半導(dǎo)體器件 semiconductor device 通常利用不同的半導(dǎo)體材料, 采用不同的工藝和幾何結(jié)構(gòu), 已研制出種類(lèi)繁多, 功能用途各異的多種晶體二極管, 晶體二極管的頻率覆蓋范圍可從低頻, 高頻, 微波, 毫米波, 紅外直至光波. 三端器件一般是有源器件, 典型代表是各種晶體管 ( 又稱(chēng)晶體三極管 ). 晶體管又可以分為雙極型晶體管和場(chǎng)效應(yīng)晶體管兩類(lèi).

半導(dǎo)體特殊器件檢漏原因
半導(dǎo)體器件是導(dǎo)電性介于良導(dǎo)電體與絕緣體之間, 利用半導(dǎo)體材料特殊電特性來(lái)完成特定功能的電子器件, 可用來(lái)產(chǎn)生, 控制, 接收, 變換, 放大信號(hào)和進(jìn)行能量轉(zhuǎn)換, 對(duì)密封性的要求極高, 如果存在泄漏會(huì)影響其使用性能和精度, 光通信行業(yè)的漏率標(biāo)準(zhǔn)是小于 5×10-8mbar.l/s, 因此需要進(jìn)行檢漏.

半導(dǎo)體特殊器件檢漏客戶案例: 某知名半導(dǎo)體公司, 通過(guò)上海伯東推薦采購(gòu)氦質(zhì)譜檢漏儀 ASM 340

半導(dǎo)體特殊器件檢漏方法
由于器件體積小, 且無(wú)法抽真空或直接充入氦氣, 而氦檢漏又離不開(kāi)氦氣作為示蹤氣體, 所以上海伯東推薦采用”背壓法”檢漏, 具體做法如下:
1. 將被檢器件放入真空保壓罐, 壓力和時(shí)間根據(jù)漏率大小設(shè)定
2. 取出器件, 使用空氣或氮?dú)獯祾弑砻婧?br />3. 將器件放入真空測(cè)試罐, 測(cè)試罐連接氦質(zhì)譜檢漏儀
4. 啟動(dòng)氦質(zhì)譜檢漏儀, 開(kāi)始檢測(cè)

”背壓法”圖示
氦質(zhì)譜檢漏儀 ASM 340 優(yōu)點(diǎn)
1. 前級(jí)泵配備旋片泵（油泵）Adixen Pascal 1015I 抽速高達(dá)15 m3/h
2. 分流式分子泵 Pfeiffer Splitflow 50 對(duì)氦氣抽速 2.5 l/s
3. 氦質(zhì)譜檢漏儀 ASM 340 對(duì)氦氣的最小檢測(cè)漏率：
真空模式: 5E-13 Pa m3/s
吸槍模式: 5E-10 Pa m3/s 目前業(yè)界公認(rèn)最小漏律
4. 移動(dòng)式操作面板（有線, 無(wú)線）
5. 集成 SD卡, 方便資料處理
6. 抗破大氣, 抗震動(dòng), 降低由操作失誤帶來(lái)的風(fēng)險(xiǎn)性
7. 豐富的可選配件, 如吸槍, 遙控器, 小推車(chē), 旁路裝置, 標(biāo)準(zhǔn)漏孔等
8. 檢測(cè)時(shí)間短

氦質(zhì)譜檢漏儀 ASM 340 技術(shù)參數(shù)：

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