電子發(fā)燒友網(wǎng)報(bào)道(文/周凱揚(yáng))盡管制造工藝的推進(jìn)速度已經(jīng)放緩,芯片設(shè)計(jì)的復(fù)雜程度依然絲毫不減,對(duì)于芯片設(shè)計(jì)者來(lái)說(shuō),在這樣一個(gè)AI驅(qū)動(dòng)的時(shí)代下,如果不能將AI為自己所用,無(wú)疑會(huì)讓自己乃至整個(gè)設(shè)計(jì)項(xiàng)目的效率停滯不前。雖說(shuō)大家都已經(jīng)察覺(jué)到AI開(kāi)始滲透進(jìn)EDA工具中,那么現(xiàn)階段的AI,究竟能解決哪些設(shè)計(jì)上的挑戰(zhàn)呢?
驗(yàn)證
驗(yàn)證是芯片設(shè)計(jì)中最大的挑戰(zhàn)之一,我們已經(jīng)見(jiàn)識(shí)過(guò)了價(jià)格高昂的專用驗(yàn)證硬件,以及驗(yàn)證上云的潮流,這些都足以說(shuō)明驗(yàn)證是芯片設(shè)計(jì)中一個(gè)多么耗費(fèi)資源的過(guò)程,這里指代的也不僅僅是硬件計(jì)算資源,還有時(shí)間資源。驗(yàn)證所耗時(shí)間甚至可能高過(guò)其他流程,這些年諸多芯片開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)中的驗(yàn)證工程師人數(shù)也在逐漸增長(zhǎng),增速甚至已經(jīng)超過(guò)了設(shè)計(jì)工程師,然而業(yè)內(nèi)卻很少有人去優(yōu)化驗(yàn)證這個(gè)流程。
AI的出現(xiàn)終于讓這個(gè)缺口出現(xiàn)了松動(dòng),不少?gòu)S商都開(kāi)始利用AI去優(yōu)化驗(yàn)證這一流程,比如通過(guò)覆蓋率預(yù)測(cè)和激勵(lì)優(yōu)化來(lái)加速覆蓋率達(dá)標(biāo)。Cadence也在今年發(fā)布了Verisium AI驅(qū)動(dòng)驗(yàn)證平臺(tái),根據(jù)Cadence的說(shuō)法,Verisium 的出現(xiàn)意味著SoC驗(yàn)證從單運(yùn)行單引擎算法,轉(zhuǎn)向了由AI和大數(shù)據(jù)輔助的多運(yùn)行多引擎算法,從而減少了調(diào)試周轉(zhuǎn)時(shí)間、提高了調(diào)試效率,還會(huì)自動(dòng)對(duì)失敗測(cè)試案例分類(lèi),減少人為分析的工作量。
模擬設(shè)計(jì)自動(dòng)化
相對(duì)數(shù)字IC設(shè)計(jì)來(lái)說(shuō),模擬IC的設(shè)計(jì)顯然在自動(dòng)化程度上還是差了不少的。在數(shù)字電路的設(shè)計(jì)過(guò)程中,整個(gè)流程的自由度是在逐級(jí)降低的。模擬電路設(shè)計(jì)雖然也是如此,但其下降幅度還是不比數(shù)字電路設(shè)計(jì)的,尤其是在布局布線和驗(yàn)證上,所以自動(dòng)化一直沒(méi)有提上日程,現(xiàn)階段大部分模擬電路設(shè)計(jì)主要還是取決于設(shè)計(jì)者本身的直覺(jué)、技能和經(jīng)驗(yàn)。
有了AI的幫助后,EDA工具在大量數(shù)據(jù)的訓(xùn)練下給出了先進(jìn)的機(jī)器學(xué)習(xí)算法,使得模擬電路的布局布線有了更高效的自動(dòng)化流程,尤其是在約束提取和生成,布局優(yōu)化上,模擬電路的優(yōu)化和生成及仿真驗(yàn)證也可以在AI驅(qū)動(dòng)下獲得提速。如此一來(lái),每個(gè)模擬電路設(shè)計(jì)的迭代數(shù)量會(huì)進(jìn)一步減少,芯片的上市周期也隨之縮短。
系統(tǒng)集成
近幾年流行起來(lái)的UCIe、Chiplet、3D封裝等,其實(shí)都是一個(gè)系統(tǒng)集成的概念。以此引入的設(shè)計(jì)與制造優(yōu)化方案也受到了持續(xù)關(guān)注,比如DTCO等。如何集成更多的晶體管、更多的內(nèi)存以及邏輯+內(nèi)存集成,還有最后軟件聯(lián)合硬件的熱管理等,都是系統(tǒng)集成需要考慮的問(wèn)題。
那么AI該如何從系統(tǒng)集成上進(jìn)行優(yōu)化呢?答案就是提供一個(gè)更高效探索設(shè)計(jì)空間的路線,能夠給出預(yù)測(cè)模型和更快的實(shí)現(xiàn)方式,例如新思的DSO.ai和Fusion Complier,就提供了完備的AI設(shè)計(jì)方案,以求實(shí)現(xiàn)更好的PPA和更快的設(shè)計(jì)驗(yàn)收。據(jù)了解,新思的這些方案最近在臺(tái)積電的N3E工藝上得到了驗(yàn)證,為高性能計(jì)算、AI和移動(dòng)設(shè)備等計(jì)算密集負(fù)載提供了增強(qiáng)的功耗、性能和良率。
