高分辨率光學鏈路診斷儀（OCI）基于光頻域反射技術（OFDR），能輕松測試出光纖鏈路損耗情況。OFDR測試插損方式為，依據(jù)事件點兩側瑞利散射信號幅值差異，其高分辨率特性可以定位到厘米級損耗點。

借助環(huán)形器測試大插損光路

測試樣品為可調光衰減器，測試鏈路如圖2所示：

圖2.借助環(huán)形器測試大插損裝置示意圖

OCI測試整個光鏈路結果如圖3，距離-回損曲線在2.95719m位置出現(xiàn)最大回損峰值，對應整個光傳輸鏈路。由于OCI儀器默認顯示為反射式測量，而本鏈路中借助環(huán)形器是透射式測量，因此實際鏈路長度為顯示距離的兩倍5.91438m。該位置積分回損為-25.69dB，是環(huán)形器和可調光衰減器單向累積損耗總和。

圖3.OCI測試環(huán)形器連接可調光衰減器結果圖
使用OCI單獨測試光纖環(huán)形器，損耗測試裝置如圖4。

圖4.環(huán)形器損耗測試裝置示意圖

圖5.OCI測試環(huán)形器結果圖

測試結果如圖5，從圖中可以看出距離-回損曲線在1.86088m位置出現(xiàn)最大回損峰值（實際光纖環(huán)形器光鏈路長度為3.72176m），回損為-2.55dB，是環(huán)形器單向累積損耗總和。因此可調光衰減器插損為23.14dB (=25.69dB -2.55dB)。

使用功率計測試可調光衰減器插耗，測試裝置如圖6，測得可調光衰減器插耗為23.33dB，OFDR測量結果與功率計測量結果僅相差0.19dB。

圖6.功率計測試可調光衰減器損耗裝置示意圖

改變可調光衰減器插損，按照上述方法分別用OCI和功率計測試可調光衰減器插損值，下表為10次測量可調光衰減器插損值對比表。

表1.OCI和功率計測試插損對比表從表1可以看出OCI和功率計測試可調光衰減器插損對比誤差不超過0.3dB，且OCI測試值均比功率計測試值大，這是由于功率計測試鏈路時，比OCI測試鏈路多一個FC法蘭。

借助光纖環(huán)形器，OCI可以透射式測量大插損鏈路總體損耗，測試結果和功率計測試結果對比準確。