手持式藍(lán)光3D三維掃描儀的掃描方式是:
第一種二維掃描儀:點(diǎn)測量。適合做物體表面形位公差檢測用。
通過每一次的測量點(diǎn)反映物體表面特征，優(yōu)點(diǎn)是精度高，但速度慢，如果要做逆向工程，只能在測量高精密形位公差要求的物體上有優(yōu)勢.
第二種三維掃描儀:線測量，適合掃描中小件物體，掃描景深小(一般只有5公分)，精度較高，此代系統(tǒng)是發(fā)展比較成的,其新產(chǎn)品最高精度已經(jīng)達(dá)到0.01微米。所以，精度上，其比肩點(diǎn)掃描。速度上已有極大地提高。在高精度工業(yè)設(shè)計(jì)領(lǐng)域，將有廣闊用途.通過一段(一般為幾公分，激光線過長會發(fā)散》有效的激光線照射物體表面，再通過傳感器得到物體表面數(shù)據(jù)信息。

第二種二維掃描儀: 面測量
用于3D檢測:
金檢測和公差分析;檢具檢測;CAD比對;大型金屬構(gòu)架測。
通過一組(一面光)光柵的位移，再同時經(jīng)過傳感器而采集到物體表面的數(shù)據(jù)信息.