作為知名的可靠性檢測設(shè)備制造商，我們有許多來自電子元件器行業(yè)的客戶。我們有非常完美的生產(chǎn)經(jīng)驗。今天，關(guān)注我們，了解電子元器件行業(yè)高低溫環(huán)境試驗設(shè)備的可靠性檢測。

零件是整機(jī)的基礎(chǔ)。在制造過程中，由于固有缺陷或制造過程控制不當(dāng)，可能會導(dǎo)致與時間或應(yīng)力相關(guān)的故障。

為了保證整批電子元器件的可靠性，滿足整機(jī)的要求，在使用環(huán)境中可能出現(xiàn)初始故障的電子元器件必須被淘汰。電子元器件故障率隨時間變化的過程可以用“浴缸曲線”描述故障率曲線。初始故障率隨著時間的增加而迅速下降。故障率在使用壽命(或意外故障期)基本不變。

1、高低溫環(huán)境試驗設(shè)備用于高溫儲存

電子元器件的故障主要是由機(jī)體和表面的各種物理化學(xué)變化引起的，與溫度密切相關(guān)。溫度升高后，化學(xué)反應(yīng)速度大大加快，故障過程也加快。有缺陷的部件可以及時暴露和清除。

半導(dǎo)體器件廣泛采用高溫篩選，能有效去除表面污染.鍵合不良.氧化層缺陷等是失效機(jī)制的器件。通常在最高結(jié)溫下儲存24至168小時。

高溫篩選簡單.便宜，可以在許多部件中實現(xiàn)。高溫儲存后，可以穩(wěn)定電子元器件的參數(shù)性能，減少使用時的參數(shù)漂移。合理選擇各部件的熱應(yīng)力和篩選時間，防止新的故障機(jī)制。

2、高低溫環(huán)境試驗設(shè)備用于篩選功率和電老化

在篩選過程中，在熱電應(yīng)力的綜合影響下，能夠有效的暴露出電子元器件本體和表面的多種潛在缺陷，是可靠性篩選的重要本身。

各種電子元器件通常在額定功率環(huán)境中老化數(shù)小時至168小時。有些產(chǎn)品，如集成電路，不能隨意改變條件，但可以選擇高溫工作方法，提高工作溫度，達(dá)到高應(yīng)力狀態(tài)。應(yīng)適當(dāng)選擇電子元器件的電應(yīng)力，可等于或略高于額定條件，但不能引入新的失效機(jī)制。

電源老化需要特殊的檢測設(shè)備，成本高，篩選時間不宜過長。民用產(chǎn)品一般需要幾個小時，軍用高可靠性商品可以選擇100、168小時，航空級部件可選擇240小時甚至更長的周期。

3、高低溫環(huán)境試驗設(shè)備的溫度循環(huán)

電子設(shè)備在使用過程中會遇到不同的環(huán)境溫度條件。在熱脹冷縮的應(yīng)力影響下，熱匹配性能差的電子元器件容易出現(xiàn)故障。溫度循環(huán)篩選利用極高溫和極低溫之間的熱升冷縮應(yīng)力，可以有效去除熱性能缺陷的商品。電子元器件常用的篩選條件為-55℃～125℃，循環(huán)5～10次。