fù)雜度不斷增大，產(chǎn)品的迭代周期越來(lái)越短，傳統(tǒng)的驗(yàn)證方式已經(jīng)難以滿(mǎn)足設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)的要求。在“設(shè)計(jì)左移”這一理念的趨勢(shì)下，設(shè)計(jì)流程和方法學(xué)不斷進(jìn)行創(chuàng)新和優(yōu)化，其中，具備“設(shè)計(jì)左移”思想
2024-09-03 10:15:052508 
： EDA工具通過(guò)軟件自動(dòng)化大部分設(shè)計(jì)流程，包括電路設(shè)計(jì)、仿真、驗(yàn)證和布局布線等。這種自動(dòng)化不僅提高了設(shè)計(jì)效率，還減少了人為錯(cuò)誤的可能性。 傳統(tǒng)方法： 傳統(tǒng)設(shè)計(jì)方法依賴(lài)于手工繪圖和計(jì)算，流程繁瑣且容易出錯(cuò)。設(shè)計(jì)師需要手動(dòng)完成電路圖的繪制
2024-11-08 13:47:131996 在上一篇文章中，我們介紹了機(jī)器學(xué)習(xí)的關(guān)鍵概念術(shù)語(yǔ)。在本文中，我們會(huì)介紹傳統(tǒng)機(jī)器學(xué)習(xí)的基礎(chǔ)知識(shí)和多種算法特征，供各位老師選擇。 01 傳統(tǒng)機(jī)器學(xué)習(xí) 傳統(tǒng)機(jī)器學(xué)習(xí)，一般指不基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的算法，適合
2024-12-30 09:16:182074 
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