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高質(zhì)量仿真,從參考頻率開始

電子設(shè)計(jì) ? 來源:電子設(shè)計(jì) ? 作者:電子設(shè)計(jì) ? 2022-02-21 14:18 ? 次閱讀
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如果沒有深入了解 PLL 理論以及邏輯開發(fā)過程,可能你在設(shè)計(jì)并調(diào)試鎖相環(huán)(PLL)電路時(shí)會感到非常棘手。那有沒有比較容易理解或?qū)W習(xí)妙招呢?小A今日就為大家送上一份妙計(jì)錦囊,并提供有效、符合邏輯的方法助你調(diào)試PLL問題。請往下看~

高質(zhì)量仿真,從參考頻率開始

如果不在特定條件下進(jìn)行仿真,則估計(jì)一個(gè) PLL 電路的規(guī)格將會是十分困難的。因此,進(jìn)行 PLL 設(shè)計(jì)的第一步應(yīng)當(dāng)是仿真。建議工程師使用ADIsimPLL 軟件運(yùn)行基于系統(tǒng)要求的仿真,包括參考頻率、步進(jìn)頻率、相位噪聲(抖動(dòng))和頻率雜散限制。

許多工程師面對如何選擇參考頻率會感到無所適從,但其實(shí)參考頻率和輸出頻率步進(jìn)之間的關(guān)系是很簡單的。采用整數(shù) N 分頻 PLL,則輸出頻率步進(jìn)等于鑒頻鑒相器(PFD)輸入端的頻率,該頻率等于參考分頻器 R 分頻后的參考頻率。采用小數(shù) N 分頻 PLL,則輸出頻率步進(jìn)等于 PFD 輸入頻率除以 MOD 值,因此,您可以使用較高的參考頻率,獲得較小的頻率步進(jìn)。決定使用整數(shù) N 分頻或是小數(shù) N 分頻時(shí),可犧牲相位噪聲性能換取頻率步進(jìn),即:較低的 PFD 頻率具有更好的輸出頻率分辨率,但相位噪聲性能下降。

例如,表1顯示若要求具有固定頻率輸出以及極大的頻率步進(jìn),則應(yīng)首選整數(shù) N 分頻 PLL(如ADF4106),因?yàn)樗哂懈训目値?nèi)相位噪聲。相反,若要求具有較小的頻率步進(jìn),則應(yīng)首選小數(shù) N 分頻 PLL(如ADF4153),因?yàn)樗目傇肼曅阅軆?yōu)于整數(shù) N 分頻 PLL。相位噪聲是一個(gè)基本的 PLL 規(guī)格,但數(shù)據(jù)手冊無法針對所有可能的應(yīng)用指定性能參數(shù)。因此,先仿真,然后進(jìn)行實(shí)際硬件的測試就變得極為關(guān)鍵。

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表1. 相位噪聲確定 PLL 的選擇

甚至在真實(shí)條件下通過 ADIsimPLL 仿真 PLL 電路時(shí),結(jié)果也可能是不夠的,除非真實(shí)參考以及壓控振蕩器(VCO)的模型文件已包含在內(nèi)。如果未包含在內(nèi),則仿真器將使用理想?yún)⒖己蚔CO 進(jìn)行仿真。若要求高仿真精度,則花在編輯 VCO 和基準(zhǔn)電壓源庫文件上的時(shí)間將會是值得的。

PLL 使用與放大器類似的負(fù)反饋控制系統(tǒng),因此環(huán)路帶寬和相位裕量的概念此處依然適用。通常,環(huán)路帶寬應(yīng)設(shè)為 PFD 頻率的十分之一以下,且相位裕量的安全范圍為 45°至 60°。此外,應(yīng)當(dāng)進(jìn)行針對真實(shí)電路板的仿真和原型制作,以便確認(rèn)電路符合 PCB 布局對寄生元件、電阻容差和環(huán)路濾波器電容的規(guī)格要求。

有些情況下,暫時(shí)沒有合適的電阻和電容值,因此工程師必須確定是否能使用其他值。在 ADIsimPLL 的"工具"菜單中隱藏了一項(xiàng)小功能,稱為"BUILT"。該功能可將電阻和電容值轉(zhuǎn)換為最接近的標(biāo)準(zhǔn)工程值,允許設(shè)計(jì)人員返回仿真界面,驗(yàn)證相位裕量和環(huán)路帶寬的新數(shù)值。

