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?SOC驗(yàn)證的作用與含義及原因

FPGA之家 ? 來源:FPGA之家 ? 作者:Watchman ? 2021-04-22 09:43 ? 次閱讀
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SOC 驗(yàn)證有什么用?

這篇文章的標(biāo)題聽起來像是上世紀(jì)90年代電視劇里的玩笑,但它實(shí)際上是一個(gè)嚴(yán)肅的問題。很多人不明白,是什么讓一個(gè)系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)與其他半導(dǎo)體器件不同。許多公司,尤其是在電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA)行業(yè)中,圍繞術(shù)語“SOC”進(jìn)行了眾多討論,但卻沒有定義它,或者解釋它為什么是這樣一個(gè)重要的概念。

Soc驗(yàn)證的含義

從“SoC”的定義開始討論,應(yīng)該是最合適的地方。正如其名稱所暗示的那樣,“系統(tǒng)級(jí)芯片”,是存在于單個(gè)封裝的完整系統(tǒng),通常都處于單個(gè)die,盡管3-D集成電路建立在多個(gè)die上的情況也正變得越來越普遍。

本質(zhì)上,SoC就是將分布在多個(gè)芯片甚至是離散設(shè)備上的功能集成到一個(gè)芯片中?,F(xiàn)在已經(jīng)很難找到不含某種處理器的系統(tǒng)了,所以在實(shí)際的定義中,在SoC必須包括至少一個(gè)處理器。

最常見的SoC架構(gòu)包括一個(gè)或多個(gè)嵌入式處理器,部分片上存儲(chǔ)器,附加的功能單元,標(biāo)準(zhǔn)總線接口以及可能的片外存儲(chǔ)器。某種類型的片上總線,總線結(jié)構(gòu),或網(wǎng)絡(luò)芯片將所有的單元連接在一起。

與其他芯片驗(yàn)證不同的原因是什么?

由于需要在嵌入式處理器上運(yùn)行的軟件,完整的SoC實(shí)際是芯片加上在這些在處理器上運(yùn)行的代碼。有些系統(tǒng)級(jí)芯片具有在多個(gè)不同的處理器,CPUDSP,圖像處理器等,——所有的運(yùn)行代碼都是針對(duì)單獨(dú)功能定制的。

處理器的存在是使得SoC驗(yàn)證與其他芯片驗(yàn)證不同的關(guān)鍵。更小,沒那么復(fù)雜的芯片,以及許多在SoC內(nèi)部的模塊,可以使用仿真測(cè)試平臺(tái)有效的進(jìn)行驗(yàn)證。提供數(shù)據(jù)到芯片的輸入,檢查芯片上的輸出數(shù)據(jù)。

傳統(tǒng)測(cè)試平臺(tái)可簡(jiǎn)化為一個(gè)框架,允許用戶提供一系列的二進(jìn)制輸入,并使用波形查看器查看輸出結(jié)果。當(dāng)然,如此的手動(dòng)設(shè)置僅僅能夠驗(yàn)證復(fù)雜設(shè)計(jì)很少的預(yù)期功能。

現(xiàn)代的基于測(cè)試平臺(tái)的驗(yàn)證環(huán)境會(huì)為芯片輸入自動(dòng)生成隨機(jī)的stimulus,這種隨機(jī)同時(shí)處于用戶指定的約束條件(規(guī)則)下,并會(huì)自動(dòng)檢查每個(gè)測(cè)試的結(jié)果。這比基于傳統(tǒng)測(cè)試平臺(tái)手工編寫單獨(dú)的測(cè)試更有效率。

有約束的隨機(jī)測(cè)試平臺(tái)

一些驗(yàn)證方法已經(jīng)建立,流行的標(biāo)準(zhǔn)是有約束的隨機(jī)測(cè)試平臺(tái),并允許有限復(fù)用測(cè)試平臺(tái)的組件。這些驗(yàn)證方法中,最有名的是標(biāo)準(zhǔn)組織Accellera定義的通用驗(yàn)證方法學(xué)(UVM)。

帶約束的隨機(jī)測(cè)試平臺(tái)在一定程度上工作正常,但不能就此擴(kuò)展到full-SoC驗(yàn)證上。僅僅從芯片的輸入來驗(yàn)證其所有功能,是一件太過困難的工程。

此外,雖然在SoC的嵌入式處理器通常有能力在仿真中運(yùn)行代碼,但對(duì)所有協(xié)調(diào)處理器與測(cè)試平臺(tái)的活動(dòng),UVM都不提供任何指導(dǎo)。事實(shí)上,在SoC級(jí)運(yùn)行的任何UVM-based仿真,通常用總線功能模型(BFMS)去替代嵌入式處理器。

以上的這些限制導(dǎo)致許多SoC團(tuán)隊(duì)在full-chip級(jí)僅僅做最少的驗(yàn)證。他們僅僅驗(yàn)證模塊是否已正確連接,并可能運(yùn)行一些簡(jiǎn)單的測(cè)試來驗(yàn)證各主要模塊運(yùn)行正常。

