開課倒計時20天

課程名稱：《硬件電路可靠性設(shè)計、測試與案例分析》

講師：王老師

時間地點：上海3月9日-11日

主辦單位：賽盛技術(shù)

課程特色

1.案例多，案例均來自于電路設(shè)計缺陷導致的實際產(chǎn)品可靠性問題

2.課程內(nèi)容圍繞電路可靠性設(shè)計所涉及的主要環(huán)節(jié)，針對電路研發(fā)過程中可能遇到可靠性問題，針對電路設(shè)計、元器件應用中潛在的缺陷，基于大量工程設(shè)計實例和故障案例，進行深入解析

3.每個技術(shù)要點，均通過工程實踐中的實際案例分析導入，并從案例中提取出一般性的方法、思路，引導學員，將這些方法落地，在工程實踐中加以應用

面向人群

硬件設(shè)計工程師，硬件測試工程師，PCB設(shè)計工程師，EMC工程師，PI工程師，SI工程師，項目經(jīng)理，技術(shù)支持工程師，研發(fā)主管,研發(fā)總監(jiān),研發(fā)經(jīng)理,測試經(jīng)理,系統(tǒng)測試工程師，具有1年以上工作經(jīng)驗的硬件設(shè)計師、項目管理人員。

課程內(nèi)容

第一章 與硬件電路可靠性相關(guān)的幾個關(guān)鍵問題的分析

在硬件電路的可靠性設(shè)計中，以下8個關(guān)鍵點至關(guān)重要。對每個關(guān)鍵點，Randy均基于具體的工程實例，加以詳細分析。

1.關(guān)鍵點1：質(zhì)量與可靠性的區(qū)別

2.關(guān)鍵點2：產(chǎn)品壽命與產(chǎn)品個體故障之間的關(guān)系

3.關(guān)鍵點3：硬件產(chǎn)品研發(fā)中不可忽略的法則

4.關(guān)鍵點4：硬件電路設(shè)計中提高可靠性的兩個主要方法

5.關(guān)鍵點5：板內(nèi)電路測試、系統(tǒng)測試、可靠性測試，三者間的關(guān)系

6.關(guān)鍵點6：關(guān)注溫度變化引起的電路特性改變，掌握其變化規(guī)律

7.關(guān)鍵點7：判斷是否可能出現(xiàn)潛在故障，最關(guān)鍵的判決依據(jù)

