1、 主要內(nèi)容:利用運(yùn)放環(huán)路穩(wěn)定性判據(jù)對MOSFET線性電源進(jìn)行頻域與時(shí)域工作特性分析

環(huán)路穩(wěn)定性頻域測試電路:相位裕度pm=80
具體分析與計(jì)算參考:Designing Control Loops for Linear andSwitching Power
Supplies

交流仿真設(shè)置


Aol與1/Beta的閉合速率為20dB/dec、環(huán)路相位裕度為65度:環(huán)路穩(wěn)定工作
3、 Transisent:瞬態(tài)時(shí)域仿真測試

時(shí)域測試電路

瞬態(tài)仿真設(shè)置

負(fù)載為5V/1A時(shí)輸出電壓波形:
負(fù)載電容為1mF,輸出電壓紋波峰峰值大大優(yōu)于1mV
第1步:負(fù)載特性測試——負(fù)載電流1A—2A—1A,測試結(jié)果如下圖所示

負(fù)載特性測試電路



輸出電壓與負(fù)載電流波形:
負(fù)載由1A增大至2A時(shí)輸出電壓瞬間下降約14.3mV,恢復(fù)時(shí)間約77us;
負(fù)載由2A減小至1A時(shí)輸出電壓瞬間上升約17.7mV,恢復(fù)時(shí)間約26us
第2步:輸入源效應(yīng)測試——輸入電源電壓7V—6V—7V,測試結(jié)果如下圖所示

輸入源效應(yīng)測試電路



輸出電壓與輸入電源電壓波形:輸入電壓上升和下降時(shí)間為10us
輸入電壓由7V降低為6V時(shí)輸出電壓瞬間下降約-10.2mV,恢復(fù)時(shí)間約47us;
輸入電壓由6V升高為7V時(shí)輸出電壓瞬間上升約12.5mV,恢復(fù)時(shí)間約21us
第3步:參考源Vref測試——參考源電壓2.49V—2.5V—2.49V,測試結(jié)果如下圖所示

參考源Vref測試電路



輸出電壓與參考源電壓波形:
參考源電壓由2.49V升高為2.5V時(shí)輸出電壓瞬間上升約60mV,恢復(fù)時(shí)間約900us;
參考源電壓由2.5V下降為2.49V時(shí)輸出電壓瞬間下降約60mV,恢復(fù)時(shí)間約884us;
參考源上升和下降期間輸出電壓產(chǎn)生約40mV的超調(diào)
第4步:參考源Vref測試——參考源電壓由1V線性增大為3V,測試結(jié)果如下圖所示

Vref直流仿真設(shè)置:輸入VIN=6V,負(fù)載電阻5歐姆


輸出電壓與參考源電壓波形:輸出電壓最大值為5.534V
參考源電壓在1V—2.776V時(shí)輸出電壓線性增加;
當(dāng)參考源電壓大于2.776V時(shí)輸出電壓恒定不變,此時(shí)M1飽和導(dǎo)通
4、 Transisent、AC:輸出振蕩時(shí)頻域與時(shí)域聯(lián)合測試——相位裕度與時(shí)域波形

頻域測試電路


Aol與1/Beta的閉合速率為40dB/dec、環(huán)路相位裕度為-56度:電路振蕩

時(shí)域測試電路


輸出電壓VOUT振蕩
輸出電壓波形:負(fù)載電流為1A時(shí)紋波約為468mV,
大大超出穩(wěn)定工作時(shí)的1mV,而且呈現(xiàn)逐漸增大趨勢!
5、 實(shí)際測試:(待整理)
負(fù)載特性、輸入源特性、參考源調(diào)節(jié)——測試波形與數(shù)據(jù)相結(jié)合,然后與仿真對比
6、 總結(jié):
頻域與時(shí)域特性一致;頻域相位裕度足夠時(shí)電路穩(wěn)定工作,否則電路振蕩!
7、 附錄——關(guān)鍵仿真器件模型

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MOSFET
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運(yùn)放
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55621 -
線性電源
+關(guān)注
關(guān)注
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25385 -
環(huán)路穩(wěn)定性
+關(guān)注
關(guān)注
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