開(kāi)關(guān)電源是電源供應(yīng)器的一種，又稱開(kāi)關(guān)變換器，在現(xiàn)代電子產(chǎn)品中被廣泛應(yīng)用。但是在實(shí)際應(yīng)用中也存在著一定的隱患，namisoft開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)可以幫助測(cè)試各種指標(biāo)，以評(píng)估開(kāi)關(guān)電源的性能和質(zhì)量。

開(kāi)關(guān)電源測(cè)試項(xiàng)目

開(kāi)關(guān)電源分類及型式眾多，測(cè)試項(xiàng)目多，測(cè)試過(guò)程繁雜，這里列舉一些開(kāi)關(guān)電源的常規(guī)測(cè)試項(xiàng)目。

開(kāi)關(guān)電源型式：

AC-DC：如個(gè)人用、家用、辦公室用、工業(yè)用(電腦、周邊、傳真機(jī)、充電器)

DC-DC：如可攜帶式產(chǎn)品(移動(dòng)電話、筆計(jì)本電腦、攝影機(jī)，通信交換機(jī)二次電源)

DC-AC：如車用轉(zhuǎn)換器(12V～115/230V) 、通信交換機(jī)振鈴信號(hào)電源

AC-AC：如交流電源變壓器、變頻器、UPS不間斷電源

常規(guī)測(cè)試項(xiàng)目：

輸入電流測(cè)試、負(fù)載調(diào)整率測(cè)試、功率因素和效率測(cè)試、紋波及噪聲測(cè)試;

平均效率測(cè)試、浪涌電流測(cè)試、開(kāi)機(jī)延遲時(shí)間測(cè)試、電壓調(diào)整率測(cè)試;

輸入緩慢變動(dòng)測(cè)試、輸出暫態(tài)響應(yīng)測(cè)試、上升時(shí)間測(cè)試、短路保護(hù)測(cè)試;

下降時(shí)間測(cè)試、重輕載變化測(cè)試、電源開(kāi)關(guān)循環(huán)測(cè)試、元件溫升測(cè)試;

關(guān)機(jī)維持時(shí)間測(cè)試、輸出過(guò)沖幅度測(cè)試、過(guò)流保護(hù)測(cè)試、過(guò)壓保護(hù)測(cè)試;

輸入電壓變動(dòng)測(cè)試、高溫高濕儲(chǔ)存測(cè)試、低溫儲(chǔ)存測(cè)試、絕緣耐壓測(cè)試;

高溫操作測(cè)試、低溫操作測(cè)試、冷熱沖擊測(cè)試、額定電壓輸出電流測(cè)試;

低溫啟動(dòng)測(cè)試、溫度循環(huán)測(cè)試、跌落測(cè)試、絕緣阻抗測(cè)試。

ATECLOUD-POWER電源模塊自動(dòng)化測(cè)試

ATECLOUD開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)功能

ATECLOUD是天宇微納研發(fā)的一款智能云測(cè)試平臺(tái)，專注于各類儀器自動(dòng)化測(cè)試和數(shù)據(jù)智能分析，為用戶提供一站式解決方案。在開(kāi)關(guān)電源測(cè)試中，ATECLOUD可以幫助解決測(cè)試繁雜、儀器不兼容的痛點(diǎn)，提高測(cè)試效率，維持開(kāi)關(guān)電源的穩(wěn)定性。

1. 兼容各大品牌2000+儀器型號(hào)，用戶可按需自由選型，不被不兼容問(wèn)題所困擾。

2. 包含58+測(cè)試項(xiàng)目，基本滿足用戶的測(cè)試需求。如果客戶有特殊的測(cè)試項(xiàng)目，支持根據(jù)需求定制測(cè)試項(xiàng)目。

3. 100+工位并行高速測(cè)試，支持多個(gè)儀器、多個(gè)項(xiàng)目同步測(cè)試，解決測(cè)試效率問(wèn)題。

4. 支持麒麟、windows、鴻蒙系統(tǒng)。

5. 支持國(guó)軍標(biāo)電源模塊最新行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

6. 幫助用戶進(jìn)行數(shù)據(jù)智能分析，圖表數(shù)據(jù)展現(xiàn)形式直觀可見(jiàn)，數(shù)據(jù)變化波動(dòng)直觀清晰。

7. 用戶可以生成數(shù)據(jù)報(bào)告，可以按需選擇測(cè)試數(shù)據(jù)生成導(dǎo)出。

ATECLOUD開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)高效快速的進(jìn)行項(xiàng)目測(cè)試，自動(dòng)采集分析數(shù)據(jù)，便于用戶評(píng)估開(kāi)關(guān)電源性能和運(yùn)行穩(wěn)定性。+

審核編輯 黃宇