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開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)怎么測(cè)試電源低溫啟動(dòng)?有什么優(yōu)勢(shì)?

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來(lái)源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2023-11-28 15:34 ? 次閱讀
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開(kāi)關(guān)電源作為常用的一種電源供應(yīng)器被廣泛應(yīng)用在各大領(lǐng)域,同時(shí)也被用在各種不同的環(huán)境溫度下工作。因此在開(kāi)關(guān)電源測(cè)試中,溫度測(cè)試是評(píng)估其性能、可靠性、穩(wěn)定性的重要指標(biāo)。低溫啟動(dòng)測(cè)試就是檢測(cè)低溫存儲(chǔ)環(huán)境對(duì)開(kāi)關(guān)電源性能的影響,判斷開(kāi)關(guān)電源在低溫環(huán)境下能否正常啟動(dòng)。

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開(kāi)關(guān)電源低溫啟動(dòng)如何測(cè)試?

低溫啟動(dòng)測(cè)試的目的是為了檢測(cè)低溫儲(chǔ)存環(huán)境對(duì)S.M.P.S.的整機(jī)電氣的影響,從而來(lái)考量S.M.P.S.電氣及零件選用的合理性。在進(jìn)行低溫啟動(dòng)測(cè)試時(shí)需要準(zhǔn)備的測(cè)試設(shè)備有:交流電源、電子負(fù)載、功率表和溫控室。

測(cè)試條件:儲(chǔ)存低溫條件通常為操作溫度0℃條件下降低到-10 ±2℃,儲(chǔ)存時(shí)間至少4小時(shí)。

測(cè)試方法:

1.試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率、輸出電壓及HI-POT狀況

2.將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi),依規(guī)格設(shè)定其溫度,然后啟動(dòng)溫控室

3.試驗(yàn)溫度儲(chǔ)存至少4Hrs,然后分別在115Vac/60Hz & 230Vac/50Hz和輸出最大負(fù)載條件下開(kāi)關(guān)機(jī)各20次,確認(rèn)待測(cè)品電氣性能是否正常

注意事項(xiàng):

1.在產(chǎn)品性能測(cè)試期間或測(cè)試之后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象

2.設(shè)定的環(huán)境溫度為操作低溫的溫度再降-10度

低溫啟動(dòng)測(cè)試是確保開(kāi)關(guān)電源及設(shè)備在低溫環(huán)境下可靠運(yùn)行的測(cè)試方法之一,以評(píng)估開(kāi)關(guān)電源在低溫環(huán)境下的性能。ATECLOUD-POWER開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)采取無(wú)代碼開(kāi)發(fā)模式,操作簡(jiǎn)單,用戶可自由選擇測(cè)試儀器型號(hào),快速測(cè)試。用開(kāi)關(guān)電源ate測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試,簡(jiǎn)化了測(cè)試程序,只需在系統(tǒng)中設(shè)置好溫度、電壓、負(fù)載、測(cè)試次數(shù)、測(cè)試時(shí)長(zhǎng)等條件便可一鍵運(yùn)行測(cè)試,觀察和分析測(cè)試數(shù)據(jù)及結(jié)果。并且可以選擇所需的數(shù)據(jù)及報(bào)告模板,生成導(dǎo)出數(shù)據(jù)報(bào)告文檔,一鍵查看。


審核編輯:湯梓紅

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