寄存器值的判定

ADI PLL 提供很多用戶可配置選項(xiàng),具有靈活的設(shè)計(jì)環(huán)境,但也會產(chǎn)生如何確定存儲在每個(gè)寄存器中數(shù)值的難題。一種方便的解決方案是使用評估軟件設(shè)置寄存器值,甚至 PCB 未連接仿真器時(shí)也能這么做。然后,設(shè)置文件可保存為.stp 文件,或下載至評估板中。圖 1 顯示 ADIsimPLL 仿真結(jié)果,提供諸如VCO 內(nèi)核電流等參數(shù)的建議寄存器值。

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圖 1. ADIsimPLL 仿真軟件提供寄存器設(shè)置的建議值

原理圖和 PCB 布局

設(shè)計(jì)完整 PLL 電路時(shí),需牢記幾點(diǎn)。首先,重要的是匹配 PLL的參考輸入端口阻抗,將反射降至最低。另外,保持電容與輸入端口并聯(lián)組合值盡量小,因?yàn)樗鼤档洼斎?a target="_blank">信號的壓擺率,增加 PLL 環(huán)路噪聲。更多詳細(xì)信息請參考 PLL 數(shù)據(jù)手冊上的輸入要求。

其次,將模擬電源數(shù)字電源相分離,最大程度減少它們之間的干擾。VCO 電源特別敏感,因此此處的雜散和噪聲可輕易耦合至 PLL 輸出。更多注意事項(xiàng)以及詳細(xì)信息,請參考利用低噪聲 LDO 調(diào)節(jié)器為小數(shù) N 分頻壓控振蕩器(VCO)供源,以降低相位噪聲 (CN-0147)

再則,用于組成環(huán)路濾波器的電阻和電容應(yīng)當(dāng)放置在盡可能離PLL 芯片近的地方,并使用仿真文件中的建議值。若您在改變環(huán)路濾波器元器件值之后發(fā)現(xiàn)難以鎖定信號,請嘗試使用最初用于評估板的數(shù)值。

對于 PCB 布局而言,其主要原則是將輸入與輸出分離,確保數(shù)字電路不會干擾模擬電路。例如,若 SPI 總線太過靠近參考輸入或 VCO 輸出,則訪問 PLL 寄存器時(shí),VCO 輸出會在 PLL輸出端產(chǎn)生雜散現(xiàn)象。從熱設(shè)計(jì)角度來看,可在 PLL 芯片底下放置一個(gè)導(dǎo)熱接地焊盤,確保熱量流經(jīng)焊盤,到達(dá) PCB 和散熱片。在極端環(huán)境下使用時(shí),設(shè)計(jì)人員應(yīng)計(jì)算 PLL 芯片和 PCB 的所有熱參數(shù)。

有效利用 MUXOUT

在調(diào)試階段開始時(shí),若 PLL 不鎖定,則很難確定應(yīng)當(dāng)從何處開始。第一步,可以使用 MUXOUT 查看是否所有內(nèi)部功能單元都正常工作,如圖 2 所示。例如,MUXOUT 能顯示 R 計(jì)數(shù)器輸出,指示參考輸入信號良好,且寄存器內(nèi)容成功寫入。MUXOUT 還能檢查檢測器的鎖定狀態(tài),以及反饋環(huán)路中的 N分頻輸出。通過這種方法,設(shè)計(jì)人員可確定每個(gè)分頻器、增益或頻率值是否正確。這是調(diào)試 PLL 的基本過程。

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圖 2. MUXOUT 引腳輔助 PLL 進(jìn)行調(diào)試

時(shí)域分析助力PLL調(diào)試

調(diào)試 PLL 時(shí),使用時(shí)域分析,演示寫入串行外設(shè)接口(SPI)總線上的寄存器數(shù)據(jù)是正確的。雖然讀寫操作需要的時(shí)間比較長,但請確保 SPI 時(shí)序符合規(guī)格,且不同線路之間的串?dāng)_減小到最低程度。