寫(xiě)在最后
其實(shí)一旦芯片設(shè)計(jì)進(jìn)入AI輔助的時(shí)代,也對(duì)設(shè)計(jì)工程師們提出了相應(yīng)的更高要求,因?yàn)椴簧俚图?jí)設(shè)計(jì)問(wèn)題已經(jīng)被AI預(yù)測(cè)、優(yōu)化和生成給解決了。設(shè)計(jì)工程師們需要在更高層級(jí)的設(shè)計(jì)上實(shí)現(xiàn)創(chuàng)新,比如系統(tǒng)/軟件聯(lián)合優(yōu)化等等,這樣自己才不會(huì)被“優(yōu)化”掉。設(shè)計(jì)工程師們的專業(yè)技能,未來(lái)也會(huì)更加趨向于數(shù)據(jù)科學(xué)家需要掌握的技能,而數(shù)據(jù)科學(xué)家們也說(shuō)不定會(huì)因此獲得搶設(shè)計(jì)工程師飯碗的機(jī)會(huì)。
驗(yàn)證
驗(yàn)證是芯片設(shè)計(jì)中最大的挑戰(zhàn)之一,我們已經(jīng)見(jiàn)識(shí)過(guò)了價(jià)格高昂的專用驗(yàn)證硬件,以及驗(yàn)證上云的潮流,這些都足以說(shuō)明驗(yàn)證是芯片設(shè)計(jì)中一個(gè)多么耗費(fèi)資源的過(guò)程,這里指代的也不僅僅是硬件計(jì)算資源,還有時(shí)間資源。驗(yàn)證所耗時(shí)間甚至可能高過(guò)其他流程,這些年諸多芯片開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)中的驗(yàn)證工程師人數(shù)也在逐漸增長(zhǎng),增速甚至已經(jīng)超過(guò)了設(shè)計(jì)工程師,然而業(yè)內(nèi)卻很少有人去優(yōu)化驗(yàn)證這個(gè)流程。
AI的出現(xiàn)終于讓這個(gè)缺口出現(xiàn)了松動(dòng),不少?gòu)S商都開(kāi)始利用AI去優(yōu)化驗(yàn)證這一流程,比如通過(guò)覆蓋率預(yù)測(cè)和激勵(lì)優(yōu)化來(lái)加速覆蓋率達(dá)標(biāo)。Cadence也在今年發(fā)布了Verisium AI驅(qū)動(dòng)驗(yàn)證平臺(tái),根據(jù)Cadence的說(shuō)法,Verisium 的出現(xiàn)意味著SoC驗(yàn)證從單運(yùn)行單引擎算法,轉(zhuǎn)向了由AI和大數(shù)據(jù)輔助的多運(yùn)行多引擎算法,從而減少了調(diào)試周轉(zhuǎn)時(shí)間、提高了調(diào)試效率,還會(huì)自動(dòng)對(duì)失敗測(cè)試案例分類(lèi),減少人為分析的工作量。
模擬設(shè)計(jì)自動(dòng)化
相對(duì)數(shù)字IC設(shè)計(jì)來(lái)說(shuō),模擬IC的設(shè)計(jì)顯然在自動(dòng)化程度上還是差了不少的。在數(shù)字電路的設(shè)計(jì)過(guò)程中,整個(gè)流程的自由度是在逐級(jí)降低的。模擬電路設(shè)計(jì)雖然也是如此,但其下降幅度還是不比數(shù)字電路設(shè)計(jì)的,尤其是在布局布線和驗(yàn)證上,所以自動(dòng)化一直沒(méi)有提上日程,現(xiàn)階段大部分模擬電路設(shè)計(jì)主要還是取決于設(shè)計(jì)者本身的直覺(jué)、技能和經(jīng)驗(yàn)。
有了AI的幫助后,EDA工具在大量數(shù)據(jù)的訓(xùn)練下給出了先進(jìn)的機(jī)器學(xué)習(xí)算法,使得模擬電路的布局布線有了更高效的自動(dòng)化流程,尤其是在約束提取和生成,布局優(yōu)化上,模擬電路的優(yōu)化和生成及仿真驗(yàn)證也可以在AI驅(qū)動(dòng)下獲得提速。如此一來(lái),每個(gè)模擬電路設(shè)計(jì)的迭代數(shù)量會(huì)進(jìn)一步減少,芯片的上市周期也隨之縮短。
系統(tǒng)集成
近幾年流行起來(lái)的UCIe、Chiplet、3D封裝等,其實(shí)都是一個(gè)系統(tǒng)集成的概念。以此引入的設(shè)計(jì)與制造優(yōu)化方案也受到了持續(xù)關(guān)注,比如DTCO等。如何集成更多的晶體管、更多的內(nèi)存以及邏輯+內(nèi)存集成,還有最后軟件聯(lián)合硬件的熱管理等,都是系統(tǒng)集成需要考慮的問(wèn)題。
