球柵陣列的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)

球柵PCB的組裝或封裝技術(shù)是復(fù)雜的封裝技術(shù)之一，傳統(tǒng)的檢查方法還不夠。因此，PCB制造商面臨更高的廢品率。盡管缺乏明確的工業(yè)文獻(xiàn)來(lái)提高BGA設(shè)備的成功率，但以下接受標(biāo)準(zhǔn)是有幫助的。

此外，如果發(fā)現(xiàn)最少的缺陷，則可以接受這些類(lèi)型的PCB。通常檢查這些PCB是否存在以下缺陷。

l焊料回流曲線必須在適當(dāng)?shù)臒峁芾硐逻M(jìn)行。由于BGA可能涉及放置大量金屬球的高密度區(qū)域，因此此類(lèi)位置需要嚴(yán)格的熱管理。檢查焊料回流跡線是否合格。

l焊點(diǎn)內(nèi)部的空隙不應(yīng)超過(guò)焊球直徑的20％。

l錯(cuò)位

l缺少金屬球

l非濕墊

l部分回流

球柵陣列檢查的不同方法

在BGA評(píng)估中，涵蓋了三種檢查類(lèi)型，即光學(xué)檢查，機(jī)械檢查和微觀檢查。

l光學(xué)檢查：

光學(xué)檢查涉及對(duì)電路板的目測(cè)。由于肉眼肉眼檢查不足以進(jìn)行這種類(lèi)型的PCB評(píng)估，因此需要在內(nèi)窺鏡下進(jìn)行光學(xué)檢查。

l機(jī)械檢查：

這些PCB的機(jī)械檢查是一種破壞性方法。由于它們承受外力，振動(dòng)，沖擊和電氣波動(dòng)。因此，這些球柵PCB已通過(guò)沖擊測(cè)試，報(bào)廢測(cè)試等測(cè)試。

l微觀評(píng)估：

顯微鏡檢查是否有小于10微米的空隙或缺陷。以下微觀評(píng)估技術(shù)中的一種或多種用于檢查。

lX射線斷層掃描：

X射線分層照相術(shù)是通常用于平面的技術(shù)。由于在這些PCB中金屬球之間的間隙可以忽 略不計(jì)，因此該技術(shù)用于測(cè)試板表面的下層均勻性。從電路板的各個(gè)角度捕獲CCD相 機(jī)的射線照相圖像，以得出電路板的表面狀況。

l標(biāo)準(zhǔn)發(fā)射X射線：

在PCB上執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)的透射X射線測(cè)試，以測(cè)試潛在的微缺陷。通常，使用這種技術(shù)檢 查諸如微孔，未對(duì)準(zhǔn)等的缺陷。而且，可以通過(guò)使用發(fā)射X射線檢查來(lái)測(cè)試球的圓度， 同心度，螺距等。

l聲學(xué)微成像：

聲學(xué)顯微成像是用于球柵PCB的顯微檢查的無(wú)損檢查方法。用于檢查表面是否有裂紋， 空隙或分層。