Spark test 火花測(cè)試

火花測(cè)試用于發(fā)現(xiàn)絕緣導(dǎo)體的絕緣皮不良.火花測(cè)試機(jī)通常用于芯線(xiàn)押出或芯線(xiàn)對(duì)絞工段.有時(shí)也用于總絞工段.一般帶屏蔽的電纜(編織線(xiàn),鋁箔向外)押出外被時(shí)也用火花機(jī)測(cè)其不良點(diǎn).基本方法為在與被測(cè)物相接觸的電極與接地 導(dǎo)體之間施加一電壓.若絕緣介質(zhì)不良(如太薄或一部分缺失),施加的電壓會(huì)在接地導(dǎo)體上產(chǎn)生電弧.從而激發(fā)與此相連的指示器(如蜂鳴器.燈.計(jì)數(shù)器等).;火花測(cè)試中存在危險(xiǎn)高壓,故相關(guān)設(shè)備必須完全接地.一般測(cè)試機(jī)可采用AC或DC電壓,老使用AC可使用不同的頻率.為了安全,測(cè)試電流通常限制為無(wú)致命危險(xiǎn)的水平.

Conductor Continuity 導(dǎo)體導(dǎo)通測(cè)試

電線(xiàn)電纜的導(dǎo)體導(dǎo)通是一關(guān)鍵特性.

除非另有規(guī)定.應(yīng)用100V或更低的d-c電壓測(cè)試導(dǎo)體導(dǎo)通性.手動(dòng)導(dǎo)通測(cè)試時(shí)用一9V電池與一可視或可聽(tīng)的指示器串聯(lián).去除導(dǎo)體兩端絕緣皮.把導(dǎo)體分開(kāi).使用自動(dòng)測(cè)試儀時(shí)把每一根導(dǎo)體分別固定于測(cè)試治具上.若使用手動(dòng)測(cè)試,通常把電線(xiàn)一端的所有導(dǎo)體連接于一共同測(cè)試端,把電壓依次加于每一根導(dǎo)體兩端.用指示燈表明電路導(dǎo)通或不導(dǎo)通.

Conductor Resistance 導(dǎo)體電阻

電線(xiàn)電纜中每一根導(dǎo)體的電阻是一重要特性.但導(dǎo)體電阻的測(cè)量通常只對(duì)成品進(jìn)行抽樣檢查時(shí)進(jìn)行,樣本以出貨時(shí)電線(xiàn)的單位(如軸)計(jì)算.若電纜含非常多根導(dǎo)體.測(cè)量時(shí)也可對(duì)導(dǎo)體抽樣進(jìn)行.除非另有規(guī)定. 導(dǎo)體電阻測(cè)量在68℉(20℃)條件下進(jìn)行.溫度核心依ASTMB 193.電阻隨電纜長(zhǎng)度變化.導(dǎo)體電阻通常用伏特表1歐姆計(jì)或惠斯顧電橋進(jìn)行測(cè)試.

Conductor Resistance Unbalance 不平衡導(dǎo)體電阻

任一對(duì)導(dǎo)體的電阻差在通訊傳輸中是一關(guān)鍵特性. 不平衡導(dǎo)體電阻的測(cè)量通常與導(dǎo)體電阻的測(cè)量同時(shí)進(jìn)行. 電阻值按每 對(duì)記錄.較大電阻減去較小電阻值即為每對(duì)導(dǎo)體電阻的絕對(duì)差值. 絕對(duì)不平衡電阻通常以 Ω/1000ft或Ω/Km表示.有一使用較多的表示方法如下:

Coaxial Capacitance (Capacitance To Water)同軸電容(水中電容)

制程中測(cè)水中電容時(shí),按如下進(jìn)行,絕緣導(dǎo)體通過(guò)水槽,測(cè)量接地導(dǎo)體與水之間的電容,并自動(dòng)反饋于控制設(shè)備.同軸電容為圓形金屬導(dǎo)體外表面與絕緣層外表面之間存在的電容. 測(cè)試方法為取一截絕緣線(xiàn)浸入水池中.直接測(cè)量接地導(dǎo)體與水之間的電容,一般水溫20℃土2 ℃,頻率1000土10HZ.

Mutual Capacitance 相互電容

相互電容為一對(duì)導(dǎo)體之間的有效電容.在多對(duì)導(dǎo)體的電纜中.互容公式如下:

測(cè)量之前.電纜兩端剝?nèi)ネ獗?屏蔽層等.至兩端露出芯線(xiàn)約2FT.把電纜一端的導(dǎo)體分開(kāi).保證導(dǎo)體不短路.不接地. 電纜另一端的導(dǎo)體剝?nèi)ソ^緣皮后.把所有導(dǎo)體短接后接地再量測(cè).除非另有規(guī)定,互容為交流頻率為1000土100HZ時(shí)的電容.

