電磁兼容(EMC)包括電磁干擾(EMI)和電磁抗擾度(EMS)兩部分。簡而言之，EMI是電子設備對外部電磁環(huán)境的干擾，EMS是電子設備抵抗外部電磁環(huán)境干擾的能力。無論是EMI還是EMS，都包括輻射和傳導兩部分。EMC認證是任何電子設備必須遵從的，EMI是EMC中的重要部分。

EMI測試包括如下幾類：1.EMC認證機構在EMC實驗室進行認證測試2.企業(yè)質檢部門利用EMI接收機或高指標頻譜儀進行EMI預認證測試3.產品研發(fā)、調測部門利用頻譜儀進行EMI診斷4.產品研發(fā)調測部門利用示波器測試電源紋波、時鐘抖動等特性，因為它們是產生EMI的因素之一。

前段時間，西安航天城某公司通過朋友介紹，聯(lián)系到我們，表示需要測試公司研發(fā)的某電子設備電路板，經(jīng)溝通了解，我們發(fā)現(xiàn)該公司設備自身工作并不正常，電路板內FPGA處有較強的EMI 輻射，影響通信質量。

我們?yōu)樵摴就扑]了泰克MDO4104-6+近場探頭進行EMI測試。對于幅度隨時間變化的頻譜，MDO的優(yōu)勢在于調制域分析，為此我們打開MDO幅度隨時間變化曲線顯示功能，用MDO射頻功率觸發(fā)得到如下測試結果：

由于該電路板EMI呈周期性變化，既然FPGA的設計難以在短時間內更改，我們能否通過有效的控制手段，讓有用的射頻信號在突發(fā)周期間隔中底噪較低的時刻發(fā)射，而在突發(fā)幅度時刻不發(fā)射有用信息？

客戶認為此方法可行。底噪呈周期性變化，必定與電路板中某種控制信號相關，雖然我們已經(jīng)測試出突發(fā)底噪變化的周期，但如果我們不知道這種周期與哪種控制相關，上述設想就難以實現(xiàn)。由于客戶對其內部控制時序相當熟悉，94uS的周期剛好是該電路板高速 USB 信號傳輸控制周期。為了驗證這一假設，我們將MDO示波器通道1接到高速USB 控制測試點，同時測試射頻頻譜，得到如下結果

以上測試結果充分證明了通道1中的高速USB信號與底噪突發(fā)抬升的規(guī)律相同，證明二者相關。高速USB的時序由嵌入式程序控制，因此只要在程序中控制射頻在高速USB信號發(fā)出后延遲50uS發(fā)射，發(fā)射持續(xù)時間小于40uS即可。

最終，我們利用MDO跨域分析及調制域分析功能，成功地確認EMI與高速USB信號相關，通過時序控制，跨域有效避免以前難以解決的問題，幫客戶解決了重新設計FPGA和產品的難題，節(jié)約了時間和經(jīng)費，獲得了客戶好評。

審核編輯黃宇