對(duì)SoC運(yùn)行中,模塊串接的真實(shí)情形,他們卻很少運(yùn)行測(cè)試。這種“stitch and ship”方法帶來高風(fēng)險(xiǎn),因?yàn)樗鼜膹奈礈y(cè)試模塊間復(fù)雜相互作用的情況,而其恰恰極可能暴露設(shè)計(jì)bug或證實(shí)性能的缺陷。

模塊級(jí)驗(yàn)證

在模塊級(jí)驗(yàn)證中,很難發(fā)現(xiàn)諸如存儲(chǔ)器沖突,總線飽和,等在SoC多模塊共享資源時(shí)才發(fā)生的問題。

考慮到SoC功能在很大程度上取決于其嵌入式處理器,意料之中,一個(gè)純粹的測(cè)試平臺(tái)是不足夠的。有些驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)認(rèn)識(shí)到這一點(diǎn),他們用人工設(shè)計(jì)測(cè)試在嵌入式處理器上運(yùn)行。這些測(cè)試通常不連接到測(cè)試平臺(tái)也未很好集成到整個(gè)驗(yàn)證工作中。

此外,要人工設(shè)計(jì)對(duì)SoC并行功能多任務(wù)(multi-threaded)測(cè)試簡(jiǎn)直比登天還難。當(dāng)然,我們所需要的就是考慮這些corner-case bugs和性能問題。

充分有效的SoC驗(yàn)證

SoC驗(yàn)證要充分有效,就必須包括在嵌入式處理器上運(yùn)行自動(dòng)化測(cè)試。軟件可以在仿真中生成在多處理器多線程情況下的測(cè)試case。

為了對(duì)SoC有足夠的壓力測(cè)試,測(cè)試case需要刺激和協(xié)調(diào)處理器和測(cè)試平臺(tái)內(nèi)的并發(fā)活動(dòng)。測(cè)試case必須能夠?qū)﹄S機(jī)生成的輸入數(shù)據(jù)進(jìn)行自動(dòng)驗(yàn)證,計(jì)算輸入的預(yù)期結(jié)果,并檢查芯片的輸出符合預(yù)期的結(jié)果。

通常來說,我們需要提供SoC的功能信息給測(cè)試case生成器,這些case才能恰當(dāng)?shù)尿?yàn)證其功能性并檢驗(yàn)結(jié)果。描述SoC設(shè)計(jì)功能的最好方法就是一系列可視方案模型。

圖像能夠捕獲芯片的數(shù)據(jù)流路徑并記錄如何配置模塊來運(yùn)行所有SoC設(shè)計(jì)功能。圖像引導(dǎo)的生成器約束保證其不會(huì)對(duì)非預(yù)期行為生成test case。

來自Breker驗(yàn)證系統(tǒng)中的TrekSoC產(chǎn)品

這個(gè)軟件工具能自動(dòng)生成在SoC的嵌入式處理器上運(yùn)行并能夠自驗(yàn)證的C語言test case,而且該軟件不需要操作系統(tǒng)或者其他產(chǎn)品軟件的支持。

這些test case都是多線程的,因此能并行檢驗(yàn)SoC的多個(gè)部位,在tapeout之前進(jìn)行足夠的壓力測(cè)試。生成器中成熟的scheduler能夠跟蹤多個(gè)并行運(yùn)行的現(xiàn)實(shí)情況,并從線程中移動(dòng)它們以盡可能多的對(duì)SoC進(jìn)行測(cè)試。

因?yàn)橐恍〤-based測(cè)試會(huì)從芯片輸入讀取數(shù)據(jù),或者發(fā)送數(shù)據(jù)到芯片輸出,“TrekBox”組件連接現(xiàn)有的總線功能模型(BFMS)在測(cè)試平臺(tái)中,并協(xié)調(diào)處理器和測(cè)試平臺(tái)間的活動(dòng)。

當(dāng)每個(gè)C-based測(cè)試準(zhǔn)備接收或生成數(shù)據(jù)時(shí),會(huì)通知TrekBox處理實(shí)際的數(shù)據(jù)傳輸。源數(shù)據(jù)也可以被加載到存儲(chǔ)器,并且存儲(chǔ)器檢查可以在不干擾的SoC的情況下進(jìn)行。

這個(gè)基于圖形的場(chǎng)景模型描述了能夠在SoC中產(chǎn)生無限數(shù)量的多線程測(cè)試case的所有信息。

總結(jié)

總之,SoCs使得半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)能繼續(xù)實(shí)現(xiàn)其,更好,體積更小,更快芯片的目標(biāo)。它們與其它類型的芯片不同,所以SoC的驗(yàn)證也必然是不同的。

開發(fā)團(tuán)隊(duì)必須認(rèn)識(shí)到,在SoC時(shí)代,存在嚴(yán)重bugs風(fēng)險(xiǎn)或者毫無競(jìng)爭(zhēng)力的去生產(chǎn)芯片的情況,使得他們的世界已經(jīng)不同。

自動(dòng)生成多線程,自我驗(yàn)證C測(cè)試case是一個(gè)相當(dāng)新,但是很好的驗(yàn)證方法?!癝oC驗(yàn)證”團(tuán)隊(duì)采取這種方式會(huì)有著更快產(chǎn)生更好的,更小的芯片的優(yōu)勢(shì)。
編輯:lyn

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