法國Phasics成立于2003年，提供最先進的光學(xué)計量和成像解決方案。PHASICS公司波前傳感器采用其獲得專利的四波橫向剪切干涉測量術(shù)(QWLSI)。這項技術(shù)克服Shack-Hartmann傳感器的局限性，從而可以獲得超高分辨率、高靈敏度(亞納米)和寬動態(tài)范圍。

近期法國PHASICS公司從法國商務(wù)部獲悉，公司提交申請的高精度紅外（3-5um &8-14um）/近紅外（900-1700nm）波前傳感器出口豁免申請已獲得通過。這就意味著客戶采購SID4-DWIR紅外（3-5um &8-14um）和SID4-SWIR近紅外（900-1700nm）波前傳感器時無需再提供最終用戶備案。

下面我們將為大家詳細的介紹下這幾款波前分析儀：

1.SID4-SWIR近紅外（900-1700nm）波前傳感器

圖1SID4-SWIR波前分析儀

SID4-SWIR近紅外（900-1700nm）波前傳感器產(chǎn)品特點：

高相位分辨率：160x128 or 80x64

高重復(fù)度：<2nm RMS

高測量精度：15nm RMS

工作波段：900-1700nm

高靈敏度：可適用于低功率紅外光源測試

瞬時相位測量，對振動不敏感

可接受非準(zhǔn)直光入射，光路搭建簡易快捷

2.SID4-DWIR紅外（3-5um & 8-14um）波前分析儀

圖2 SID4-DWIR波前分析儀

SID4-DWIR紅外（3-5um & 8-14um）波前分析儀產(chǎn)品特點：

寬工作波段：3-5um & 8-14um

高相位分辨率：160x120

高重復(fù)度：25nm RMS

高測量精度：75nm RMS

對振動不敏感

可接受非準(zhǔn)直光入射，光路搭建簡易快捷

3.近紅外 or紅外光學(xué)元器件面型、透射波前、MTF測試系統(tǒng)

圖3 KaleoKit紅外測試模組

近紅外 or 紅外光學(xué)元器件面型、透射波前、MTF測試系統(tǒng)產(chǎn)品特點：

多波長：266nm, 355nm, 405nm，550nm, 625nm, 780nm, 940nm, 1050 nm，1.55um, 2.0um, 3.39um, 10.6um

大口徑：Up to 5.1”(130mm)

高重復(fù)度精度：<0.7nm RMS

高測量精度：80nm PV

對震動不敏感

測試案例：

圖4 非球面測試結(jié)果
圖5 平面測試結(jié)果


圖6 鏡頭透射波前測試結(jié)果

圖7 鏡頭MTF測試結(jié)果