91欧美超碰AV自拍|国产成年人性爱视频免费看|亚洲 日韩 欧美一厂二区入|人人看人人爽人人操aV|丝袜美腿视频一区二区在线看|人人操人人爽人人爱|婷婷五月天超碰|97色色欧美亚州A√|另类A√无码精品一级av|欧美特级日韩特级

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

我的板子為什么測不了損耗

edadoc ? 來源:edadoc ? 作者:edadoc ? 2024-05-06 17:30 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

高速先生成員--周偉

最近我們珠海高速實驗室正式對外開放了,我們也同步推出了關(guān)于高速信號測試、高速儀器的一些視頻。

大家知道我們有儀器后,很多熱心的小伙伴們就以為我們開掛了,什么都能測,然后就會來咨詢我們,很多都是希望我們能幫他們測一下實物板上的線路損耗,包括cable的損耗等;老實說,我們也很想測,但真的很難,臣妾做不到?。∠旅婧唵螀R總一些熱心小伙伴們的測試需求。

wKgZomY4ozSAAceqAABn9cWaTpk088.jpg

關(guān)于損耗的測試需求真的是五花八門,今天我們就來一起簡單普及下為什么實物板可以測試阻抗而不能測損耗。

我們先來了解下測試阻抗和損耗的儀器,目前我們珠海高速實驗室采用的是Keysight的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀N5227B,頻率從10MHz到67GHz,如下圖所示:

wKgaomY4ozSAFJOYAAaMBPUjZNM480.jpg

而我們深圳高速實驗室采用的是羅德與施瓦茨的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀ZVA67,頻率也是從10MHz到67GHz,如下圖所示:

wKgZomY4ozWAHRF3AAfl0-kmDrU307.jpg

待測物(后面用俗稱DUT表示)和儀器之間就需要通過長短不一的各種線纜(后面用俗稱Cable表示)來對接,如下圖所示:

wKgZomY4ozaAOmR-AARjAlbO0Ek379.jpg

Cable一端接儀器,另一端接DUT,而DUT的種類就更加繁多,也就是大家的待測產(chǎn)品,實在是太多了,有實物PCB板,也有連接器、線纜、芯片及測試板等,下面我們簡單舉個常規(guī)的例子,實物PCB板和帶SMA頭的測試板,如下圖所示:

wKgaomY4ozaAdf55AADiGsBbx2I040.jpg

wKgaomY4oz6APFuCAABxo1onKyY079.jpg

如果是帶SMA頭的測試板,只需要直接將前面的Cable和板子上的SMA頭對接(當(dāng)然接口大小需要一致,常規(guī)都是比如3.5mm,2.92mm,2.4mm和1.85mm等幾種規(guī)格的接口尺寸,如果不一致還需要采用轉(zhuǎn)接頭),接好后就可以直接進(jìn)行阻抗和損耗的測試了。如果是測試DUT的損耗,一般還會采用去嵌的方式將SMA頭的損耗去嵌掉,去嵌完的數(shù)據(jù)就是DUT的損耗數(shù)據(jù),如果不去嵌就會帶入SMA頭的影響。關(guān)于去嵌不是我們今天本文的重點,在此先跳過,不再贅述。連接好的圖片如下所示:

wKgZomY4oz6AAWd8AABm17M4vB4617.jpg

那如果是實物PCB板或者其他的沒有帶SMA頭的DUT需要測試損耗,首先就需要考慮怎么和儀器對接的問題,然后如果可以對接了,還要考慮中間引入進(jìn)來的線纜或者探頭本身的損耗大小,能否校準(zhǔn)(或去嵌)掉這個損耗,因為損耗的測試一般都是需要有一定的精度,同時還需要排除掉其他物體的影響,否則測試就沒有太大的意義(除非對比性測試)。

而阻抗測試就相對簡單很多,因為阻抗測試是通過時域反射原理,只需要在任何一端有開路的地方測試,實際操作時只需要有探頭一端接Cable,另一端可以接觸到DUT測試點或者焊盤就可以了,我們測試阻抗的探頭如下圖所示。

wKgaomY4oz-AKyYyAABcPc4Y2Nk028.jpg

這個時候可能大家就會有疑問了,那為什么這個探頭可以用來測阻抗卻不能用來測試損耗呢,同樣可以連上???這就涉及到損耗和阻抗本身的測試機(jī)制了,簡單來說:一是損耗測試需要一定的精度,這個探頭本身帶來的損耗太大且沒法去嵌,所以測出來的結(jié)果是包含了這個探頭的損耗在里面;二是損耗需要從DUT兩端測試,這就意味著兩端需要一樣的這種探頭,得出來的損耗參數(shù)就更大了;三是這種探頭依靠手來把持,接觸不是很穩(wěn)定,不同的人握力不一樣,所以不同時間不同人員測試出來的數(shù)據(jù)也有差異,對應(yīng)損耗測試的精度是不可接受的,所以很多情況下就不能依靠這種探頭來進(jìn)行損耗測試。

