真空衰減法是一種無損、定量的檢測(cè)非多孔、剛性或柔性包裝泄漏的方法。具有多孔成分的包裝，例如具有多孔蓋材料的托盤，也可以通過掩蔽多孔包裝成分的真空衰減來測(cè)試。

為了進(jìn)行測(cè)試，首先將測(cè)試樣品放置在與泄漏測(cè)試系統(tǒng)氣動(dòng)連接的緊密配合的排放測(cè)試室中，泄漏測(cè)試系統(tǒng)配備有外部真空源。測(cè)試室必須獨(dú)特地設(shè)計(jì)成包含測(cè)試包。帶有可移動(dòng)或柔性部件的測(cè)試樣品需要適當(dāng)?shù)墓ぞ邅矸謩e限制這些部件的移動(dòng)或膨脹。具有多孔組分的樣品需要掩蔽多孔材料。在測(cè)試開始時(shí)，將測(cè)試室加上測(cè)試系統(tǒng)死區(qū)排空一段預(yù)定的時(shí)間。

測(cè)試所選擇的目標(biāo)真空度是根據(jù)評(píng)估的測(cè)試樣本類型預(yù)先確定的。然后將真空源與測(cè)試系統(tǒng)隔離。

在短暫系統(tǒng)平衡之后，使用絕對(duì)或差壓傳感器在預(yù)定的時(shí)間長(zhǎng)度內(nèi)監(jiān)測(cè)腔體內(nèi)壓力的上升(即，真空衰減)。超過使用負(fù)控制建立的預(yù)定通過/失效極限的壓力增加表明容器泄漏?？蓞⒖糀STM F2338。

如果產(chǎn)品具有不阻擋泄漏點(diǎn)氣流的固體配方，或者它是在測(cè)試真空下?lián)]發(fā)的液體產(chǎn)品，則可以測(cè)試產(chǎn)品填充水平以下的包裝表面是否有泄漏。包裝的體積從幾毫升到幾升可以測(cè)試。測(cè)試需要從幾秒鐘到幾分鐘的時(shí)間。較長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間對(duì)于測(cè)試更大容量的包是必要的。延長(zhǎng)測(cè)試周期以允許檢測(cè)較小的泄漏。測(cè)試可以在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中進(jìn)行，或者在生產(chǎn)環(huán)境中離線進(jìn)行。允許較長(zhǎng)測(cè)試時(shí)間的實(shí)驗(yàn)室或離線測(cè)試設(shè)備通常能夠檢測(cè)較小的泄漏。更高速度的在線設(shè)備通常用于檢測(cè)較大的泄漏。真空衰減泄漏測(cè)試在產(chǎn)品生命周期的各個(gè)階段都是有用的。

同時(shí)，確定好真空衰減法密封性測(cè)試儀后要進(jìn)行密封性檢漏方法驗(yàn)證，其中內(nèi)容大致包括準(zhǔn)確度、耐用性、檢測(cè)限、線性等驗(yàn)證項(xiàng)目。

濟(jì)南三泉智能科技有限公司在包裝系統(tǒng)密封完整性檢測(cè)技術(shù)研究領(lǐng)域投入大量人力物力，已經(jīng)幫助國內(nèi)眾多制劑企業(yè)通過了一致性評(píng)價(jià)。研發(fā)出的系列化產(chǎn)品，覆蓋了多種方法，像真空衰減法（Leak-S微泄漏密封性測(cè)試儀）、高壓放電法(Leak-HV高壓放電法密封性測(cè)試儀)、失蹤液法（MFY-05S密封性測(cè)試儀）。三泉智能不但為企業(yè)提供各類密封性檢測(cè)設(shè)備，還未為各類藥包材密封完整性和方法學(xué)驗(yàn)證提供技術(shù)支持。