晶振的輸出波形為單端輸出(Sine/Clipped Sine, CMOS/TTL)和差分輸出(LVPECL, LVDS, HCSL)。差分輸出可以滿足高速數(shù)據(jù)傳輸，應(yīng)用于高速計(jì)算機(jī)，數(shù)字通信系統(tǒng)，雷達(dá)，測(cè)量?jī)x器，頻率合成器等。

波形的上升和下降時(shí)間是有源晶振的一個(gè)主要電氣參數(shù)，單位為ns。

從CMOS輸出的波形圖來(lái)看，上升時(shí)間(Tr)指的從波形的10%處上升到波形的90%處所需要的時(shí)間(也有從20%處上升到80%的時(shí)間進(jìn)行計(jì)算的)。下降時(shí)間(Tf)指的是從高值到低值所需要的時(shí)間。

KOAN有源晶振的規(guī)格書中(KS506T為例)可以看到上升下降時(shí)間的范圍值。具體電性能參數(shù)需要通過(guò)S&A280B進(jìn)行測(cè)量。

我們的優(yōu)勢(shì)

KOAN晶振公司配備了E5052B信號(hào)分析儀器(測(cè)量相位噪聲和抖動(dòng))、S&A280B、S&A250B測(cè)試儀器，以及高低溫箱，抗沖擊試驗(yàn)設(shè)備。我們能夠檢測(cè)在溫度、負(fù)載和功率電壓變化條件下的頻率穩(wěn)定性。

我們可以快速高水平滿足客戶的需求、精準(zhǔn)化匹配、快速故障分析。

審核編輯：彭菁