可能還有人會說,不能用手持式探頭,那可以用探針臺啊,探針臺的探針是可以校準(zhǔn)去嵌的。話是這么說,但探針臺的測試受限條件也很多,首先需要光板測試且板子平整,其次板子上pin的間距尺寸需要匹配探頭的間距等,還有就是如果一端是芯片,一端是連接器的信號,這個就沒法點測了。關(guān)于探針臺的介紹,我們的視頻號也有介紹過了,沒看過的在高速先生視頻號搜索觀看。

總之,沒有帶SMA頭的PCB和PCBA的都可以,如果想比較準(zhǔn)確的測試損耗或者S參數(shù),總體還是有難度的,這下大家明白了嗎?

本期提問

我就想測試實物板的損耗,如果還在設(shè)計階段,有什么好的辦法嗎?歡迎大家暢所欲言。

審核編輯 黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 測試
    +關(guān)注

    關(guān)注

    9

    文章

    6213

    瀏覽量

    131383
  • 阻抗
    +關(guān)注

    關(guān)注

    17

    文章

    988

    瀏覽量

    49257
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點推薦

    PCB板上你是普通油墨,是低損耗油墨,能一樣嗎?

    。然后你們又覺得表層的走線線寬一般都比內(nèi)層的走線寬,銅厚經(jīng)過電鍍后也比正常內(nèi)層的0.5Oz要厚,怎么看走線的損耗都比內(nèi)層的要小才對。 但是會點SI理論和實踐的朋友們其實又會立馬出來反駁,表層一般會鋪綠
    發(fā)表于 01-23 11:40

    PCB板上你是普通油墨,是低損耗油墨,能一樣嗎?

    其實真的不懂了:表層走高速線銅厚又厚,線寬也寬,還不用打過孔,正常來說應(yīng)該比內(nèi)層走線損耗小很多啊,為什么高速先生老說表層走線損耗大啊?
    的頭像 發(fā)表于 01-23 11:39 ?114次閱讀
    PCB板上你是普通油墨,<b class='flag-5'>我</b>是低<b class='flag-5'>損耗</b>油墨,能一樣嗎?

    信維低損耗MLCC電容,提升電路效率優(yōu)選

    信維低損耗MLCC電容在提升電路效率方面表現(xiàn)優(yōu)異,其核心優(yōu)勢體現(xiàn)在 低損耗特性、高頻響應(yīng)能力、小型化設(shè)計、高可靠性 以及 廣泛的應(yīng)用適配性 ,具體分析如下: 一、低損耗特性直接提升電路效率 低介質(zhì)
    的頭像 發(fā)表于 11-24 16:30 ?884次閱讀

    無線充電寶損耗大嗎

    無線充電存在能量損耗,主要因電磁轉(zhuǎn)換和環(huán)境因素,優(yōu)化需對齊、減負(fù)、環(huán)境管理。
    的頭像 發(fā)表于 10-18 08:26 ?1108次閱讀
    無線充電寶<b class='flag-5'>損耗</b>大嗎

    如何平衡IGBT模塊的開關(guān)損耗和導(dǎo)通損耗

    IGBT模塊的開關(guān)損耗(動態(tài)損耗)與導(dǎo)通損耗(靜態(tài)損耗)的平衡優(yōu)化是電力電子系統(tǒng)設(shè)計的核心挑戰(zhàn)。這兩種損耗存在固有的折衷關(guān)系:降低導(dǎo)通
    的頭像 發(fā)表于 08-19 14:41 ?2699次閱讀

    SiC MOSFET模塊的損耗計算

    為了安全使用SiC模塊,需要計算工作條件下的功率損耗和結(jié)溫,并在額定值范圍內(nèi)使用。MOSFET損耗計算與IGBT既有相似之處,也有不同。相對IGBT,MOSFET可以反向?qū)ǎ垂ぷ髟谕秸髂J?。本文簡要介紹其損耗計算方法。
    的頭像 發(fā)表于 06-18 17:44 ?4840次閱讀
    SiC MOSFET模塊的<b class='flag-5'>損耗</b>計算

