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如何應(yīng)用可靠性“加速模型”來評估IC可靠性測試滿足壽命評估需求

jf_pJlTbmA9 ? 來源:MPS ? 作者:MPS ? 2023-08-23 14:32 ? 次閱讀
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車輛設(shè)計(jì)必須考慮各種環(huán)境應(yīng)用,從白雪覆蓋的凍原到酷熱的沙漠。大多數(shù)消費(fèi)類應(yīng)用的預(yù)期使用壽命可能為數(shù)月,但汽車電子產(chǎn)品的使用壽命通常要長達(dá)15年甚至更久。OEM及其供應(yīng)商通常會制定一個(gè)汽車任務(wù)配置文件來說明一個(gè)汽車組件,這份文件本質(zhì)上即為組件在其使用壽命期間將面臨的所有預(yù)期環(huán)境和功能條件的總結(jié)。

與此同時(shí),用于汽車組件的集成電路 (IC) 通常需要根據(jù)汽車電子委員會的 AEC-Q100 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行認(rèn)證。適用于ADAS 傳感器融合和數(shù)字駕艙系統(tǒng)的理想組件必須在設(shè)計(jì)時(shí)就將這些規(guī)格考慮在內(nèi)。例如MPS 的 MPQ8875A-AEC1即為一款符合AEC-Q100認(rèn)證的40W 數(shù)字升降壓(Buck-Boost)變換器,它以小尺寸4mmx5mm QFN封裝提供30W功率。

本文將幫助讀者更好地理解任務(wù)配置文件與應(yīng)用于每個(gè)汽車級組件的各種電子元器件可靠性認(rèn)證測試之間的關(guān)聯(lián)。我們將探討幾個(gè)常見問題:

電子元器件在其使用壽命期間可能會面對哪些類型的應(yīng)力?

誰負(fù)責(zé)評定 IC 的可靠性能力?

如何應(yīng)用可靠性“加速模型”來評估IC可靠性測試滿足壽命評估需求?

行業(yè)通常會根據(jù)產(chǎn)品應(yīng)用的預(yù)期壽命來評估其可靠性。換句話說,即看一個(gè)應(yīng)用是否能夠承受整個(gè)產(chǎn)品壽命周期的應(yīng)力。為做出合理判斷,我們有必要了解應(yīng)用在其現(xiàn)場使用期間會面臨怎樣的應(yīng)力。然后,將這種預(yù)期的現(xiàn)場應(yīng)力與最初認(rèn)證的應(yīng)用中所有電子元器件的應(yīng)力進(jìn)行比較。這樣,就可以確定預(yù)期的現(xiàn)場應(yīng)力是否會使應(yīng)用中的器件應(yīng)力過度,從而導(dǎo)致過早失效。對于安全措施非常嚴(yán)格的汽車行業(yè)來說,這一點(diǎn)尤為重要。

任務(wù)配置文件用于模擬特定類型的現(xiàn)場應(yīng)力及其相關(guān)嚴(yán)重程度。最常參考的應(yīng)力與溫度/電壓和熱機(jī)械應(yīng)力相關(guān)。溫度/電壓應(yīng)力通常理解為IC中硅器件的主要老化效應(yīng)。這種老化效應(yīng)會影響材料特性,IC的性能也會隨時(shí)間退化。熱機(jī)械應(yīng)力是指器件因溫度變化而膨脹和收縮時(shí)產(chǎn)生的應(yīng)力。

我們的目標(biāo)是了解應(yīng)用在目標(biāo)壽命前,特定組件是否可以保證其性能。換句話說,應(yīng)用的目標(biāo)壽命是否能達(dá)到典型半導(dǎo)體可靠性浴缸曲線的損耗階段?由于半導(dǎo)體壽命有限,其故障率在損耗階段會因磨損而迅速增加。隨著時(shí)間的推移,應(yīng)力越大,達(dá)到固有壽命的時(shí)間就越早,磨損失效的可能性就越大(見圖 1)。

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圖1: 浴盆曲線

半導(dǎo)體制造商必須在新產(chǎn)品投入生產(chǎn)和投放市場之前對其進(jìn)行驗(yàn)證。在驗(yàn)證過程中,IC會進(jìn)行一系列應(yīng)力測試,以觸發(fā)并評估某些失效機(jī)制。在測試上述應(yīng)力時(shí),通常采用兩種非常有用的測試。

第一個(gè)是高溫工作壽命 (HTOL) 測試,它模擬工作條件以在測試室內(nèi)引發(fā)與溫度和電壓相關(guān)的失效機(jī)制(見圖 2)。第二個(gè)是溫度循環(huán) (TC) 測試,由于IC 由不同材料制成,而每種材料都具有不同的溫度系數(shù),通過TC測試給IC施加應(yīng)力以引發(fā)機(jī)械失效機(jī)制。

