seaward介電耐壓VS介電擊穿測試——Hal系列綜合電器安規(guī)測試儀

高壓測試(Hipot)測試是?個?常通?的測試，可?于許多應?，從研發(fā)和形式檢測，再到產(chǎn)品下線檢測，甚?在維修后都會應用。

在本?中，我們研究了兩種最常?的Hipot測試類型，介電耐壓測試和介電擊穿測試之間的區(qū)別。原則上，這兩種測試在應?于待測設備(DUT)時?乎相同，但測試結(jié)果往往不同。?壓測試通常涉及兩個測試端?，?個電壓源輸出和?個泄漏電流流?的返回端?，并由測試設備測量。

耐壓測試

耐壓測試是最常?的Hipot測試類型。它主要是對被測物施加規(guī)定的電壓，通常在1000V或更?的范圍。

測試(輸出)電壓按照規(guī)定保持一段時間，按照不同的測試目的，時間要求也有所區(qū)別，形式檢測可能需要幾分鐘，而常規(guī)的生產(chǎn)檢測可能低至幾秒鐘。

通常，測試的成功結(jié)果將根據(jù)返回終端檢測到的電流流量來確定。如果電流流量過多(泄漏電流)，測試將作為失敗中?。

電流流量的??通常以毫安為單位測量，并設置電流閾值，以確定測試是否已通過。同樣，取決于應?程序，此值可能會有所不同。對于類型測試場景，在100mA區(qū)域內(nèi)的限制是相當常?的，在這些場景中，測試是在更受控的實驗室類型環(huán)境中進?的。在?產(chǎn)線上進?測試時，這些限制通常要低得多，以確保測試操作員的安全，通常5mA以內(nèi)是可以接受的。這種類型的測試通常不是破壞性的，除?設備中已經(jīng)存在故障，因此它是?產(chǎn)環(huán)節(jié)中是非常常?的測試。但是作為測試時間更長的形式測試，可能會削弱絕緣材料的完整性。因此，形式測試的產(chǎn)品通常被認為不適合銷售。

介電擊穿測試

介質(zhì)故障測試以與上述相同的?式進?，唯一的區(qū)別在于，它沒有規(guī)定最?電壓，通常也沒有規(guī)定測試時間。

而是電壓逐漸增加，直到被測試產(chǎn)品的絕緣體?法再承受電壓并發(fā)生擊穿擊穿。這種電壓是絕緣體變得導電的點。

在這種情況下，關(guān)鍵參數(shù)是擊穿點的電壓。

如上所述，該測試的性質(zhì)可以被視為具有破壞性，?的是迫使DUT達到擊穿點。因此，這種類型的測試僅在研發(fā)環(huán)境中進?，不適?于常規(guī)測試，因為它會使設備處于不安全狀態(tài)。

結(jié)論

可以看出，這兩種測試?法在確定產(chǎn)品的整體安全性??都有一席之地，它們的區(qū)別主要是在于測試的目的。明白這一點后，我們就能知道，為什么介電擊穿測試僅用于研發(fā)階段，而介電耐壓測試廣泛的應用于生產(chǎn)階段。