8.關(guān)鍵點8：穩(wěn)態(tài)和瞬態(tài)沖擊對電路應力的影響及其差別，以及如何從datasheet中提取這類要求

9.總結(jié)：針對可靠性，電路設(shè)計需要特別關(guān)注的關(guān)鍵點是什么？

第二章 電路元器件選型和應用中的可靠性

1.鉭電容、鋁電解電容、陶瓷電容，選型與應用中的可靠性問題，各類電容在哪些場合應避免使用，及案例分析

2.電感、磁珠，應用中的可靠性問題，及案例分析

3.共模電感（共模扼流圈）選型時的考慮因素與實例

4.二極管、肖特基二極管、三極管、MOSFET，選型與應用中的可靠性問題，及案例分析

5.晶體、晶振，應用中的可靠性問題，及案例分析

6.保險管應用中的可靠性問題，保險管選型與計算實例

7.光耦等隔離元器件應用中的可靠性問題，及從可靠性出發(fā)的參數(shù)計算方法

8.緩沖器（buffer）在可靠性設(shè)計中的應用與實例

9.I2C電路常見的可靠性問題與對策，及工程實例

10.電路上拉、下拉電阻的阻值計算與可靠性問題，及工程實例

11.復位電路常見的可靠性問題與案例分析

12.元器件參數(shù)值的偏差引起的可靠性問題，及計算實例

13.同一物料編碼下多個元器件的驗證，及故障案例分析

第三章 芯片應用中的可靠性

1.芯片容易受到的兩種損傷（ESD和EOS）及機理分析、工程實例解析

2.芯片信號接口受到的過沖及分析，工程案例解析

3.芯片的驅(qū)動能力及相關(guān)的可靠性問題，驅(qū)動能力計算方法與實例

4.是否需要采用擴頻時鐘，及其可靠性分析與案例解析

5.DDRx SDRAM應用中的可靠性問題與案例

6.Flash存儲器應用中的可靠性問題與案例

7.芯片型號導致的問題與案例分析、規(guī)避策略

8.讀懂芯片手冊---學會尋找datasheet提出的對設(shè)計的要求

9.芯片升級換代可能產(chǎn)生的可靠性問題，案例分析

10.高溫、低溫等極限環(huán)境對芯片的壓力分析、案例解析

11.信號抖動對芯片接收端工作的可靠性影響、調(diào)試方法與案例分析

第四章 元器件、芯片的降額設(shè)計與實例分析

1.當前企業(yè)里降額設(shè)計的工作模式

2.降額設(shè)計的兩個誤區(qū)與分析

3.降額的原理與分析

4.降額標準與企事業(yè)單位制定本單位降額標準的方式

5.工程設(shè)計中，關(guān)于降額的幾個問題與分析

6.元器件參數(shù)降額---電阻降額計算與分析實例

7.元器件參數(shù)降額---電容降額計算與分析實例

8.元器件參數(shù)降額---MOSFET降額計算與分析實例

9.元器件參數(shù)降額---芯片降額計算與分析實例

10.元器件參數(shù)降額---有些時候額定值不夠，需要升額

第五章 時鐘、濾波、監(jiān)測等電路設(shè)計中的可靠性

1.時鐘電路設(shè)計的可靠性

時鐘電路9個潛在的可靠性問題與案例分析

時鐘電路的PCB設(shè)計要點與案例分析

2.時序設(shè)計的可靠性問題與案例分析

3.濾波電路設(shè)計的可靠性

濾波電路7個潛在的可靠性問題與案例分析

濾波電路設(shè)計中，最難解決的兩個問題及其對可靠性的影響、解決對策

濾波電路PCB設(shè)計與潛在的可靠性問題、案例分析

4.監(jiān)測電路設(shè)計的可靠性

硬件電路設(shè)計中常用的監(jiān)測方法、5個關(guān)鍵監(jiān)測環(huán)節(jié)、工程設(shè)計實例分析

監(jiān)測電路的可靠性問題與案例分析

第六章 電路設(shè)計中與“熱”相關(guān)的可靠性

1.熱是如何影響電子產(chǎn)品的可靠性的？分析、計算與案例解析

2.在電子設(shè)計中，如何控制“熱”的影響---10個要點與案例分析

3.電路可靠性設(shè)計中關(guān)于“熱”的誤區(qū)---7個誤區(qū)與案例分析

4.元器件連續(xù)工作和斷續(xù)工作，對壽命的影響

第七章 電路保護、防護等設(shè)計中的可靠性

1.防反插設(shè)計中潛在的可靠性問題---結(jié)合實例分析

2.上電沖擊存在的可靠性問題與案例分析

3.I/O口的可靠性隱患---5種I/O口沖擊方式，案例解析與規(guī)避策略

4.主備冗余提高可靠性---幾種主備冗余的設(shè)計方法與實例

5.多電路板通過連接器互連的設(shè)計中，潛在的可靠性問題與解決方法

6.如何在過流保護電路的設(shè)計上提高可靠性，問題、策略與案例

7.如何在防護電路的設(shè)計上提高可靠性，常見問題、規(guī)避方法與案例解析