這只是IC在量產(chǎn)之前必須通過的兩種驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)。AEC-Q100 標(biāo)準(zhǔn)定義了汽車 IC 的整套認(rèn)證測試體系,其中許多測試在JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)中也進(jìn)行了規(guī)定。部分應(yīng)用對電子器件的可靠性要求還要更高,例如卡車和加強(qiáng)型車輛系統(tǒng),它們必須能夠承受雙倍的HTOL和TC測試等級應(yīng)力,才能滿足目標(biāo)任務(wù)配置文件要求。MPS的65V 降壓變換器MP4572-AEC1即能夠在提供 2A 輸出的同時(shí)滿足如此嚴(yán)格的可靠性要求。

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圖2: MPS HTOL測試室

了解加速因子

HTOL測試由JEDEC標(biāo)準(zhǔn)JESD22-A108 定義。一組231個(gè)單元需要在125°C下運(yùn)行1,000小時(shí)。該測試使用 Arrhenius 模型來確定溫度加速因子(Af),它提供所需的測試時(shí)間 (tt) 以模擬實(shí)際使用的等效時(shí)間。表1給出了一個(gè)任務(wù)配置文件的范例,該范例用來模擬平均結(jié)溫87℃條件下,運(yùn)行12000小時(shí)。Tj是硅器件的結(jié)溫,對于有較大功耗的功率IC而言,結(jié)溫需要被特別考慮,因?yàn)榄h(huán)境溫度Ta往往遠(yuǎn)低于結(jié)溫Tj。

表 1:AEC-Q100修訂版H; 表 A7.1 – AEC-Q100 應(yīng)力測試條件和持續(xù)時(shí)間的基本計(jì)算

加載 操作 熱機(jī)械
任務(wù)配置文件輸入 tU = 12,000hr(15年的平均使用時(shí)間)
$$A_f = exp left[frac{E_a}{K_B} times left(frac{1}{T_u}-frac{1}{T_t}right)right]$$
TU = 87°C (使用環(huán)境中的結(jié)溫)
nU = 54,750cls (使用超過 15 年的發(fā)動機(jī)開/關(guān)循環(huán)次數(shù))
?TU = 76°C (使用環(huán)境中的平均熱循環(huán)溫度變化)
應(yīng)力測試 高溫工作壽命(HTOL) 溫度循環(huán)(TC)
應(yīng)力條件 Tt = 125°C (測試環(huán)境中的結(jié)溫) ?Tt = 205°C (測試環(huán)境中的熱循環(huán)溫度變化:-55°C至+150°C)
加速模型(所有溫度單位為 K) 阿倫尼斯(Arrhenius)
也適用于高溫存儲壽命 (HSL)、NVM 耐久性、數(shù)據(jù)烘烤和運(yùn)行壽命 (EDR)
科芬·曼森(Coffin Manson)
$$A_f = left(frac{Delta T_t}{Delta T_u}right)^m$$
也適用于功率溫度循環(huán) (PTC)
模型參數(shù) Ea = 0.7eV (活化能;0.7eV為典型值,實(shí)際值取決于失效機(jī)制,范圍從 -0.2eV 到 1.4eV)
kB= 8.61733 x 10-5eV/K (玻爾茲曼常數(shù))
m = 4 (Coffin Manson 指數(shù);4 表示硬質(zhì)合金中的裂紋,實(shí)際值取決于失效機(jī)制,范圍從表示韌性材料的1到表示脆性材料的9)
計(jì)算的測試時(shí)間 tt = 1,393hr(測試時(shí)間)
$$ t_t = frac{t_u}{A_f} $$
nt = 1,034cls(測試循環(huán)次數(shù))
$$n_t=frac{n_u}{A_f}$$
Q100測試時(shí)間 1 000公里 1 000 千克

在此示例中,125°C TJ下需要 1,393 小時(shí)來對應(yīng) 87°C TJ 下的12,000 小時(shí)。 HTOL認(rèn)證要求1,000 小時(shí)。使用表 1 中的公式,計(jì)算出上述場景中的加速因子為 8,615,等同于125°C TJ下的 8,615 小時(shí)??梢姡蝿?wù)配置文件將超過認(rèn)證應(yīng)力約40%。

任務(wù)配置文件計(jì)算

表 2 顯示了一個(gè)任務(wù)配置文件,以及它通常是如何定義的。

配置文件
主動 被動
TJ (°C) 時(shí)間(h) TJ (°C) 時(shí)間(h)
-40 45 -40 346
-20 45 15 21168 21168 21168 21168
40 855 25 42336
50 3150 3150 35 21168 21168 21168 21168
60 4950 40 1382
70 900 000 86400
80 11250 11250
90 6750
100 4950
110 2700 2700
120 1170 1170
125 135
45000
合計(jì) 131400 131400 (15年壽命)

表2: 典型任務(wù)配置文件

此示例定義了主動和被動兩種模式,并且所有溫度都為結(jié)溫。主動和被動模式不需要區(qū)分。當(dāng)IC工作時(shí),一定存在與電流密度相關(guān)的老化效應(yīng),但與溫度的老化效應(yīng)相比,這些效應(yīng)可忽略不計(jì)。

