在半導(dǎo)體、汽車、醫(yī)療等高端制造行業(yè)，源表通常被用于半導(dǎo)體材料或精密器件的電性能特性測(cè)試和生產(chǎn)測(cè)試應(yīng)用，以及中低電平測(cè)試和實(shí)驗(yàn)室研究使用。源表采用四象限工作模式，可以在提供精密電壓、電流源的同時(shí)，又能夠作為電壓、電流、電子負(fù)載使用，集“源”和“表”的功能于一體。

源表，又叫做SMU(Source Measure Unit)源測(cè)量單元，1989年出生，如今已過(guò)而立之年，以不可更改的姿態(tài)走過(guò)了一段崢嶸歲月。

Stage 1:進(jìn)口源表稱霸江湖二十載

1989年，第一臺(tái)進(jìn)口數(shù)字源表(SMU)誕生。在此后的二十多年時(shí)間里，市場(chǎng)被其壟斷，占有率達(dá)到80%。受限于高端測(cè)試裝備的基礎(chǔ)研究不足，以及缺乏先進(jìn)工藝等因素，多年時(shí)間內(nèi)，國(guó)內(nèi)沒(méi)有一家企業(yè)能實(shí)現(xiàn)源表的自主研發(fā)。

九十年代中期，國(guó)內(nèi)開始引進(jìn)進(jìn)口的數(shù)字源表。在國(guó)內(nèi)的研究中，數(shù)字源表主要被用于特定材料和精密器件的實(shí)驗(yàn)和測(cè)試環(huán)境搭建。但由于進(jìn)口源表價(jià)格昂貴，且供貨周期長(zhǎng)，中小企業(yè)不堪重負(fù)，在電子課程教學(xué)和實(shí)驗(yàn)室中也未能廣泛應(yīng)用。

而電性能特性又是表征半導(dǎo)體材料和精密器件性能的重要指標(biāo)，隨著半導(dǎo)體等高科技行業(yè)的勃發(fā)，高端檢測(cè)設(shè)備在產(chǎn)業(yè)鏈上呈現(xiàn)出巨大的需求。

Stage 2:加速替代“舶來(lái)品”，國(guó)產(chǎn)化源表躋身市場(chǎng)

2015年，面對(duì)國(guó)內(nèi)市場(chǎng)的迫切需求，普賽斯率先開始對(duì)源表進(jìn)行研究開發(fā)。對(duì)其工作框架的邏輯關(guān)系、主要功能電路、主要算法都進(jìn)行了系列研究，依托領(lǐng)先的光學(xué)與光電技術(shù)、微弱信號(hào)處理與抗干擾技術(shù)、高速數(shù)字信號(hào)處理、核心算法與系統(tǒng)集成等技術(shù)平臺(tái)優(yōu)勢(shì)，普賽斯成為國(guó)內(nèi)率先自主推出數(shù)字源表的企業(yè)。

自此，國(guó)產(chǎn)化源表打破了國(guó)外的技術(shù)壁壘，實(shí)現(xiàn)進(jìn)口替代。且價(jià)格優(yōu)勢(shì)明顯，服務(wù)響應(yīng)迅速，得到國(guó)內(nèi)通信巨頭的認(rèn)證。

時(shí)隔八年，國(guó)產(chǎn)化數(shù)字源表的發(fā)展雖然較為緩慢，但得益于巨大的市場(chǎng)需求驅(qū)動(dòng)，眾多高端儀器設(shè)備廠家紛紛入局，國(guó)產(chǎn)化源表呈現(xiàn)“百花齊放”的態(tài)勢(shì)。

Stage 3:八年磨一劍，是開路人也是攀登者

國(guó)產(chǎn)化源表的研究開發(fā)先后經(jīng)歷了引進(jìn)、發(fā)展、創(chuàng)新三個(gè)階段。起初，由于國(guó)內(nèi)對(duì)于數(shù)字源表的研究還處于剛起步階段，市場(chǎng)上的國(guó)產(chǎn)化源表雖然在功能上實(shí)現(xiàn)源、測(cè)的功能，但是在整體性能和進(jìn)口源表還有一定的差距，例如測(cè)量精度、測(cè)量速度以及長(zhǎng)期穩(wěn)定性等。

普賽斯儀表深耕半導(dǎo)體電性能測(cè)試領(lǐng)域。八年磨一劍!核心產(chǎn)品數(shù)字源表的功能不斷升級(jí)完善，于2023年初推出SXXB系列高精度數(shù)字源表，操作更加智能和便捷，測(cè)量精度進(jìn)一步提高至±0.03%，最大直流電流升級(jí)至3A，以適用于更復(fù)雜和精密的測(cè)量環(huán)境。

此外，基于核心的數(shù)字源表，普賽斯儀表攻克一個(gè)又一個(gè)技術(shù)難關(guān)，橫向拓展了脈沖式源表、窄脈沖電流源、集成插卡式源表、高精度的超大電流源、高精度高壓電源、數(shù)據(jù)采集卡等一站式國(guó)產(chǎn)化電性能測(cè)試儀表，實(shí)現(xiàn)了半導(dǎo)體全產(chǎn)業(yè)鏈的測(cè)試需求覆蓋。

審核編輯：湯梓紅