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比較PCB質(zhì)量控制選項(xiàng):確保正確構(gòu)建電路板

PCB打樣 ? 2020-10-12 18:52 ? 次閱讀
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發(fā)現(xiàn)您設(shè)計(jì)并急切地等待從制造商處接收的PCB是無(wú)法使用的,這是沒(méi)人愿意接收的令人不愉快的驚喜。在本文中,我比較了PCB質(zhì)量控制選項(xiàng),以便您可以確保正確構(gòu)建下一塊板。

為了最大程度地減少甚至消除這種令人不快的可能性,您應(yīng)確保制造商制定良好的PCB質(zhì)量控制(QC)措施。實(shí)際上,向您的合同制造商(CM)詢問(wèn)他們對(duì)質(zhì)量控制的承諾以及他們使用的質(zhì)量控制技術(shù)應(yīng)是您在選擇PCB制造和組裝服務(wù)提供商。為了幫助您評(píng)估CM優(yōu)先考慮PCB質(zhì)量控制的程度,讓我們檢查一些通常用于確保正確構(gòu)建電路板的技術(shù)。

PCB制造質(zhì)量控制

PCB制造過(guò)程的第一階段是裸板(無(wú)組件)的制造。在這里,用于PCB建設(shè)的材料質(zhì)量是一個(gè)重要的問(wèn)題。但是,當(dāng)務(wù)之急是確保布局保持設(shè)計(jì)真實(shí),同時(shí)遵守公差限制。板邊間隙, 鉆洞焊盤,走線和其他元素之間的間距。為了確保解決這些質(zhì)量控制問(wèn)題,您的CM可以執(zhí)行以下測(cè)試:

l制造設(shè)計(jì)(DFM) –根據(jù)CM的設(shè)備限制檢查設(shè)計(jì)文件。在搭建電路板之前,大多數(shù)違規(guī)行為都需要糾正。

l電氣測(cè)試

n飛針E測(cè)試–這是一種檢查連續(xù)性的非侵入性測(cè)試,通常用于原型運(yùn)行。

n釘床測(cè)試–這是用于生產(chǎn)運(yùn)行的傳統(tǒng)在線測(cè)試(ICT)。它利用具有多個(gè)引腳的電子夾具來(lái)接觸PCB上的測(cè)試點(diǎn)。

l手動(dòng)檢查工程師目視檢查電路板是否有錯(cuò)誤或多余的碎屑?xì)埩粼诒砻嫔稀?/span>

l自動(dòng)化光學(xué)檢查(AOI) –盡管所使用的設(shè)備級(jí)別因CM的不同而不同,但該測(cè)試比手動(dòng)目視檢查更可靠且可重復(fù)。AOI可以識(shí)別以下問(wèn)題。

n線寬違規(guī)

n違反間距

n多余的銅

n缺少護(hù)墊或其他元件

n短路

n切割痕跡或墊

n鉆孔破損(通過(guò)焊盤外部)

l時(shí)域反射儀–該測(cè)試用于測(cè)量被測(cè)設(shè)備(DUT)的特征阻抗。這對(duì)于阻抗不匹配可能導(dǎo)致信號(hào)失真的差分走線尤其重要。

l鋸切–這種破壞性測(cè)試涉及將板切成兩半或幾部分,目的是目視檢查層堆疊。

除了確保電路板本身使用高質(zhì)量的材料之外,您還需要確定上述哪些QC措施符合您的PCB制造QC最低標(biāo)準(zhǔn)。請(qǐng)注意,許多制造商僅對(duì)原型進(jìn)行DRC和手動(dòng)檢查。

零件采購(gòu)的PCB質(zhì)量控制

PCB制造過(guò)程的下一步是連接組件。零件采購(gòu)質(zhì)量控制從選擇零件開(kāi)始。讓成本成為進(jìn)行這些選擇的主要指南可能很誘人。但是,還有其他考慮。優(yōu)化組件采購(gòu)需要良好的質(zhì)量控制,因?yàn)樵诮M件采購(gòu)方面的任何延遲都可能使PCB制造過(guò)程停頓或需要將來(lái)的設(shè)計(jì)變更。為了最大程度地減少潛在問(wèn)題,可以采取以下質(zhì)量控制步驟:

