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新型光刻技術(shù)解決硅材料脆性難題,MEMS機(jī)械性能極限有望突破

MEMS ? 來源:MEMS ? 2020-06-24 10:19 ? 次閱讀
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據(jù)麥姆斯咨詢介紹,硅材料從大自然常見的沙子中取材,成本低、產(chǎn)量大,因此被廣泛用作MEMS器件的襯底材料,并被譽(yù)為信息時代的“骨干”材料。但是,硅在常溫環(huán)境下的脆性限制了MEMS的許多機(jī)械性能。蘇黎世聯(lián)邦理工學(xué)院(ETH)與瑞士國家聯(lián)邦實驗室(EMPA)材料與納米結(jié)構(gòu)力學(xué)實驗室合作完成的新研究表明,在特定的受控條件下,硅可以成為又容易變形又堅固的材料。此項功能特性的增強(qiáng)將有助于解決MEMS機(jī)械性能極限難題。

電子顯微鏡下的硅柱形貌


歷經(jīng)十年的研究成果

聯(lián)合小組經(jīng)過長達(dá)十年的研究,重點是采用光刻工藝替代聚焦離子束(FIB)工藝來完成在硅晶圓上的結(jié)構(gòu)制作。FIB雖然可以實現(xiàn)硅晶圓結(jié)構(gòu),但會對硅表面造成損傷并產(chǎn)生缺陷,硅晶圓開裂的風(fēng)險較高。

為了找到替代方案,研究團(tuán)隊嘗試了一套特殊光刻技術(shù)。“首先,我們使用等離子體氣體刻蝕硅表面無光刻膠保護(hù)的區(qū)域,從而獲得我們所需的結(jié)構(gòu)——微型硅柱?!痹撗芯啃〗M負(fù)責(zé)人Jeff Wheeler的學(xué)生Ming Cheng解釋說,“在接下來的工藝步驟中,硅柱表面被氧化,氧化層厚度小于100 nm,再用氟化氫(HF)完全去除氧化層,完成表面清潔。”

研究團(tuán)隊對硅柱的強(qiáng)度和塑性變形能力進(jìn)行了測試,稱已經(jīng)達(dá)到了超高的彈性應(yīng)變極限和接近完美的強(qiáng)度——用光刻技術(shù)制作的硅柱變形能力是過去研究記錄的十倍以上。

左圖為硅柱制造流程示意圖,右圖為電子顯微鏡下的硅柱形貌展示

在電子顯微鏡下觀察不同直徑尺寸的硅柱


實現(xiàn)“絕對純度”,接近理論水平的堅固度

研究結(jié)果表明不僅硅柱的變形能力比過去增強(qiáng)了十倍,強(qiáng)度也達(dá)到了以往認(rèn)知中只有理想晶體才能達(dá)到的理論水平。根據(jù)Wheeler介紹,硅柱如此堅固的原因來自硅柱表面的“絕對純度”,這是通過最后的清潔步驟實現(xiàn)的。該工藝大大減少了會導(dǎo)致硅材料開裂的表面缺陷數(shù)量。

采用光刻工藝完成的硅柱(實線)和FIB工藝完成的硅柱(虛線)在恒定應(yīng)變速率為5 × 10?? s?1變化下的應(yīng)力曲線對比


Wheeler還指出,團(tuán)隊的研究結(jié)果可能會對硅基MEMS制造產(chǎn)生直接而深刻的影響:“通過這種工藝,有望將智能手機(jī)中的MEMS陀螺儀做得更小、更堅固?!?br />
Wheeler及其團(tuán)隊研究的工藝方法已經(jīng)被業(yè)界采用,用于改善現(xiàn)有工藝,以及晶體結(jié)構(gòu)與硅類似的其它材料性能。

該項研究帶來的另一個優(yōu)點是可以改善材料的電性能。對硅施加較大的應(yīng)力可以改善電子遷移率,將該結(jié)構(gòu)集成到半導(dǎo)體芯片中可以縮短開關(guān)時間。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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原文標(biāo)題:新型光刻技術(shù)解決硅材料脆性難題,MEMS機(jī)械性能極限有望突破

文章出處:【微信號:MEMSensor,微信公眾號:MEMS】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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