8.防護電路中TVS管應用的可靠性要點與應用實例

9.鉗位二極管應用中的可靠性問題，案例分析

10.低功耗設(shè)計中的可靠性隱患

第八章電源電路設(shè)計中的可靠性

1.選擇電源模塊還是選擇電源芯片自己搭建電源電路---這兩種方案各自的優(yōu)勢及潛在的問題、案例分析

2.采用集中式一級電源還是分布式兩級電源，各自的優(yōu)缺點

3.電源電路最容易導致可靠性問題的幾個環(huán)節(jié)---分析與案例

4.LDO電源容易產(chǎn)生的幾個可靠性問題，及案例分析

5.開關(guān)電源設(shè)計的六個可靠性問題---原理分析、實例波形、解決方法與工程策略

6.提高電源電路可靠性的16個設(shè)計要點與案例分析

第九章 PCB設(shè)計、抗干擾設(shè)計中的可靠性

1.表層走線還是內(nèi)層走線，各自的優(yōu)缺點，什么場合應優(yōu)選表層走線，什么場合應優(yōu)選內(nèi)層走線，實例分析

2.如何規(guī)避表層走線對EMI的貢獻---方法與實例

3.對PCB表層，在什么場合需要鋪地銅箔？什么場合不應該鋪地銅箔？該操作可能存在的潛在的可靠性問題

4.什么情況下應該做阻抗控制的電路板---實例分析

5.電源和地的噪聲對比

6.PCB設(shè)計中降低電源噪聲和干擾的策略

7.對PCB設(shè)計中信號環(huán)路的理解---環(huán)路對干擾和EMI的影響，環(huán)路形成的方式，哪種環(huán)路允許在PCB上存在且是有益的，各種情況的案例分析

8.PCB上，時鐘走線的處理方式與潛在的可靠性問題，及案例分析

9.在PCB設(shè)計中，如何隔離地銅箔上的干擾

10.在PCB設(shè)計中，容易忽略的、工廠工藝限制導致的可靠性問題與案例分析

11.PCB設(shè)計中，與可靠性有關(guān)的幾個要點與設(shè)計實例

12.電路設(shè)計中，針對PCB生產(chǎn)和焊接、組裝，可靠性設(shè)計的要點與實例分析

13.如何控制并檢查每次改板時PCB的具體改動，方法與實例

14.接地和抗干擾、可靠性的關(guān)系、誤區(qū)，7個綜合案例分析與課堂討論

15.如何配置FPGA管腳，以提高抗干擾性能與可靠性---設(shè)計實例與設(shè)計經(jīng)驗

第十章 FMEA與硬件電路的可靠性

1.解析FMEA

2.FMEA與可靠性的關(guān)系

3.FMEA可以幫助企業(yè)解決什么問題

4.FMEA在業(yè)內(nèi)開展的現(xiàn)狀

5.FMEA相關(guān)的標準與分析

6.FMEA計劃制定的10個步驟及各步驟的要點與實例分析

7.FMEA測試計劃書---實例解析、要點分析、測試方法

8.在產(chǎn)品研發(fā)周期中，F(xiàn)MEA開始的時間點

第十一章 軟硬件協(xié)同工作與可靠性

在很多場合，電子產(chǎn)品可靠性的提升，若能借助于軟件，則能省時省力，且效果更好。

因此硬件研發(fā)工程師需對軟件有一定的了解，并掌握如何與軟件部門協(xié)調(diào)，借助軟件的實現(xiàn)，提高電子產(chǎn)品可靠性的方法。

本章節(jié)，Randy基于多年產(chǎn)品研發(fā)的工作經(jīng)驗，總結(jié)出若干與軟件協(xié)同工作、提高可靠性的方法，并基于實際工程案例，詳細解析。

1.軟件與硬件電路設(shè)計可靠性的關(guān)系

2.軟硬件協(xié)同，提高可靠性的9個實例與詳細分析、策略與工程經(jīng)驗

優(yōu)質(zhì)售后服務，提升培訓效果

參訓學員或者企業(yè)在課程結(jié)束后，可以享受相關(guān)賽盛技術(shù)的電磁兼容技術(shù)方面優(yōu)質(zhì)售后服務，作為授課之補充，保證效果，達到學習目的。主要內(nèi)容如下：

1.【技術(shù)問題解答】培訓后一年內(nèi)，如有課程相關(guān)技術(shù)問題，可通過電話、郵件聯(lián)系賽盛技術(shù)，我們將第一時間協(xié)助回復。

2.【定期案例分享】分享不斷，學習不斷；

3.【技術(shù)交流群】加入正式技術(shù)交流群，與行業(yè)大咖零距離溝通；

4.【EMC元件選型技術(shù)支持】如學員在EMC元件選擇或應用上有不清楚的地方可隨時與賽盛技術(shù)溝通；

5.【往期經(jīng)典案例分析】行業(yè)典型EMC案例分享、器件選型等資料。

6.【研討會】不限人數(shù)參加賽盛技術(shù)線上或者線下研討會，企業(yè)內(nèi)部工程師可相互分享，共同成長。

7.【EMC測試服務】在賽盛技術(shù)進行EMC測試服務，可享受會員折扣服務！