使用表1中的Arrhenius方程,輸入表 2 任務(wù)配置文件中的第一個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn) (-40°C)。當(dāng)測試溫度為125°C 時(shí),加速因子 (Af) 可以通過方程 (1) 計(jì)算得出:

$$Af=exp?Biggl[left(frac{Ea}{kb}right)timesleft(frac{1}{273K-40K}-frac{1}{273K+125K}right)Biggl]$$ $$Af=4184927.76$$

使用表1中的第二個(gè)方程、加速因子以及表2任務(wù)配置文件中的第二個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn) (45h),使用方程 (2) 計(jì)算出所需的測試時(shí)間:

$$Af=frac{tu}{tt}$$ $$tt=frac{tu}{Af}$$ $$tt=frac{45h}{4184927.76}$$ $$tt=0.000107h$$

可以得出,在 45 小時(shí)內(nèi)-40°C所代表的實(shí)際應(yīng)力將等于在125°C下進(jìn)行不到一小時(shí)的HTOL測試(見表 2)。 為了計(jì)算出總的任務(wù)配置文件應(yīng)力,任務(wù)配置文件的所有數(shù)據(jù)點(diǎn)都必須進(jìn)行類似的計(jì)算,并且相關(guān)的等效測試時(shí)間總和為大約5888h。這意味著,器件實(shí)際上承受的應(yīng)力將比測試條件下承受的大 6 倍。

通過1000小時(shí)的HTOL測試意味著該器件可以承受至少1000 小時(shí)的應(yīng)力。但是,這并不能確定超過1000小時(shí)之后器件可以承受多長時(shí)間的應(yīng)力。鑒于等效應(yīng)力是認(rèn)證應(yīng)力的 6 倍,因此很大可能會出現(xiàn)過早失效的問題。

由此可見,汽車電子元器件的可靠性測試至關(guān)重要,器件必須能夠承受高強(qiáng)度的應(yīng)力。圖 3 顯示了正在進(jìn)行 HTOL 測試的MPS器件。

pYYBAGTBPDWAEAX2AADpmafs0TM768.jpg

圖 3:在一定負(fù)載條件下進(jìn)行HTOL 測試的MPS器件

如果無法放寬任務(wù)配置文件(例如,無法通過散熱措施降低結(jié)溫來減少相關(guān)應(yīng)力),則應(yīng)調(diào)整認(rèn)證級別。

采用此示例,將結(jié)溫增加至150°C進(jìn)行HTOL測試認(rèn)證。此時(shí),涵蓋此任務(wù)配置文件應(yīng)力所需的測試時(shí)間被減少到大約1767小時(shí)。請注意毋采用更高的結(jié)溫,因?yàn)?50°C通常是硅器件可以承受而不會損壞的最高絕對溫度。當(dāng)然,將該示例的測試時(shí)間延長到大約2,000小時(shí)會更加安全。不過,即使是 1,500 小時(shí)的認(rèn)證測試時(shí)間也可以提供相當(dāng)程度的信任度,對測試成本和時(shí)間而言,也是較合理的選擇。

任務(wù)配置文件定義

最后,這些計(jì)算實(shí)際上由誰進(jìn)行,誰來負(fù)責(zé)?對汽車應(yīng)用來說,AEC-Q100 標(biāo)準(zhǔn)有明確規(guī)定。AEC-Q100修訂版H的附錄7中有一個(gè)流程圖,適用于評估現(xiàn)有的合格組件(見圖 4)。

poYBAGTBPDeAOT1dABGZfXWsw3w131.png

圖4: AEC-Q100修訂版H A7.2中的流程圖

首先,電子控制單元 (ECU) 的任務(wù)配置文件由一級供應(yīng)商確定,需要將其轉(zhuǎn)換為組件將執(zhí)行的任務(wù)配置文件。如果組件存在并且已經(jīng)過認(rèn)證,則組件制造商已經(jīng)完成了基本計(jì)算。

圖1顯示了代表本文上述基本任務(wù)配置文件的HTOL認(rèn)證。通過這些數(shù)據(jù)和 Arrhenius 模型,一級供應(yīng)商可以確定實(shí)際應(yīng)用的任務(wù)配置文件是否與測試條件相當(dāng)。對于溫度和電壓應(yīng)力以外的參數(shù)任務(wù)配置文件也是如此。

結(jié)論

在汽車行業(yè)和工業(yè)應(yīng)用需求的主要推動之下,應(yīng)用設(shè)計(jì)需要面對不斷提高的可靠性要求,以應(yīng)對多種應(yīng)力條件。任務(wù)配置文件越來越受到關(guān)注,并被要求盡可能匹配目標(biāo)應(yīng)用的實(shí)際應(yīng)力源。而IC制造商設(shè)計(jì)的器件必須能夠在預(yù)期壽命應(yīng)力下保持其特定的性能,例如MPS的MPQ8875A-AEC1和 MP4572-AEC1。對于一級供應(yīng)商設(shè)計(jì)師和IC設(shè)計(jì)者來說,在流程早期進(jìn)行合作,評估如何設(shè)計(jì)應(yīng)用以最好地滿足與 ECU 可靠性相關(guān)的實(shí)際需求,同時(shí)最大限度地提高成本效益,這才是最有效的方法。

審核編輯:彭菁

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