應(yīng)當(dāng)參考 PLL 數(shù)據(jù)手冊中的時(shí)序圖,以便確定數(shù)據(jù)建立時(shí)間、時(shí)鐘速度、脈沖寬度和其他規(guī)格。確保留有足夠的裕量,以便在所有條件下都滿足時(shí)序要求。使用示波器檢查時(shí)域內(nèi)的時(shí)鐘和數(shù)據(jù)邊沿位于正確位置。若時(shí)鐘和數(shù)據(jù)線路太過接近,則串?dāng)_會使時(shí)鐘能量通過 PCB 布線耦合至數(shù)據(jù)線路。這種耦合會導(dǎo)致數(shù)據(jù)線路在時(shí)鐘的上升沿產(chǎn)生毛刺。因此,讀寫寄存器時(shí)需檢查這兩條線路,尤其當(dāng)寄存器出現(xiàn)錯(cuò)誤時(shí)。確保線路電壓滿足表 2 的規(guī)格。

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表 2. 邏輯輸入

復(fù)雜的頻譜分析

頻域中的問題更常見、更復(fù)雜。如果使用頻譜分析儀,則應(yīng)當(dāng)首先檢查 PLL 輸出是否鎖定;如果波形具有穩(wěn)定的頻率峰值則表示鎖定。如果未鎖定,則應(yīng)當(dāng)遵循前文所述的步驟。如果 PLL 已鎖定,則收窄頻譜分析儀帶寬,以便確定相位噪聲是否位于可接受范圍內(nèi),并將測試結(jié)果與仿真結(jié)果對照確認(rèn)。測量某些帶寬條件下的相位噪聲,如 1 kHz、10 kHz 和 1 MHz。

若結(jié)果與預(yù)期不符,則應(yīng)首先回顧環(huán)路濾波器設(shè)計(jì),檢查 PCB板上元器件的真實(shí)值。然后,檢查參考輸入的相位噪聲是否與仿真結(jié)果一致。PLL 仿真相位噪聲應(yīng)與真實(shí)值接近,除非外部條件有所不同,或向寄存器寫入了錯(cuò)誤值。

電源噪聲不可忽略,哪怕使用了低噪聲 LDO。因?yàn)?DC-DC 轉(zhuǎn)換器和 LDO 都可能成為噪聲源。LDO 數(shù)據(jù)手冊顯示的噪聲頻譜密度通常會影響噪聲敏感型器件,比如 PLL(見圖 3)。為PLL選擇低噪聲電源,特別是需要為VCO的內(nèi)核電流提供電源。

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圖 3. LDO 噪聲頻譜密度

通常 PLL 的輸出端會有四種類型的雜散:PFD 或參考雜散、小數(shù)雜散、整數(shù)邊界雜散以及外部來源雜散,如電源。所有PLL 都至少有一種類型的雜散,雖然永遠(yuǎn)無法消除這些雜散。但某些情況下,在不同類型的雜散或頻率之間進(jìn)行取舍,可以改進(jìn)整體性能。

若要避免參考雜散,請檢查參考信號的上升沿。邊沿過快或邊沿幅度過大都會對頻域造成嚴(yán)重的諧波現(xiàn)象。另外,仔細(xì)檢查PCB 布局,避免輸入和輸出之間產(chǎn)生串?dāng)_。如需最大程度地減少小數(shù)雜散,可增加擾動(dòng),迫使小數(shù)雜散進(jìn)入本底噪聲中,但這樣做會略為增加本底噪聲。

整數(shù)邊界雜散不常見,且僅當(dāng)輸出頻率過于接近參考頻率的整數(shù)倍時(shí)才會發(fā)生,此時(shí)環(huán)路濾波器無法將其濾除。解決該問題的簡便方法是重新調(diào)節(jié)參考頻率方案。例如,若邊界雜散發(fā)生在 1100 MHz 處,且輸出為 1100.1 MHz,參考輸入為 20 MHz,則使用 100 kHz 環(huán)路濾波器將參考頻率改為 30 MHz 即可消除該雜散。

結(jié)論

調(diào)試 PLL 要求對 PLL 具有深入的理解,并且如果在設(shè)計(jì)階段格外仔細(xì),就能避免很多問題。若問題發(fā)生在調(diào)試階段,請遵循本文所述之建議,對問題逐一進(jìn)行分析并逐步解決問題。

審核編輯:何安

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