電子元器件失效分析技術(shù)
以失效分析為目的的電測(cè)技術(shù)
電測(cè)在失效分析中的作用
重現(xiàn)失效現(xiàn)象，確定失效模式，縮小故障隔離區(qū)，確定失效定位的激勵(lì)條件，為進(jìn)行信號(hào)尋跡法失效定位創(chuàng)造條件
電測(cè)的種類和相關(guān)性
連接性失效、電參數(shù)失效和功能失效
審核編輯：黃飛
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原文標(biāo)題：【經(jīng)典】電子元器件失效分析及案例
文章出處：【微信號(hào)：現(xiàn)代電子裝聯(lián)工藝技術(shù)交流平臺(tái)，微信公眾號(hào)：現(xiàn)代電子裝聯(lián)工藝技術(shù)交流平臺(tái)】歡迎添加關(guān)注！文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
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