有人使用STM32H7系列芯片對某正弦信號進行ADC采樣轉換，可發(fā)現(xiàn)最后測量出來的結果有點怪怪的，采樣還原的圖形上看感覺被截取了一段，呈現(xiàn)斷層的樣子，如下圖所示：

他還補充說，使用H7系列不同型號以及不同ADC模塊，都有類似問題，頗為奇怪！

對于這個結果，我之前未曾碰到過。于是找來STM32H7系列開發(fā)板做驗證性測試，以圖復現(xiàn)問題。

我先利用TIMER加DAC輸出一路正弦波，并將輸出連接到任一ADC通道?？墒遣还芪胰绾螠y試，怎么也沒發(fā)現(xiàn)采樣結果有斷層的現(xiàn)象。

后來，他進一步補充說，他的被測信號是帶偏移的正弦波，峰谷差為50mv,中心電壓在1v到3v之間，頻率為1Khz。通過定時器控制ADC采樣頻率為2MHz.

這邊根據(jù)他的要求調(diào)整DAC的輸出幅度以及輸出頻率，經(jīng)過反復測試仍然沒有發(fā)現(xiàn)他所反饋的斷層現(xiàn)象。

從該用戶咨詢該問題來看，感覺他對STM32及ADC應用還是比較熟悉的。后來經(jīng)同事提醒，會不會是客戶在使用ADC前沒做校準。說實在的，對于使用ADC模塊前做校準應該說基本的標準動作了。所以，對于該用戶我下意識地不太懷疑他使用ADC前沒做 校準?，F(xiàn)在又實在沒法復現(xiàn)其問題現(xiàn)象，只好試著提醒他ADC校準的問題。因為H7系列ADC校準包含兩方面，一方面是偏移校準，一方面是線性校準。我把這兩個校準函數(shù)提供給他參考。

HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc1,ADC_CALIB_OFFSET_LINEARITY,ADC_SINGLE_ENDED );

HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc1,ADC_CALIB_OFFSET, ADC_SINGLE_ENDED );

后來，該用戶反饋說，他們的確在使用ADC之前做了校準，不過只做了其中的一個，即沒有同時做偏移校準和線性校準。當他對ADC模塊做了兩類校準后一切正常，ADC結果不再出現(xiàn)詭異現(xiàn)象,恢復正常。看來是該用戶的一個小失誤，虛驚一場，大折騰一番。

一般來講，在啟動STM32ADC模塊前需主動做校準，這是基本操作。在ST提供的庫函數(shù)里有現(xiàn)存的API函數(shù)可以調(diào)用，不清楚時可以參考ST公司提供的ADC應用例程。

責任編輯：彭菁