Capacitance Unbalance –- (Pair To Ground) 對(duì)線(xiàn)與地線(xiàn)間不平衡電容

對(duì)地不平衡電容如下圖解. A和B為一對(duì)導(dǎo)體..Cag. Cbg.分別為導(dǎo)體A和B與屏蔽之間的直接電容.Cap和Cbp為導(dǎo)體A和B與其他對(duì)導(dǎo)體之間直接電容. 公式如下:

Capacitance Unbalance –- (Pair To pair) 對(duì)與對(duì)間的不平衡電容 其中,a-b為一對(duì),c-d為一對(duì).

不平衡電容n Cupp=(Cad+Cbc)-(Cac+Cbd)

Attenuation 衰減

衰減為一訊號(hào)行經(jīng)電線(xiàn)電纜的信號(hào)損失強(qiáng)度.受絕緣導(dǎo)體材料和幾何性的影響，單位為分貝(dB)，dB值 (Decibel)之縮寫(xiě)，為衰減,串音與音量的單位，其觀(guān)念與定義均由能量或功率的觀(guān)念出發(fā),即功率等于能量對(duì)時(shí)間的微分或單位時(shí)間輸出能.

Propagation Delay 傳輸延遲

傳輸延遲為訊號(hào)經(jīng)過(guò)待測(cè)物所需的時(shí)間,介質(zhì)的介電常數(shù)愈小,傳播速度愈快,損耗愈小.

Velocity of propagation 傳播速率

傳播速率亦即波長(zhǎng)縮短率(同軸線(xiàn)特性之一)，其定義為真空之介質(zhì)系數(shù)與絕緣體介質(zhì)系數(shù)之平方根比值，由于真空之介質(zhì)系數(shù)為1，故以公式表示如下:

即信號(hào)傳送之速度在電纜中與自由真空中之比較，如下為各種材料與空氣中的介質(zhì)系數(shù).

Cross talk 串音

是鄰接兩導(dǎo)體之間由于傳輸信號(hào)時(shí)發(fā)生互相干擾現(xiàn)象而產(chǎn)生。串音產(chǎn)生之原因很多，在通信電纜而言通常是由于相鄰對(duì)之絞距設(shè)計(jì)不當(dāng)而引起.常見(jiàn)有下列幾種

Worst Pair Near-End Cross talk (NEXT) 近端串音

Power Sum Near End Cross talk (PSNEXT) 功率和近端串音

Equal Lever Far-End Cross talk (ELFEXT) 遠(yuǎn)端串音

Power Sum Equal Lever Far End Cross talk (PSELFEXT) 功率和遠(yuǎn)端串音

?Return Loss (RL) 反射損耗

Structural Return Loss (SRL)結(jié)構(gòu)性反射損耗

SRL從輸入阻抗中得出(開(kāi)路/短路阻抗的平方根),RL從終端阻抗掃瞄中得出.SRL把輸入阻抗與特性阻抗相比,而RL則把終端阻抗與負(fù)載阻抗(如100Ω)相比,因而兩種測(cè)量不同．獨(dú)立的特性阻抗和ＳＲＬ特性曲線(xiàn)通常是特性說(shuō)明的首選方法．因?yàn)閮煞N曲線(xiàn)易于清楚的分開(kāi)．從測(cè)量角度看,RL方法有時(shí)會(huì)更可取,因?yàn)樗灰筝斎胱杩沟暮瘮?shù),擬合而使用負(fù)載阻抗作為參考值.

Impedance 特性阻抗

在一定交流電路中電阻,容抗與感抗之總和,單位為歐姆(Ω)

即以 Z=R2+(XL-XC)2 來(lái)表示,式中Z為阻抗，R為電阻，XL為感抗，XC為容抗.常見(jiàn)的有下列兩種:

Input Impedance 輸入阻抗

Characteristic Impedance 特性阻抗

Input Impedance (輸入阻抗)的測(cè)試方法有兩種

開(kāi)路和短路法(Open/Short Method)的測(cè)量方法

開(kāi)路和短路的測(cè)量方法基本原理如下:

以網(wǎng)路分析儀測(cè)試,將實(shí)測(cè)出的開(kāi)路與短路的數(shù)據(jù)帶入上列式中算出輸入阻抗

負(fù)載法的輸入阻抗(Matched Load Method)測(cè)量方法

負(fù)載法的測(cè)量方法基本原理如下:

于測(cè)試線(xiàn)材尾端連接一個(gè)與待測(cè)線(xiàn)阻抗相匹配的負(fù)載,以網(wǎng)路分析儀測(cè)試,儀器將自動(dòng)依上述公式計(jì)算完成,即輸入阻抗.

Characteristic Impedance 特性阻抗

以陣列方式擬合輸入阻抗值大小依頻率變化求出一漸進(jìn)線(xiàn)