最近研發(fā)部在開發(fā)一款產(chǎn)品時(shí)，遇到了兩個(gè)設(shè)計(jì)的可靠性問(wèn)題，分享出來(lái).

第一個(gè)可靠性問(wèn)題：霍爾感應(yīng)在高溫實(shí)驗(yàn)后，功能失效.

產(chǎn)品試產(chǎn)后正準(zhǔn)備上線生產(chǎn)，但是在做可靠性測(cè)試時(shí)，品質(zhì)發(fā)現(xiàn)了這個(gè)問(wèn)題，就是高溫后霍爾功能失效.

經(jīng)分析，發(fā)現(xiàn)霍爾與磁鐵的的距離為9MM, 而磁鐵在高溫后磁力會(huì)下降，導(dǎo)至霍爾感應(yīng)不到磁鐵. 源頭還是設(shè)計(jì)工程師經(jīng)驗(yàn)不足，考量的不周全. 而且磁鐵還是異形的，做樣周期更長(zhǎng); 模具已經(jīng)定型了，沒法改模具了，只能改善磁鐵了，一是提高磁鐵的溫度系數(shù),二是磁鐵加厚，增加磁鐵磁力. 經(jīng)驗(yàn)證方案是可行的.

第二個(gè)可靠性問(wèn)題：耳機(jī)在充電盒內(nèi)不能斷連

這種問(wèn)題是概率性的發(fā)生，生產(chǎn)無(wú)法 管控，經(jīng)分析是金屬環(huán)與觸摸距離太近了. 由于硬件及模具都已定型并開始小批量生產(chǎn)，只能從軟件上解決了：當(dāng)耳機(jī)在充電盒內(nèi)時(shí)，屏蔽觸摸功能;這樣就可以解決這種誤動(dòng)作了.經(jīng)驗(yàn)證方法是可行的.

審核編輯：符乾江