可靠性測(cè)試是電源模塊測(cè)試的重要項(xiàng)目之一，以檢測(cè)電源模塊的、質(zhì)量性能以及長(zhǎng)期使用的穩(wěn)定性。高溫操作測(cè)試是可靠性測(cè)試的常用方法之一，通過(guò)電源模塊測(cè)試系統(tǒng)模擬實(shí)際高溫工作環(huán)境，來(lái)檢測(cè)其工作狀態(tài)是否正常。

電源模塊高溫測(cè)試方法

電源高溫測(cè)試的目的是為了檢測(cè)高溫環(huán)境對(duì)電源模塊操作過(guò)程中的結(jié)構(gòu)、元件以及整機(jī)電氣的影響，來(lái)評(píng)估電源模塊結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性。

在對(duì)電源模塊進(jìn)行高溫測(cè)試時(shí)，需要用到交流電源、電子負(fù)載、功率表、溫控室以及高壓測(cè)試儀等測(cè)試設(shè)備，測(cè)試條件如下：

1.依SPEC.要求，輸入條件(RATED VOLTAGE)，輸出負(fù)載(滿載)和操作溫度(通常為40℃);

2.試驗(yàn)時(shí)間：4小時(shí)

測(cè)試方法：

1.將待測(cè)品置于溫控室內(nèi)，依規(guī)格設(shè)定好輸入輸出測(cè)試條件，然后開(kāi)機(jī);

2.依規(guī)格設(shè)定好溫控室的溫度和濕度，然后啟動(dòng)溫控室;

3.定時(shí)記錄待測(cè)品輸入功率和輸出電壓，以及待測(cè)品是否有異常;

4.做完測(cè)試后回溫到室溫，再將待測(cè)品從溫控室中移出，在常溫環(huán)境下至少恢復(fù)4小時(shí).

注意事項(xiàng)：

1.產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后，產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象

2.試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書(shū)要求

電源模塊測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源高溫測(cè)試

電源模塊測(cè)試系統(tǒng)是一款智能自動(dòng)化測(cè)試軟件，用該軟件進(jìn)行電源模塊高溫測(cè)試，可以實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)溫度控制，并保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。用納米軟件電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試之前，需要將電源模塊與測(cè)試設(shè)備連接起來(lái)，并且與納米軟件的邊緣計(jì)算設(shè)備ATEBOX以及計(jì)算機(jī)連接，接入同一服務(wù)器，保證信號(hào)傳輸正常。連接好后，便可著手測(cè)試。

在計(jì)算機(jī)中進(jìn)入納米軟件ATECLOUD-POWER電源模塊測(cè)試系統(tǒng)網(wǎng)頁(yè)，登錄后便可開(kāi)始創(chuàng)建測(cè)試項(xiàng)目，項(xiàng)目名稱為電源模塊高溫測(cè)試，之后便可以拖拽文字測(cè)試指令來(lái)搭建測(cè)試流程，設(shè)置好測(cè)試參數(shù)，如溫度、測(cè)試時(shí)間等。創(chuàng)建好后，便可運(yùn)行該項(xiàng)目，一鍵測(cè)試。

測(cè)試完成后，系統(tǒng)會(huì)顯示相應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)并反饋測(cè)試結(jié)果Pass/Fail。具體的測(cè)試數(shù)據(jù)分析可以進(jìn)入系統(tǒng)數(shù)據(jù)洞察功能界面查看，數(shù)據(jù)分析展現(xiàn)形式多樣，可以自由選擇折線圖、柱狀圖、條形圖、餅狀圖等可視化數(shù)據(jù)看板，多維度、多層級(jí)地分析數(shù)據(jù)，為改進(jìn)電源模塊提供依據(jù)和方向。也可將測(cè)試數(shù)據(jù)以數(shù)據(jù)報(bào)告文檔形式導(dǎo)出，方便數(shù)據(jù)查看。

電源模塊測(cè)試系統(tǒng)功能強(qiáng)大、兼容性強(qiáng)，支持麒麟、鴻蒙、windows操作系統(tǒng)，其數(shù)據(jù)權(quán)限管理功能更是保障了測(cè)試數(shù)據(jù)地安全性。納米軟件從用戶需求出發(fā)，為用戶著想，為電源測(cè)試行業(yè)地發(fā)展添磚加瓦!

審核編輯：湯梓紅