    SiC MOSFET計算損耗的方法

    本文將介紹如何根據(jù)開關(guān)波形計算使用了SiC MOSFET的開關(guān)電路中的SiC MOSFET的損耗。這是一種在線性近似的有效范圍內(nèi)對開關(guān)波形進(jìn)行分割,并使用近似公式計算功率損耗的方法。
    的頭像 發(fā)表于 06-12 11:22 ?2508次閱讀
    SiC MOSFET計算<b class='flag-5'>損耗</b>的方法

    板子功耗高的原因有哪些

    低功耗藍(lán)牙應(yīng)用對功耗要求越低越好,功耗越低電池續(xù)航時間就越長,用戶體驗就越好。當(dāng)你發(fā)現(xiàn)你板子功耗偏高時,建議按照如下步驟進(jìn)行自檢: 確認(rèn)理論功耗值。Bluetooth LE功耗跟廣播間隔或者連接間隔
    的頭像 發(fā)表于 05-12 09:19 ?832次閱讀
    <b class='flag-5'>板子</b>功耗高的原因有哪些

    PCB問這個問題好怕你們笑:為啥損耗曲線是“彎”的???

    了點SI的知識。SI雖然不能說非常非常的高深莫測,但是對于初學(xué)者來說,遇到三五個一直解釋不了的問題也實屬正常! 這個問題其實是小麗在仿真某項目的傳輸線的損耗時遇到的。在特定的板材,疊層和線寬線距情況下
    發(fā)表于 04-21 16:48

    PCB的介質(zhì)損耗角是什么“∠”?

    ,是個宏觀物理量。介質(zhì)損耗置于交流電場中的介質(zhì),以內(nèi)部發(fā)熱(溫度升高)形式表現(xiàn)出來的能量損耗。通常用希臘字母 ε 表示,是描述介質(zhì)在電場中響應(yīng)的一個物理量。它是介質(zhì)中儲存電場能量的能力與真空中的儲存能力
    發(fā)表于 04-21 10:49

    用HD6000異頻介質(zhì)損耗測試儀測量介質(zhì)損耗角方法

    介質(zhì)損耗角正切的測定一、介質(zhì)損失角正切值的性質(zhì)介電損耗角正切。表征電介質(zhì)材料在施加電場后介質(zhì)損耗大小的物理量,以tgδ表示,δ是介電損耗角。它表征每個周期內(nèi)介質(zhì)
    的頭像 發(fā)表于 04-02 09:40 ?1207次閱讀
    用HD6000異頻介質(zhì)<b class='flag-5'>損耗</b>測試儀測量介質(zhì)<b class='flag-5'>損耗</b>角方法

    逆變電路中功率器件的損耗分析

    在研究逆變電路的損耗時,所使用的功率器件選型也非常重要。不僅要實現(xiàn)預(yù)期的電路工作和特性,同時還需要進(jìn)行優(yōu)化以將損耗降至更低。本文將功率器件的損耗分為開關(guān)損耗和導(dǎo)通
    的頭像 發(fā)表于 03-27 14:20 ?2007次閱讀
    逆變電路中功率器件的<b class='flag-5'>損耗</b>分析

    MOSFET開關(guān)損耗計算

    。 為了滿足節(jié)能和降低系統(tǒng)功率損耗的需求,需要更高的能源轉(zhuǎn)換效率,這些與時俱進(jìn)的設(shè)計規(guī)范要求,對于電源轉(zhuǎn)換器設(shè)計者會是日益嚴(yán)厲的挑戰(zhàn)。為應(yīng)對前述之規(guī)范需求,除使用各種新的轉(zhuǎn)換器拓?fù)?topology
    發(fā)表于 03-24 15:03

    如何降低開關(guān)電源空載損耗

    摘要: 在現(xiàn)在能源越來越緊張,是提倡電源管理和節(jié)省能量的時代,降低電源供應(yīng)器在待機(jī)時的電能消耗顯得越來越重要和緊迫。目前已經(jīng)有一些可以降低開關(guān)電源供應(yīng)器在極輕載或無載時的功率損耗,和其它額定損耗
    發(fā)表于 03-17 15:25

    基于LTSpice的GaN開關(guān)損耗的仿真

    基于LTSpice的GaN開關(guān)損耗的仿真
    的頭像 發(fā)表于 03-13 15:44 ?2686次閱讀
    基于LTSpice的GaN開關(guān)<b class='flag-5'>損耗</b>的仿真