應用

磁特性實驗在國際強磁場實驗設施中占據(jù)著至關重要的地位，而磁化測量則是其最基礎的實驗技術之一。

在脈沖磁場的作用下，樣品的磁化強度會隨著磁場的變化而在pick-up線圈中誘導出電壓信號。

這一信號在經(jīng)過信號補償和放大后，被高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)捕獲，最終通過數(shù)據(jù)處理得出樣品的磁化率和磁化強度。

除了磁化測量，磁特性實驗站還可以進行電極化、磁致伸縮、磁扭矩等磁學參數(shù)的測量。

解決方案

簡儀科技提供了高效的解決方案，借助PXI系統(tǒng)來完成磁特性實驗過程中的高速數(shù)據(jù)采集。

使用的簡儀產(chǎn)品

PCIe-PXIe-68638/2M套件：PCI Express 轉(zhuǎn) PXI Express 遠程控制器套件。它充分利用了高帶寬的PCI Express技術，用于控制安裝在PXI Express機箱中的PXI Express模塊。

此套件使用第二代PCIe x8信號，提供高達4GB/s的帶寬。由于硬件和軟件的完全透明性和標準化，因此擴展套件能夠快速識別系統(tǒng)中安裝的PXI板卡，無需額外安裝驅(qū)動程序或軟件。

PXIe-62301：3U 6槽PXI Express全混合機箱，帶有交流電源，支持最高8GB/s的系統(tǒng)帶寬。

PXIe-69834：4通道16位80MS/s PXI Express數(shù)字化儀，用于高速數(shù)據(jù)采集。

審核編輯：劉清