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如何解決SSD研發(fā)過程中的NAND問題?

SSDFans ? 來源:ssdfans ? 作者:ssdfans ? 2021-02-09 17:53 ? 次閱讀
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SSD盤的核心器件就是控制器芯片和NAND,控制器里面的很多中端或者后端算法也是圍繞NAND進(jìn)行優(yōu)化的,所以,一般情況下每家控制器廠商或者SSD盤的廠商都有工程師或者團(tuán)隊(duì)負(fù)責(zé)研究或者測(cè)試NAND的相關(guān)特性,為解決圍繞NAND相關(guān)的問題提供堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)和技術(shù)支撐。

“工欲善其事,必先利其器”,由于主流NAND廠商目前都是國外公司,國內(nèi)這塊對(duì)于NAND特性非常精通的工程師資源并不是特別多,能夠使用的研發(fā)/測(cè)試的工具也很少,但是如果需要解決圍繞NAND的SSD問題,必須具備一款針對(duì)于NAND進(jìn)行深入測(cè)試的工具。

NplusT是一家意大利公司,深耕Memory以及NAND測(cè)試將近20年,在這方便積累了大量的經(jīng)驗(yàn),NplusT開發(fā)的NanoCycler產(chǎn)品是一款非常靈活易用的NAND特性測(cè)試和分析工具,支持最新的1.6GT/s,非常適合國內(nèi)高校/科研院所,SSD控制器和盤開發(fā),以及針對(duì)SSD盤失效分析等應(yīng)用場(chǎng)景。

該NAND分析工具已經(jīng)廣泛應(yīng)用于歐洲,美國,以色列,臺(tái)灣,日本,韓國和中國大陸的高校和公司,國內(nèi)客戶如:Huawei, Alibaba, SMIC中芯國際, Inspur浪潮, SCS山東華芯, Dputech大普, YeeStor得一, Tenafe特納飛, 復(fù)旦大學(xué), 清華大學(xué), 南京大學(xué), 山東大學(xué), 等等;國際上使用NanoCycler的客戶更多,例如:以PMC/MicroSemi/Microchip的企業(yè)級(jí)NVMe SSD控制器為代表,其NAND特性全部使用NplusT公司的產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試和分析,包括業(yè)內(nèi)知名的Synopsys, STMicro, Infinion, Cypress, Leti, Smart Modular, Mellanox等等知名公司的NAND分析部門,以及幾大國際NAND廠商的客戶解決方案部門或區(qū)域應(yīng)用工程部門也在使用該設(shè)備進(jìn)行一些應(yīng)用測(cè)試。

解決NAND相關(guān)的SSD問題:

1. 較低的SSD性能和Crash和NAND的關(guān)系

2. QoS隨著NAND老化下降導(dǎo)致的問題

3. SSD意外Crash問題

電壓波動(dòng),突發(fā)電流沖擊,時(shí)序分析

高性能power分析,長時(shí)間分析power峰值,平均,分布

4. 較高的初始RBER

5. 高速接口帶來的挑戰(zhàn)

1,033MT/s, 1,200MT/S, 1.6GT/s, 后續(xù)2.4GT/s

原文標(biāo)題:如何解決SSD研發(fā)過程中和NAND相關(guān)的問題

文章出處:【微信公眾號(hào):ssdfans】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

責(zé)任編輯:haq

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