萬(wàn)用表測(cè)電容沒(méi)反應(yīng)的原因有很多種可能，下面詳細(xì)列舉了可能導(dǎo)致這種情況的幾個(gè)常見(jiàn)因素：

1.電容器沒(méi)有存儲(chǔ)電荷：在測(cè)量電容之前，電容器需要事先充電，以便能夠提供足夠的電荷供測(cè)量使用。如果電容器沒(méi)有存儲(chǔ)電荷，則測(cè)量結(jié)果會(huì)無(wú)效。因此，我們應(yīng)該在測(cè)量之前，先將電容器與電源相連接一段時(shí)間，以確保電容器已經(jīng)充滿電荷。

2.測(cè)量范圍選擇錯(cuò)誤：萬(wàn)用表通常有多個(gè)測(cè)量范圍可以選擇，如nF、μF和mF等。如果選擇錯(cuò)誤的測(cè)量范圍，可能無(wú)法顯示準(zhǔn)確的電容值。因此，在測(cè)量電容之前，我們應(yīng)該正確選擇與待測(cè)電容量相符的測(cè)量范圍。

3.測(cè)試引腳連接錯(cuò)誤：萬(wàn)用表通常有多個(gè)測(cè)試引腳，分別用于測(cè)量電阻、電壓和電容等。如果將測(cè)試引腳連接到錯(cuò)誤的位置，當(dāng)然就無(wú)法正確測(cè)量電容了。在測(cè)量電容之前，我們應(yīng)該確保測(cè)試引腳已經(jīng)正確連接到了電容器的引腳上。

4.電容器損壞：電容器可能由于長(zhǎng)期使用或其他原因而損壞，導(dǎo)致無(wú)法正確測(cè)量其電容值。如果電容器損壞，即使使用正常的萬(wàn)用表，也無(wú)法得出準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。

5.測(cè)量環(huán)境干擾：在一些特殊的環(huán)境下，如高溫、強(qiáng)磁場(chǎng)或強(qiáng)電磁輻射環(huán)境下，可能會(huì)對(duì)電容測(cè)量產(chǎn)生干擾，導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確或無(wú)法測(cè)量。在這種情況下，我們應(yīng)該將電容器移到一個(gè)相對(duì)穩(wěn)定的環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量，以避免干擾。

綜上所述，萬(wàn)用表測(cè)電容沒(méi)有反應(yīng)可能是由于電容器沒(méi)有存儲(chǔ)電荷、測(cè)量范圍選擇錯(cuò)誤、測(cè)試引腳連接錯(cuò)誤、電容器損壞或者測(cè)量環(huán)境干擾等原因所導(dǎo)致。