Q1

對(duì)于MSL3預(yù)處理之后復(fù)測(cè)fail的產(chǎn)品，如果開(kāi)帽看到有燒點(diǎn)，一般情況下，下一步應(yīng)該分析什么？

A

如果這個(gè)樣品在MSL之前是Pass的樣品，不應(yīng)該是Assembly引起的問(wèn)題。再者decap后就看到有die表面的burn mark，這個(gè)很有可能是MSL后FT造成的EOS，如果無(wú)損分析都沒(méi)有發(fā)現(xiàn)異常，產(chǎn)品可靠性應(yīng)該沒(méi)有問(wèn)題，是測(cè)試環(huán)境的問(wèn)題。

Q2

正常開(kāi)封芯片，之前未做任何實(shí)驗(yàn)。聲掃結(jié)果如上，中間大面積上色部分是有空洞么？

A

開(kāi)封導(dǎo)致的塑封料厚度不均。

Q3

這個(gè)socket蓋子，最高耐溫是多少？

A

測(cè)試溫度范圍為-55到150℃。

Q4

做DFN工藝需要有個(gè)BD圖，那么CSP工藝有類(lèi)似的圖嗎？

A

CSP需要GDS及shot map，封測(cè)廠(chǎng)會(huì)根據(jù)以上圖紙出POD及mask layout，差不多類(lèi)似于BE圖。

Q5

芯片三點(diǎn)彎折應(yīng)變的計(jì)算公式是什么

A

參考如下：

參考文獻(xiàn)：gbt232-2010彎曲實(shí)驗(yàn)方法（1）

Q6

GaAs、Si晶圓、框架的有效期有多久？如果過(guò)期，還想用的話(huà)需要進(jìn)行哪些驗(yàn)證。驗(yàn)證后還能延期多久

A

Si晶圓有效期沒(méi)有限制，只要保存條件合適，5年都可以。

Q7

這種空洞會(huì)是ESD問(wèn)題導(dǎo)致的嗎？這顆芯片測(cè)試經(jīng)常由于漏電或者short出現(xiàn)燒傷。

A

工藝缺陷，Dep不能附著在金屬壁；偶發(fā)問(wèn)題，可以忽略，對(duì)良率不會(huì)有影響，WAT 數(shù)據(jù)很難抓不到。參考SLB標(biāo)準(zhǔn)，沒(méi)有每一條試驗(yàn)（環(huán)境、應(yīng)力）都有嚴(yán)絲合縫對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)，都要做落地的調(diào)整，根本上還是要參考美軍標(biāo)、JESD、 IEC。

Q8

在晶圓階段做的可靠性試驗(yàn)有哪些？有沒(méi)有哪個(gè)文件有這樣的規(guī)定呢？

A

JESD JEP001

Q9

國(guó)產(chǎn)固晶機(jī)做的比較好的有哪些？

A

X-ray檢測(cè)：DA801/DA1201

Q10

請(qǐng)教遇到過(guò)PCBA板卡級(jí)高低溫循環(huán)試驗(yàn)的嗎？想問(wèn)下這個(gè)實(shí)驗(yàn)的目的和參考標(biāo)準(zhǔn)？

A

PTC測(cè)試中遇到了PCBA板卡級(jí)高低溫循環(huán)試驗(yàn)，測(cè)試的是芯片，測(cè)試的方法是用PCBA板子。這個(gè)實(shí)驗(yàn)的目的是測(cè)試芯片在溫度變化的情況下芯片工作狀態(tài)是否穩(wěn)定，因此，芯片是需要帶電工作在一定功率下的。實(shí)驗(yàn)的難點(diǎn)是：

1.如何配置芯片，讓芯片工作在一一定功率范圍內(nèi)。這個(gè)項(xiàng)目是用StrongBoard-40 推送JTAG Pattern到DUT芯片實(shí)現(xiàn)的。

2. 如何監(jiān)控DUT芯片是否穩(wěn)定的在工作，這個(gè)項(xiàng)目使用StrongBoard-40檢測(cè)JTAG的TDO腳是否正常輸出，用MonitorMaster監(jiān)控每一路電壓電流是否在正常范圍內(nèi)。

3. 如何準(zhǔn)確的設(shè)置上下電順序、階梯上下電，這個(gè)項(xiàng)目使用全自動(dòng)電源控制軟件PowerMaster來(lái)配置電源。

Q11

元素上的L和K都代表啥意思， 然后在SEM中可以看的到二維電子氣嗎？

A

關(guān)于K，L，M， N 只是元素的原子核外的電子軌道，從原子核外外依次是K， L， M， N.。。。。。軌道，每個(gè)軌道的電子數(shù)目是2n*n。https://baike.baidu.com/item/edx/16780962？fr=aladdin

掃描電子顯微鏡能看到二維電子氣，結(jié)構(gòu)概念圖如下：

Q12

聲掃掃到的這種貌似很多雜質(zhì)的圖片，是設(shè)備哪項(xiàng)參數(shù)沒(méi)調(diào)好，還樣品有問(wèn)題？

A

解析度的問(wèn)題，或者是噪音引起的。聲音很容易受周?chē)腥?，看圖片用的是sonoscan機(jī)臺(tái)，應(yīng)調(diào)節(jié)trigger再掃。

編輯：jq