以下文章來源于亮說材料,作者山中夜雨人
IGBT模塊的環(huán)氧灌封膠應(yīng)用工藝是一個專業(yè)性很強的領(lǐng)域,涉及到材料的選擇、配比、混合、脫泡、灌封、固化等多個步驟。

以下是一些關(guān)鍵的應(yīng)用工藝細節(jié):
1. 材料選擇:
IGBT模塊封裝常用的環(huán)氧灌封膠是雙組分形式,由特種環(huán)氧樹脂、無機填料和助劑等組成。這些材料需要具備耐高溫、高絕緣性、低固化收縮率等特性,以確保模塊的長期可靠性和穩(wěn)定性。

2. 配比和混合:
環(huán)氧灌封膠的A組分和B組分需要按照一定的質(zhì)量比進行混合。例如,某些環(huán)氧灌封膠的A組分與B組分的質(zhì)量比可能為1:1或4:1。混合過程中,需要確保均勻,以避免固化過程中產(chǎn)生氣泡或不均勻的固化物。

3. 脫泡:
混合后的環(huán)氧灌封膠需要在真空條件下進行脫泡處理,以去除混合過程中產(chǎn)生的氣泡。脫泡通常在低于1100 Pa的負壓下進行,時間可能為5至10分鐘 。
4. 灌封:
脫泡后的環(huán)氧灌封膠需要緩慢倒入預(yù)先準備好的IGBT模塊中。這個過程需要控制灌封膠的流量和速度,以避免產(chǎn)生氣泡或溢出。

5. 固化:
灌封后的IGBT模塊需要按照廠家推薦的固化條件進行加熱固化。固化過程可能包括階梯升溫固化,例如80℃/1h+125℃/2h+140℃/3h,或者單一溫度固化,如120℃/10h。
6. 環(huán)境測試:
固化后的IGBT模塊需要進行一系列的環(huán)境測試,包括高溫存儲、低溫存儲、溫度循環(huán)測試、功率循環(huán)等,以驗證環(huán)氧灌封膠的性能和封裝的可靠性。
7. 性能要求:
環(huán)氧灌封膠的性能要求包括低粘度、低固化收縮率、低熱膨脹系數(shù)、高玻璃化轉(zhuǎn)變溫度和良好的熱穩(wěn)定性。這些性能指標直接影響IGBT模塊的電氣性能和機械保護。
| 種類 | 膠1 | 膠2 | ||
| 組分 | 樹脂 | 固化劑 | 樹脂 | 固化劑 |
| 外觀 | 黑色流體 | 白色流體 | 黑色流體 | 淡黃色液體 |
| 比重(23℃) | 1.71~1.76 | 1.71~1.76 | 1.78 | 1.16 |
| 黏度(Pa.s, 25℃) | 25~30 | 22~32 | 200~400 | 0.045~0.046 |
| 混合比(質(zhì)量/體積) | 1:1 | 4:1 | ||
| 混合黏度(Pa.s, 25℃) | 22~32 | 4~6 | ||
|
凝膠時間 (125℃, min) |
15~20 | 30~40 | ||
| 固化工藝(h/℃) | 1/80+2/125+3/140 | 120/10 | ||
| 硬度(邵氏D,25℃) | 95 | 90 | ||
| 熱變形溫度(TMA,℃) | 130 | 122 | ||
| 拉伸強度(MPa) | 40~50 | 30~40 | ||
| 斷裂伸長率(%) | 1~2 | 3~5 | ||
| 吸水率(23℃24h,%) | 0.20 | 0.24 | ||
| CTE(ppm)25~200℃ | 38~42 | 57 | ||
| 熱導率(W/m.K) | 0.6~0.7 | 0.3 | ||
| 阻燃性(UL94) | V-0 | V-0 | ||
| 介電強度(kV/mm) | 21 | 21 | ||
| 體積電阻率(Ω.cm) | 1015 | 1015 | ||
通過上述工藝步驟,環(huán)氧灌封膠在IGBT模塊封裝中的應(yīng)用可以提供優(yōu)異的機械保護、化學和環(huán)境抵抗力、電氣絕緣性、熱穩(wěn)定性,并防止氧化和腐蝕,從而提高組件的長期穩(wěn)定性和可靠性。
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原文標題:大功率IGBT環(huán)氧灌封膠應(yīng)用工藝介紹
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