負(fù)載電流的檢測(cè)最簡(jiǎn)單的方式一般為在電流回路中串接一個(gè)小電阻，檢測(cè)電阻兩端的電壓;因近期項(xiàng)目需要，看了一些文章，以下是兩個(gè)經(jīng)典方案，作為參考，在根據(jù)具體設(shè)計(jì)進(jìn)行調(diào)整。

一、低端運(yùn)放電流檢測(cè)方法

個(gè)人認(rèn)為此種檢測(cè)電路思想是比較好的一個(gè)方案，可以降低器件選型的參數(shù)要求以及忽略負(fù)載電壓的變化，不過PCB布板設(shè)計(jì)上要注意，布板不合理，電流采樣會(huì)有問題。

分析下原理：

運(yùn)用運(yùn)放的虛短特性，既得到了：

V+ = V-;

運(yùn)用運(yùn)放的虛斷特性，既輸入端和輸出端沒有電流流過。所以R3和R6流過電流相等。

(VOUT-V-)/R3 = V-/R6;

由上面兩個(gè)式子即可得到

VOUT = V+ * (R3 + R6)/R6;

而又有：

V+ = I * R8;

所以有：

I =V+ / R8 = VOUT * R6/(R3 + R6)/R8;

電流就這樣轉(zhuǎn)換出來了，調(diào)整好幾個(gè)電阻的阻值，Vout 用單片機(jī)的ADC采樣即可。

二、高端電流檢測(cè)電路

此種電路檢測(cè)是常用的電流檢測(cè)方式，但其存在的問題就是負(fù)載電壓的變化與電路參數(shù)相關(guān)性太強(qiáng)，不好進(jìn)行匹配。

這個(gè)電路要檢測(cè)電流最終的目的就是要得到圖上VOUT和V1、V2的關(guān)系。

先來分析下輸入端，虛斷可知：

V+/R7 = (V2-V+)/R5;

虛短得到：

V+=V-;

輸入負(fù)極的一條路電流是相等的:

(V--VOUT)/R1 = (V1-V-)/R2;

通常在使用該電路的時(shí)候有R1 = R7、R2 = R5。

綜合上式有：

VOUT = (V2-V1)*R1/R2;

V2-V1 = I*R4;

所以

I = VOUT*R2/(R1*R4) ;