lBOM驗(yàn)證–這些檢查是為了確保BOM中的組件與PCB設(shè)計(jì)匹配。

n制造商零件號(hào)(MPN)驗(yàn)證– MPN可能不正確,并可能導(dǎo)致獲得錯(cuò)誤的組件。單個(gè)錯(cuò)誤的數(shù)字可能會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)誤的包裝類型。此錯(cuò)誤導(dǎo)致時(shí)間損失和額外成本。

n組件參考標(biāo)識(shí)符驗(yàn)證–這是BOM中的唯一標(biāo)識(shí)符。如果這是不正確的,則獲取的組件數(shù)量可能是錯(cuò)誤的。

n組件制造狀態(tài)檢查–確保組件可用于將來(lái)的生產(chǎn)。

lMPN –足跡匹配–此處的錯(cuò)誤可能違反焊料釋放和組件間距要求。如果組件和占地面積不匹配,將使組裝停頓。

l套件精度–如果套件組件不正確,將導(dǎo)致大量的延遲和額外的費(fèi)用。

l使用可靠的供應(yīng)商–確保不使用偽造的組件。

l文檔審查–審查組件運(yùn)輸文檔中是否有錯(cuò)誤。

l外觀檢查–這有助于確保組件與您的訂單和文檔相匹配。

l可焊性測(cè)試–這是一種加速“老化”過(guò)程,應(yīng)用于樣品以確定可焊性。

l組件公差檢查–此測(cè)試可確保組件實(shí)際滿足數(shù)據(jù)表的公差范圍。

您可以將這些注意事項(xiàng)作為用于組件采購(gòu)的PCB QC的一部分,以確??梢允褂谜_的組件進(jìn)行組裝。對(duì)于制造,您需要確定滿足您期望的QC水平的最低要求。

組裝的PCB質(zhì)量控制

作為PCB制造過(guò)程的最后階段,組裝是在將電路板發(fā)送給您之前發(fā)現(xiàn)所有缺陷或錯(cuò)誤的最后一點(diǎn)。因此,用于組裝的PCB質(zhì)量控制的一部分涉及對(duì)前兩個(gè)階段的初步檢查。與制造過(guò)程相比,此階段的測(cè)試通常會(huì)更加密集。在PCB組裝過(guò)程中可能執(zhí)行的一些QC技術(shù)包括:

l外觀檢查–在整個(gè)組裝過(guò)程中都要進(jìn)行外觀檢查,以檢查是否有多余的焊料,未連接的組件以及其他可能需要返工的問(wèn)題。

n顯微鏡通常用于改善視覺(jué)檢查。

n相機(jī)可用于拍攝照片以進(jìn)行分布式查看和其他分析。

lX射線檢查 –這些提供了PCB內(nèi)部質(zhì)量的非侵入性高質(zhì)量成像。

lAOI –對(duì)于組裝,使用更高質(zhì)量的成像(與制造相比)來(lái)檢查連接和焊料質(zhì)量。

l鋸切–對(duì)于組裝,該測(cè)試主要用于檢查通孔。僅建議用于大規(guī)模生產(chǎn)運(yùn)行。

l溶劑萃取物的電阻率(ROSE)測(cè)試–這是一種快速可靠的測(cè)試,用于確定PCB的“清潔度”。它提供了板上污染程度的定量度量。

l電氣測(cè)試–盡管這些測(cè)試也用于制造,但它們?cè)诮M裝過(guò)程中會(huì)測(cè)試不同的標(biāo)準(zhǔn)。由于制造過(guò)程中缺少組件,因此只能檢查電導(dǎo)率。但是,對(duì)于組裝,您可以檢查參數(shù)級(jí)別,因?yàn)榇嬖诮M件。

l飛針E測(cè)試

l釘床測(cè)試

在確定要包括在合同制造商的質(zhì)量控制中以進(jìn)行組裝的技術(shù)時(shí),一個(gè)重要的決定是執(zhí)行侵入性測(cè)試還是非侵入性測(cè)試。侵入式測(cè)試通常是董事會(huì)嚴(yán)格的破壞性物理分析(DPA)的一部分,該分析通常還包括非侵入式測(cè)試。如果發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤,則可能需要重新設(shè)計(jì)電路板。

PCB制造過(guò)程的每個(gè)階段,都有許多質(zhì)量控制選項(xiàng)。由于不同的CMQC技術(shù)方面各不相同,因此您必須充分研究CM對(duì)PCB QC的承諾。這將有助于確保您的電路板以期望的質(zhì)量水平正確構(gòu)建。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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