負(fù)載調(diào)整率是用來(lái)描述在額定電壓下負(fù)載電流從0變化到最大時(shí)，輸出電壓相應(yīng)的變化情況。它是衡量電源芯片好壞的重要指標(biāo)，因此負(fù)載調(diào)整率測(cè)試是必不可少的環(huán)節(jié)。那么要如何測(cè)試電源芯片負(fù)載調(diào)整率呢?有哪些測(cè)試規(guī)范呢?

開(kāi)關(guān)電源芯片測(cè)試規(guī)范

適用范圍：主要是基于PCB板焊接的電源芯片，如DC/DC、LDO電源芯片等，也包括小功率DC/DC電源模塊。

測(cè)試工具：可調(diào)電源、電子負(fù)載、示波器、萬(wàn)用表

測(cè)試環(huán)境：溫度(25±2℃);濕度(60%~70%);大氣壓強(qiáng)(86kPa~106kPa)

測(cè)試原理圖：

電源芯片測(cè)試原理圖

如何測(cè)試開(kāi)關(guān)電源芯片負(fù)載調(diào)整率？

1.輸入電壓為額定值，輸出電流取最小值，記錄最小負(fù)載量的輸出電壓U1;

2.調(diào)節(jié)負(fù)載為50%滿載，記錄對(duì)應(yīng)的輸出電壓U0;

3.調(diào)節(jié)負(fù)載為滿載，記錄對(duì)應(yīng)的輸出電壓U2;

4.負(fù)載調(diào)整率按以下公式計(jì)算：負(fù)載調(diào)整率={(U- U0)/U0}×100%，其中：U為U1 和U2中相對(duì)U0變化較大的值。

納米軟件電源模塊測(cè)試系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)

1.58+測(cè)試項(xiàng)目：ATECLOUD-POWER電源模塊測(cè)試系統(tǒng)包含多種測(cè)試項(xiàng)目，除了負(fù)載調(diào)整率之外，還可以測(cè)試過(guò)壓保護(hù)、欠壓保護(hù)測(cè)試、穩(wěn)定性測(cè)試等各項(xiàng)常規(guī)指標(biāo)。

2.多種測(cè)試場(chǎng)景：該系統(tǒng)可用于多種場(chǎng)景測(cè)試，如高溫、低溫、濕度等，以評(píng)估電源模塊在不同環(huán)境下的性能。

3.自動(dòng)化測(cè)試：打破傳統(tǒng)測(cè)試方式，解決效率低下和手動(dòng)測(cè)試的準(zhǔn)確性問(wèn)題。

4.測(cè)試數(shù)據(jù)診斷分析功能：數(shù)據(jù)洞察功能支持可視化數(shù)據(jù)看板，數(shù)據(jù)分析一目了然。而且也可以一鍵生成多樣化的數(shù)據(jù)報(bào)告，以便查看。

5.權(quán)限管理功能：支持層級(jí)管理，針對(duì)不同層級(jí)開(kāi)啟數(shù)據(jù)權(quán)限，保障測(cè)試數(shù)據(jù)安全性。

審核編輯 黃宇