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      1/f產(chǎn)品特性及優(yōu)勢的介紹

      芯?？萍?/a> ? 來源：芯睿科技 ? 作者：芯?？萍?/span> ? 2022-06-21 14:59 ? 次閱讀
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      將多種多樣的測量設(shè)備與探針臺進(jìn)行整合是相當(dāng)復(fù)雜的，這是因為在各種不同組成部分之間存在諸多的相互影響因素。在片的 1/f 噪聲測量是任何特性分析和建模測試系統(tǒng)至關(guān)重要的組成部分。由于靈敏度要求的原因，它們會很容易遭受外部干擾源的破壞。為了克服這些難題，我們必須擁有由眾所周知且經(jīng)過預(yù)先驗證的配置構(gòu)成的全面解決方案，從而確保包含所有的組成部分以完成盡可能好的測量。

      MeasureOne 優(yōu)勢

      • 有保證的配置
      • 準(zhǔn)確和可重復(fù)的晶圓級 1/f 及 RTN 測量
      • 經(jīng)過預(yù)先驗證的系統(tǒng)配置
      • 由專業(yè)的工程師負(fù)責(zé)安裝
      • 由解決方案專家實現(xiàn)系統(tǒng)優(yōu)化

      解決方案組件

      • Cascade 200 mm或300 mm半自動探針臺系統(tǒng)
      • Velox? 軟件
      • DCP 探針、ACP 探針、In?nity ?探針、或 |Z|?探針
      • DPP 精準(zhǔn)型 DC 定位器
      • Keysight Technologies E4727A 高級低頻分析儀 (A-LFNA)
      • Keysight Technologies B1500A 半導(dǎo)體器件參數(shù)分析儀
      • Keysight Technologies WaferPro Express 軟件和 A-LFNA

      審核編輯：符乾江

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