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行業(yè)領(lǐng)先!帶溫度保護、超高精度過流檢測的單節(jié)鋰電池保護芯片

德微辰芯 ? 來源:jf_48033273 ? 作者:jf_48033273 ? 2024-09-05 11:56 ? 次閱讀
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引言

在當今快節(jié)奏的科技生活中,隨著便攜式電子設(shè)備已成為我們?nèi)粘2豢苫蛉钡囊徊糠?,這些設(shè)備對鋰電池續(xù)航能力和安全性的要求也越來越高,《便攜式電子產(chǎn)品用鋰離子電池和電池組―安全要求》(GB 31241-2014)中明確強調(diào)了溫度保護和精準的過流保護的重要性。深圳市德微辰芯技術(shù)有限公司立足于最新的市場需求,由原TI技術(shù)專家、現(xiàn)德微辰芯CTO帶隊與晶圓廠共同合作,通過不斷的技術(shù)創(chuàng)新,已成功設(shè)計并量產(chǎn)出兩款能助力電池符合國標(GB31241-2022),帶溫度保護的單節(jié)鋰電池保護芯片——DV6011(過流精度為±0.5mv,精密電阻檢流型)、DV6205(MOS內(nèi)阻檢流型)。產(chǎn)品可應(yīng)用于智能手機、數(shù)碼產(chǎn)品、智能穿戴、便攜式設(shè)備等市場。


“集頂尖科技,性能至上”——DV6011(精密電阻檢流型)

核心亮點

  • 高精度高低溫保護 :DV6011特別設(shè)計了精準的溫度監(jiān)測機制,可實現(xiàn)高溫充電保護、高溫充放電保護、低溫充電保護、低溫充放電保護,保護精度已達業(yè)內(nèi)頭部水平± 3℃
  • 超高精度的過流檢測: DV6011創(chuàng)新性的開發(fā)一種新型的低電壓檢測技術(shù),內(nèi)部增加補償電路,使過流精度一直處于±0.5mv范圍內(nèi) 精度較日系競品提升30% ,極大降低了LPS等項目設(shè)計難度。低檢測電壓可使用更低的檢流電阻,解決快充的發(fā)熱問題。
  • 超低功耗: DV6011采用業(yè)內(nèi)先進的“亞閾值”控制技術(shù),典型耗電僅為 2uA, 保證內(nèi)部模塊功能前提下降低耗電,從而減少了整個芯片的功耗,已達到行業(yè)領(lǐng)先水平。
  • 雙IC方案: DV6011可實現(xiàn)雙IC保護(主、次保護)方案,在快速充電過程中更安全、更全面守護電池安全。
  • ESD防護強: DV6011通過優(yōu)化ESD泄放管結(jié)構(gòu)實現(xiàn)了性能與面積的最佳平衡,同時在“ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2017”ESD測試標準下,DV6011的 HBM模式可達±4kV(Class 3A) ,遠超消費品±2kV的標準,極大降低生產(chǎn)時因ESD損壞的概率,提高產(chǎn)線良率。
  • 外部控制: DV6011提供外部控制引腳CTL,可以通過在CTL上添加不同的信號進行充放電控制,極大方便用戶進行產(chǎn)品調(diào)試和產(chǎn)品特色設(shè)計(細節(jié)需查閱最新DV6011規(guī)格書)。

圖片1 DV6011應(yīng)用線路圖.png

“DV6011青春版”——DV6205(MOS內(nèi)阻檢流型)

核心亮點

  • DV6025 在保留DV6011高精度高低溫保護、超低功耗、ESD防護核心亮點基礎(chǔ)上,根據(jù)客戶需求增加了運控制功能,并通過改良工藝解決了實際生產(chǎn)中常遇到的休眠問題。
  • 船運功能: DV6205提供的“船運功能”,可有效降低運輸中的整體消耗電流,非常利于小容量鋰電池和需長途運輸?shù)膽?yīng)用環(huán)境。同時,DV6205 的船運功能增加了防誤觸發(fā)的判斷機制,可以極大概率避免產(chǎn)線生產(chǎn)時誤進入船運模式的情況。
  • 解決生產(chǎn)問題:DV6205通過在芯片內(nèi)部添加防護層和優(yōu)化芯片生產(chǎn)制造工藝,極大降低了生產(chǎn)時芯片異常休眠概率,根本上解決了產(chǎn)線生產(chǎn)中因測試、高溫等環(huán)境下產(chǎn)生的過充精度漂移問題。
    圖片2 DV6205應(yīng)用線路圖.png

名詞解釋:

亞閾值:MOSFET的一種工作狀態(tài)。我們一直假設(shè):當柵源電壓Vgs下降到低于Vth時器件會突然關(guān)斷。實際上當MOSFET的Vgs≈Vth,一個“弱”的反型層仍然存在,并有一些源漏電流①。該種工作狀態(tài)使得MOSFET獲得更大的增益,非常利于低電壓,低功耗的應(yīng)用。

參考文獻

[1]畢查德?拉扎維. 模擬CMOS集成電路設(shè)計[M]. 西安: 西安交通大學出版社, 2003

審核編輯 黃宇

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