季豐電子新增一臺發(fā)熱顯微鏡
Thermal Emission是一款發(fā)熱顯微鏡，配備了高靈敏度InSb相機，可探測半導體器件的內(nèi)部發(fā)熱。通過將高精度熱探測器探測到的發(fā)熱圖與模板圖像疊加，可高精度的識別失效位置。
可通過IC正面或背面進行定位，找出缺陷位置，更可在IC未開蓋狀態(tài)下定位出失效點為IC本身或封裝問題。
除IC可以定位外，還可以應用于大面積的產(chǎn)品，如PCB、面板、被動組件等。
其主要應用為：
? 金屬布線短路
? 封裝打線短路
? 接觸孔異常
? 氧化物層微等離子體泄露
? 氧化物層擊穿
? TFTLCD面板&PCB/PCBA的金屬線路缺陷和短路
? 介電層崩潰/漏電
? 靜態(tài)/動態(tài)分析
原理：
近期季豐還新增了以下設備：
季豐電子引入業(yè)界實驗室最高配的ESD測試神器
Regulus8100加入季豐電子
原文標題：季豐電子新增一臺加熱影像定位機臺（Thermal Emission）
文章出處：【微信公眾號：上海季豐電子】歡迎添加關注！文章轉(zhuǎn)載請注明出處。
責任編輯：haq
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用，如有內(nèi)容侵權或者其他違規(guī)問題，請聯(lián)系本站處理。
舉報投訴
-
IC
+關注
關注
36文章
6421瀏覽量
185901 -
探測器
+關注
關注
15文章
2767瀏覽量
75967 -
顯微鏡
+關注
關注
0文章
759瀏覽量
25516
原文標題：季豐電子新增一臺加熱影像定位機臺（Thermal Emission）
文章出處：【微信號：zzz9970814，微信公眾號：上海季豐電子】歡迎添加關注！文章轉(zhuǎn)載請注明出處。
發(fā)布評論請先 登錄
相關推薦
熱點推薦
共聚焦顯微鏡的結(jié)構組成與應用
共聚焦顯微鏡作為現(xiàn)代光學成像技術的重要代表，憑借其高分辨率、光學切片能力和三維重建功能，展現(xiàn)出廣泛應用價值。其核心原理在于通過空間濾波技術消除焦平面以外的雜散光，顯著提升圖像清晰度和對比度。下文
共聚焦顯微鏡的技術原理與掃描方式詳解
共聚焦顯微鏡作為半導體、材料科學等領域的重要觀測工具，憑借其超高分辨率和三維成像技術，突破了傳統(tǒng)寬視野顯微鏡的成像局限，能夠清晰呈現(xiàn)樣品的三維微觀結(jié)構。下文，光子灣科技將系統(tǒng)解析共聚焦顯微鏡的技術
共聚焦顯微鏡與光片顯微鏡的區(qū)別
在精密制造、半導體檢測等領域中，顯微鏡技術起到至關重要的作用。共聚焦顯微鏡和光片顯微鏡作為兩種重要的光學成像技術，因其各自獨特的原理和性能，在工業(yè)檢測與研究中發(fā)揮著不同的作用。下文，光子灣科技將從
共聚焦顯微鏡、光學顯微鏡與測量顯微鏡的區(qū)分
在科研與工業(yè)檢測領域，顯微鏡是核心觀測工具，而共聚焦顯微鏡、光學顯微鏡與測量顯微鏡常因概念交叉易被混淆。三者雖同屬顯微技術范疇，卻從原理、技
共聚焦顯微鏡和傳統(tǒng)顯微鏡有什么區(qū)別
在現(xiàn)代顯微成像技術中，共聚焦顯微鏡（LSCM）與傳統(tǒng)光學顯微鏡代表了兩種不同層次的成像理念與技術路徑。它們在成像原理、分辨能力、應用場景及操作要求等方面存在根本性區(qū)別。下文，光子灣科技將從多個維度
共聚焦顯微鏡（LSCM）的關鍵參數(shù)解析
共聚焦顯微鏡作為一種高分辨率三維成像工具，已在半導體、材料科學等領域廣泛應用。憑借其精準的光學切片與三維重建功能，研究人員能夠獲取納米尺度結(jié)構的高清圖像。下文，光子灣科技將系統(tǒng)解析共聚焦顯微鏡的核心
一文讀懂共聚焦顯微鏡的系統(tǒng)組成
共聚焦顯微鏡作為半導體、材料科學等領域的重要成像設備，其核心優(yōu)勢在于突破傳統(tǒng)光學顯微鏡的焦外模糊問題。光子灣科技深耕光學測量領域，其共聚焦顯微鏡技術優(yōu)勢落地為亞微米級精準測量、高對比度成像的實際能力
FIB(聚焦離子束顯微鏡)：是反射還是透射？
在微觀世界的探索中，顯微鏡一直是科學家們最重要的工具之一。隨著科技的發(fā)展，顯微鏡的種類和功能也日益豐富。聚焦離子束顯微鏡（FocusedIo
超景深顯微鏡的工作原理與測試影響因素
在微觀檢測領域，傳統(tǒng)顯微鏡常受限于景深較短的問題，難以同時清晰呈現(xiàn)樣品不同深度的結(jié)構細節(jié)，而超景深顯微鏡憑借獨特的技術優(yōu)勢，有效突破這一局限，廣泛應用于材料科學、電子制造等領域。深入理
如何選擇合適的顯微鏡（光學顯微鏡/透射電鏡/掃描電子顯微鏡）
合適的顯微鏡成為許多科研工作者關心的問題。透射電子顯微鏡當研究需要觀察納米尺度（通常小于100納米）的結(jié)構細節(jié)時，透射電子顯微鏡（TEM）無疑是首選工具。這種顯微
共聚焦顯微鏡的光源、工作原理與選型
共聚焦顯微鏡是一種先進的光學成像設備，其設計核心在于通過消除離焦光，顯著提升顯微圖像的分辨率與對比度。與傳統(tǒng)顯微鏡不同，共聚焦顯微鏡采用點照
共聚焦顯微鏡和電子顯微鏡有什么區(qū)別？
在現(xiàn)代科研與高端制作領域，微觀探索依賴高分辨率成像技術，共聚焦顯微鏡與電子顯微鏡是其中的核心代表。在微觀檢測中，二者均突破傳統(tǒng)光學顯微鏡局限，但在原理、性能及應用場景上差異顯著，適配不同領域的需求
什么是透射電子顯微鏡？
透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡（簡稱透射電鏡）是一種利用加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，通過電子與樣品原子的碰撞產(chǎn)生立體角散射來成像的
帶你一文了解掃描透射電子顯微鏡
掃描透射電子顯微鏡（STEM）掃描透射電子顯微鏡（STEM）是一種融合了透射電子顯微鏡（TEM）和掃描電子顯微鏡（SEM）部分特點的先進
VirtualLab Fusion應用：用于高NA顯微鏡成像的工程化PSF
證明，當偶極子源的方向發(fā)生變化時，會獲得不同的非對稱PSF（不是艾里斑）。 此外，可通過在顯微鏡系統(tǒng)的光瞳平面中插入一定的相位掩模來獲得雙螺旋PSF [Ginni Grover et al., Opt.
發(fā)表于 03-26 08:47
工商網(wǎng)監(jiān)
評論