隨著5G、數(shù)據(jù)中心和智能駕駛汽車的高速發(fā)展，數(shù)據(jù)傳輸?shù)乃俾试絹碓礁摺，F(xiàn)在最熱門的Serdes PAM4技術(shù)最高速度到了112Gbps。這對(duì)高速數(shù)字芯片的設(shè)計(jì)帶來了挑戰(zhàn)，特別是時(shí)鐘信號(hào)的抖動(dòng)分析變得越來越重要，因?yàn)榈紾bps速率范圍，任何一個(gè)小的抖動(dòng)都會(huì)對(duì)系統(tǒng)性能造成顯著影響。

舉例來說，高速串行鏈路參考時(shí)鐘的穩(wěn)定度會(huì)對(duì)誤碼率有明顯影響。對(duì)于高速串行數(shù)據(jù)鏈路設(shè)計(jì)，準(zhǔn)確測(cè)量以及區(qū)分由器件噪聲產(chǎn)生的隨機(jī)抖動(dòng)，以及由非期望干擾產(chǎn)生的周期抖動(dòng)，非常有助于定位抖動(dòng)問題來源，提高芯片和系統(tǒng)的性能。

羅德與施瓦茨（以下簡(jiǎn)稱“R&S公司”）Serdes PAM4相噪測(cè)試方案具有測(cè)試速度快，儀表操作簡(jiǎn)便的特點(diǎn)。方案核心是R&S 50GHz相噪分析儀FSWP50和提供高精參考時(shí)鐘的R&S信號(hào)源SMA100B。該方案已被國(guó)內(nèi)多家大型芯片設(shè)計(jì)公司選用。

R&S相噪測(cè)試方案

下圖是R&S公司提供的相噪測(cè)量方案---速率高達(dá)112Gbps的Serdes PAM4技術(shù)的相噪測(cè)量頻率在28GHz，讓我們一起來看看R&S賦能Serdes PAM4技術(shù)的成果。

技術(shù)亮點(diǎn)

R&S相位噪聲分析儀FSWP單表頻率覆蓋范圍高達(dá)50GHz，將高性能相位噪聲測(cè)試儀和頻譜分析儀合二為一，使用先進(jìn)的數(shù)字鎖相環(huán)方法測(cè)量相位噪聲，提供互相關(guān)計(jì)算功能，可增加20dB測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍。

FSWP基于其自身極低儀表相位噪聲和高效的雜散檢測(cè)算法，適合進(jìn)行分辨率要求極高。如Serdes PAM4技術(shù)中的時(shí)鐘源抖動(dòng)分析，PN和AM同時(shí)測(cè)試界面如下：

R&S ADC/DAC測(cè)試

FSWP和SMA100B也可用于Serdes的ADC/DAC驗(yàn)證和測(cè)試，詳細(xì)測(cè)試方案和測(cè)試項(xiàng)目如下：

R&S芯片測(cè)試

R&S公司是歐洲最大的測(cè)試與測(cè)量廠家，測(cè)試方案覆蓋通信、汽車和芯片測(cè)試等領(lǐng)域。在芯片領(lǐng)域致力于用高性能的芯片測(cè)試與測(cè)量解決方案迎接高速數(shù)字化帶來的挑戰(zhàn)，半導(dǎo)體/芯片測(cè)試方案主要包括射頻芯片測(cè)試、分立器件產(chǎn)線測(cè)試和數(shù)字芯片研發(fā)/生產(chǎn)測(cè)試解決方案。

未來，R&S公司會(huì)推出半導(dǎo)體/芯片測(cè)試系列方案，致力于推動(dòng)中國(guó)半導(dǎo)體/芯片產(chǎn)業(yè)的測(cè)試發(fā)展。

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