從前兩篇討論的信號(hào)源和示波器問題中可以明顯看出，如果沒有一定的幫助，選擇適當(dāng)?shù)奶筋^是一個(gè)非常麻煩的過程。事實(shí)上，由于并沒有一直指定某些關(guān)鍵選擇標(biāo)準(zhǔn)，如探頭上升時(shí)間和示波器輸入電容，在某些情況下選擇過程可能會(huì)變成猜測(cè)性的工作。

為避免猜測(cè)性的工作，最好選擇在推薦附件清單中包括可以廣泛選擇探頭的適配器。另外，在遇到新的測(cè)量要求時(shí)，一定要與示波器制造商核對(duì)新推出的、可能擴(kuò)展示波器功能的探頭。

最后，記住對(duì)任何給定應(yīng)用，實(shí)際上并沒有“合適的”探頭選型，而只有“合適的”示波器 / 探頭組合選項(xiàng)，它們首先取決于界定的信號(hào)測(cè)量要求，包括：

■ 信號(hào)類型 ( 電壓 , 電流 , 光接口等等 )

■ 信號(hào)頻率成分 ( 帶寬問題 )

■ 信號(hào)上升時(shí)間

■ 信號(hào)源阻抗 ( 電阻和電容 )

■ 信號(hào)幅度 ( 最大值 , 最小值 )

■ 測(cè)試點(diǎn)形狀 ( 帶引線的器件 , 表面封裝等 )

通過考慮前面兩篇提到的問題及填寫具體的應(yīng)用信息，可以指定能夠滿足所有應(yīng)用需求的示波器和各種兼容探頭。

探頭對(duì)測(cè)量的影響

為獲得信號(hào)的示波器顯示，必須把信號(hào)的某個(gè)部分轉(zhuǎn)換成示波器的輸入電路，如下圖所示，其中測(cè)試點(diǎn)(TP) 后面的電路使用信號(hào)源 Es 和相關(guān)電路阻抗 Zs1 和Zs2 表示，這是 Es 上的正常負(fù)荷。在示波器連接到測(cè)試點(diǎn)上時(shí)，探頭阻抗 Zp 和示波器輸入阻抗 Zi 成為信號(hào)源上負(fù)荷的一部分。

圖.在測(cè)試點(diǎn) (TP) 上測(cè)量的信號(hào)可以通過信號(hào)源和相關(guān)的負(fù)荷阻抗表示 (a)。探測(cè)測(cè)試點(diǎn)在信號(hào)源負(fù)荷上增加了探頭和示波器阻抗，導(dǎo)致測(cè)量系統(tǒng)吸收部分電流 (b)。

根據(jù)阻抗的相對(duì)值，在測(cè)試點(diǎn)中增加探頭和示波器導(dǎo)致各種負(fù)荷效應(yīng)。

從下篇開始我們來詳細(xì)討論下負(fù)荷效應(yīng)及其它探測(cè)效應(yīng)。

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審核編輯：湯梓紅