您是否還在煩惱接觸式測(cè)量?jī)x時(shí)常發(fā)生的探針損壞以及樣品損傷？也許非接觸式測(cè)量?jī)x才能滿足您的測(cè)量需求。

小優(yōu)博士為您解惑！

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獲取微觀輪廓信息的測(cè)量方式分為“非接觸式”和“接觸式”兩種，顧名思義這兩種本質(zhì)上的區(qū)別就是是否與被測(cè)物表面接觸。

常見(jiàn)接觸式測(cè)量?jī)x包含探針式粗糙度儀、臺(tái)階儀、探針式輪廓儀，通過(guò)探針直接接觸表面記錄輪廓變化從而獲取輪廓、高度、粗糙度等信息。

“接觸式測(cè)量”應(yīng)用極其廣泛，但是也存在如下幾個(gè)問(wèn)題：

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面對(duì)半導(dǎo)體制造及封裝工藝、光學(xué)鏡片、微納材料、醫(yī)療器械等新興精密產(chǎn)品，優(yōu)可測(cè)提供精確且快速的“非接觸式”測(cè)量輪廓、高度、粗糙度解決方案：

圖4-太陽(yáng)能柵線高度輪廓及其高度（在線快速檢測(cè)）·AR系列 AR-7020拍攝

圖5-掩模版（軟質(zhì)材料）臺(tái)階高度測(cè)量· AM系列 EX-230 拍攝

圖6-種植牙表面粗糙度測(cè)量（無(wú)損傷）· AM系列 EX-230 拍攝

圖7-玻璃表面噴砂形貌 精細(xì)表面紋路觀察· AM系列 EX230 拍攝

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關(guān)注小優(yōu)博士，下期繼續(xù)給大家科普吧！

審核編輯黃宇