我經(jīng)常感到的奇怪的是，我們的行業(yè)為什么不在加快氮化鎵 (GaN) 晶體管的部署和采用方面加大合作力度；畢竟，大潮之下，沒人能獨善其身。每年，我們都看到市場預(yù)測的前景不太令人滿意。通過共同努力，我們能夠大大增加這項高能效技術(shù)的市場滲透能力。

如果GaN取得勝利，我們都是贏家。世界范圍內(nèi)的能效只需提高1%就足以關(guān)閉45個火力發(fā)電廠。在我們的日常生活中，我們已經(jīng)目睹了GaN技術(shù)的部署和采用—在幾個月之前，有些事情我還不太明白，直到我女兒問我GaN長得什么樣子時，我才意識到，在家中的節(jié)日彩燈中有數(shù)百個GaN：GaN LED。

一個很不錯的合作主題就是GaN可靠性。即使GaN晶體管現(xiàn)在通過了傳統(tǒng)硅質(zhì)量檢測應(yīng)力測試，或被稱為“qual”，它的部署和采用仍然很慢。由于它是基于硅材料的，“qual”并不能提振低用戶對于投入回報的信心。雖然通過“qual”測試對于器件的生產(chǎn)制造、質(zhì)量和可靠性具有里程碑式的意義，但還不清楚它在器件使用壽命、故障率和應(yīng)用相關(guān)性方面對GaN晶體管具有怎樣的意義。開發(fā)人員有多種選擇，即使硅材料解決方案體積更大且能耗更高，但是它們已經(jīng)過了測試。

對于采用GaN的開發(fā)人員來說，他們需要對這一部件有信心，相信它們在預(yù)期的使用壽命內(nèi)能夠在應(yīng)用中實現(xiàn)穩(wěn)健耐用運行。在TI，我們始終在深入思考這意味著什么，并將其歸結(jié)為圖1中所表示的2個項目。首先，傳統(tǒng)硅技術(shù)方法需要針對GaN和其故障模式進(jìn)行拓展。第二，應(yīng)力測試需要包括電源管理的開關(guān)條件，而這是傳統(tǒng)硅材料qual測試無法解決的。

當(dāng)一個行業(yè)攜起手來共同開發(fā)標(biāo)準(zhǔn)時，這些標(biāo)準(zhǔn)就被認(rèn)為是可信的。預(yù)測性的可靠性標(biāo)準(zhǔn)需要對技術(shù)和其故障模式的深入了解；以及在測試、質(zhì)量鑒定和產(chǎn)品運行方面的知識。預(yù)測性標(biāo)準(zhǔn)的優(yōu)勢在于極大加快了市場普及，而第一步就是意識到現(xiàn)有技術(shù)的不足和缺陷。

我首先在一份白皮書中（一個鑒定GaN產(chǎn)品可靠性的綜合方法）對這個問題進(jìn)行說明。這份白皮書引發(fā)了業(yè)內(nèi)的討論，這也促使我們將這個對話延續(xù)下去，我們在今年3月召開的應(yīng)用電力電子會議 (APEC) 上提交了一份行業(yè)對話論文，并且接受IEEE國際可靠性物理學(xué)討論會 (IRPS) 技術(shù)委員會的邀請。我們希望本次對話能夠進(jìn)一步擴展至工作組層面，并且在其他人也針對這個重要話題發(fā)表看法時拓展工業(yè)領(lǐng)域的協(xié)作。

TI正在通過可靠且可信賴的GaN產(chǎn)品努力打造一個能效更高的未來，將數(shù)年的硅制造專業(yè)知識和先進(jìn)器件開發(fā)才能引入到GaN中。TI一直充分利用我們現(xiàn)有的生產(chǎn)制造基礎(chǔ)設(shè)施和能力，使我們的600V GaN工藝符合要求。為了確?？煽啃院头€(wěn)健耐用性，在對我們的器件進(jìn)行測試時，我們所使用的GaN特定測試方法遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過了傳統(tǒng)硅質(zhì)量鑒定做法。

借助于合格的器件，電源設(shè)計人員能夠?qū)崿F(xiàn)GaN的滿功率運行，打破市場普及阻礙，而最為重要的一點是，使我們有可能生活在一個能效更高的世界中。

審核編輯：何安