據(jù)悉，深圳市時(shí)創(chuàng)意電子股份有限公司近日在芯片領(lǐng)域取得新進(jìn)展，其“上下料裝置和芯片檢測(cè)機(jī)” 專利已獲得國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局正式公布。該項(xiàng)專利申請(qǐng)自2024年3月19日提交，專利編號(hào)為CN117719879A。

此項(xiàng)發(fā)明提供了一種全新的上下料裝置和芯片檢測(cè)機(jī)設(shè)計(jì)方案。其中，上下料裝置由殼體、支撐桿、多個(gè)吸附件及控制組件組成。殼體內(nèi)部分成兩個(gè)空間，一側(cè)設(shè)有第一開口。支撐桿安裝在殼體內(nèi)，并與控制組件相連接。而沿著支撐桿走向第一開口的方向以及長(zhǎng)度方向，則各有數(shù)個(gè)吸附件與控制組件連接。這些吸附件能夠有效地吸附芯片。通過(guò)這種設(shè)計(jì)方法，不僅可以大幅提升上下料效率，更可有效降低人工操作的負(fù)擔(dān)。