那么AI該如何從系統(tǒng)集成上進(jìn)行優(yōu)化呢?答案就是提供一個(gè)更高效探索設(shè)計(jì)空間的路線,能夠給出預(yù)測(cè)模型和更快的實(shí)現(xiàn)方式,例如新思的DSO.ai和Fusion Complier,就提供了完備的AI設(shè)計(jì)方案,以求實(shí)現(xiàn)更好的PPA和更快的設(shè)計(jì)驗(yàn)收。據(jù)了解,新思的這些方案最近在臺(tái)積電的N3E工藝上得到了驗(yàn)證,為高性能計(jì)算、AI和移動(dòng)設(shè)備等計(jì)算密集負(fù)載提供了增強(qiáng)的功耗、性能和良率。
寫(xiě)在最后
其實(shí)一旦芯片設(shè)計(jì)進(jìn)入AI輔助的時(shí)代,也對(duì)設(shè)計(jì)工程師們提出了相應(yīng)的更高要求,因?yàn)椴簧俚图?jí)設(shè)計(jì)問(wèn)題已經(jīng)被AI預(yù)測(cè)、優(yōu)化和生成給解決了。設(shè)計(jì)工程師們需要在更高層級(jí)的設(shè)計(jì)上實(shí)現(xiàn)創(chuàng)新,比如系統(tǒng)/軟件聯(lián)合優(yōu)化等等,這樣自己才不會(huì)被“優(yōu)化”掉。設(shè)計(jì)工程師們的專業(yè)技能,未來(lái)也會(huì)更加趨向于數(shù)據(jù)科學(xué)家需要掌握的技能,而數(shù)據(jù)科學(xué)家們也說(shuō)不定會(huì)因此獲得搶設(shè)計(jì)工程師飯碗的機(jī)會(huì)。
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發(fā)表于 11-18 10:16
【「AI芯片:科技探索與AGI愿景」閱讀體驗(yàn)】+AI芯片到AGI芯片
、分布式群體智能
1)物聯(lián)網(wǎng)AGI系統(tǒng)
優(yōu)勢(shì):
組成部分:
2)分布式AI訓(xùn)練
7、發(fā)展重點(diǎn):基于強(qiáng)化學(xué)習(xí)的后訓(xùn)練與推理
8、超越大模型:神經(jīng)符號(hào)計(jì)算
三、AGI芯片的實(shí)現(xiàn)
1、技術(shù)需求
AI取得成功
發(fā)表于 09-18 15:31
【「AI芯片:科技探索與AGI愿景」閱讀體驗(yàn)】+AI的科學(xué)應(yīng)用
流體芯片
⑤AI計(jì)算平臺(tái)
⑥基于AI的自主決策系統(tǒng)
⑦基于AI的自主學(xué)習(xí)系統(tǒng)
2、面臨的挑戰(zhàn)
①需要造就一個(gè)跨學(xué)科、全面性覆蓋的知識(shí)庫(kù)和科學(xué)基礎(chǔ)模型
②需要解決信息不準(zhǔn)確和認(rèn)知偏差問(wèn)題
發(fā)表于 09-17 11:45
【「AI芯片:科技探索與AGI愿景」閱讀體驗(yàn)】+AI芯片的需求和挑戰(zhàn)
的工作嗎?
從書(shū)中也了解到了AI芯片都有哪些?像CPU、GPU、FPGA、ASIC都是AI芯片。
其他的還是知道的,F(xiàn)PGA屬于AI
發(fā)表于 09-12 16:07
康耐視AI視覺(jué)如何破解電商行業(yè)痛點(diǎn)
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【「AI芯片:科技探索與AGI愿景」閱讀體驗(yàn)】+可期之變:從AI硬件到AI濕件
的不同。隨著AI熱潮的興起,大腦的抽象模型已被提煉成各種的AI算法,并使用半導(dǎo)體芯片技術(shù)加以實(shí)現(xiàn)。
而大腦是一個(gè)由無(wú)數(shù)神經(jīng)元通過(guò)突觸連接而成的復(fù)雜網(wǎng)絡(luò),是極其復(fù)雜和精密的。大腦在本質(zhì)上就是一臺(tái)濕潤(rùn)的軟組織
發(fā)表于 09-06 19:12
【「AI芯片:科技探索與AGI愿景」閱讀體驗(yàn)】+內(nèi)容總覽
《AI芯片:科技探索與AGI愿景》這本書(shū)是張臣雄所著,由人民郵電出版社出版,它與《AI芯片:前沿技術(shù)與創(chuàng)新未來(lái)》一書(shū)是姊妹篇,由此可見(jiàn)作者在AI
發(fā)表于 09-05 15:10
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發(fā)表于 08-19 08:58
破局電機(jī)制造四大痛點(diǎn):MES與AI視覺(jué)的協(xié)同智造實(shí)踐
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